用于满天星导航模拟的受控码集中/分布式管理配置方法

    公开(公告)号:CN113740886A

    公开(公告)日:2021-12-03

    申请号:CN202111298670.2

    申请日:2021-11-04

    IPC分类号: G01S19/23

    摘要: 本发明涉及卫星导航测试领域,特别是指一种用于满天星导航模拟的受控码集中/分布式管理配置方法。仿真管理单元根据满天星导航模拟需求计算生成配置参数和控制参数,分别下发给受控码提取及分发单元和千兆交换机;受控码提取及分发单元接收配置参数转发给受控码生成模块,万兆交换机将输入的受控码数据转发给受控码转发处理模块;千兆交换机生成对应的控制参数下发给N路受控转发处理模块;并输出给卫导模拟信号生成单元;N路卫导模拟信号生成N路受控卫星导航模拟信号;从而通过配置1个受控码生成模块实现多路授控卫星导航模拟信号满天星分发,减少受控码生成模块的使用数量,提高受控码生成模块安全性,确保受控码生成模块管理安全高效。

    用于满天星导航模拟的受控码集中/分布式管理配置方法

    公开(公告)号:CN113740886B

    公开(公告)日:2022-02-11

    申请号:CN202111298670.2

    申请日:2021-11-04

    IPC分类号: G01S19/23

    摘要: 本发明涉及卫星导航测试领域,特别是指一种用于满天星导航模拟的受控码集中/分布式管理配置方法。仿真管理单元根据满天星导航模拟需求计算生成配置参数和控制参数,分别下发给受控码提取及分发单元和千兆交换机;受控码提取及分发单元接收配置参数转发给受控码生成模块,万兆交换机将输入的受控码数据转发给受控码转发处理模块;千兆交换机生成对应的控制参数下发给N路受控转发处理模块;并输出给卫导模拟信号生成单元;N路卫导模拟信号生成N路受控卫星导航模拟信号;从而通过配置1个受控码生成模块实现多路受控卫星导航模拟信号满天星分发;减少受控码生成模块的使用数量,提高受控码生成模块安全性,确保受控码生成模块管理安全高效。

    一种用于内外场测试使用的统型测试设备

    公开(公告)号:CN111337951B

    公开(公告)日:2020-08-25

    申请号:CN202010417821.0

    申请日:2020-05-18

    IPC分类号: G01S19/21

    摘要: 本发明公开了一种基于内外场测试使用的统型设备,通过软件配置,可以实现内外场测试全部设备功能。本发明通过提炼内外场测试设备的共性部分,实现统型硬件平台、统型软件系统以及内外场融合结构设计,从而实现内外场测试设备统型设计,解决了现有内外场测试设备种类和型号繁多、同一功能设备不能在内外场复用、系统集成困难、以及维护复杂等问题。

    一种快速测试天线阵方向图的方法

    公开(公告)号:CN107390039B

    公开(公告)日:2019-11-15

    申请号:CN201710724942.8

    申请日:2017-08-22

    IPC分类号: G01R29/10

    摘要: 本发明公开了一种快速测试天线阵方向图的方法,首先将信号源、标准接收机以及待测试的天线阵布局在微波暗室中,通过对待测试的天线阵进行编号并确定天线与角度之间的关系,再对微波暗室进行区域划分,按区域通过信号源向被测天线发送信号,然后通过标准接收机接收被测天线接收的信号,通过拟合绘制天线阵方向图。本发明能够快速简单地实现对天线阵方向图的测量,提高了工作效率;同时,还可以通过搭配不同的信号源以适用于不同类型天线阵列方向图的测量,通用性强。

    一种快速测试天线阵方向图的方法

    公开(公告)号:CN107390039A

    公开(公告)日:2017-11-24

    申请号:CN201710724942.8

    申请日:2017-08-22

    IPC分类号: G01R29/10

    摘要: 本发明公开了一种快速测试天线阵方向图的方法,首先将信号源、标准接收机以及待测试的天线阵布局在微波暗室中,通过对待测试的天线阵进行编号并确定天线与角度之间的关系,再对微波暗室进行区域划分,按区域通过信号源向被测天线发送信号,然后通过标准接收机接收被测天线接收的信号,通过拟合绘制天线阵方向图。本发明能够快速简单地实现对天线阵方向图的测量,提高了工作效率;同时,还可以通过搭配不同的信号源以适用于不同类型天线阵列方向图的测量,通用性强。

    用于暗室满天星测试系统的链路插损快速标定方法

    公开(公告)号:CN111208463B

    公开(公告)日:2023-03-07

    申请号:CN202010043843.5

    申请日:2020-01-15

    IPC分类号: G01R35/00

    摘要: 本发明涉及一种用于暗室满天星测试系统的链路插损快速标定方法,属于微波暗室室内天线阵抗干扰测试系统技术领域。通过频分方式同时标定所有链路,也即所有干扰源同时仿真一个导航频段内不同频率的频分单载波信号,并通过发射天线同时发射;最后通过频谱仪一次性读取所有的频分信号功率值,省去设置干扰源的时间和转动转台的时间,实现链路插损快速标定。本发明的有益效果在于,由于所有干扰源同时并行标定,所以标定时间大大缩短,N个干扰源,时间缩短为原来的1/N,效率提高了N倍。

    一种分离使用固定分区的低能耗复合欺骗干扰系统及方法

    公开(公告)号:CN115061160B

    公开(公告)日:2022-12-06

    申请号:CN202210979274.4

    申请日:2022-08-16

    IPC分类号: G01S19/21

    摘要: 本申请公开了一种分离使用固定分区的低能耗复合欺骗干扰系统及方法,所述系统包括接收天线阵列和干扰发生装置,接收天线阵列包括全向接收天线和多面对应不同空域范围的模拟相控天线阵列,用于当全向接收天线接收的导航信号包括授权信号时,按设定周期T离散式调整各模拟相控天线阵列相控参数对各空域范围中指定授权信号输出转发式数字中频基带信号波束;干扰发生装置用于当全向接收天线接收的导航信号包括有公开服务体制的民码信号时,同步产生生成式数字中频基带信号波束,将生成式和转发式数字中频基带信号波束两两合路后同步进行调整得到欺骗干扰射频信号并输出。本申请成本低、数据处理量少、体积小、节省能耗且频点覆盖范围广。

    满天星暗室全流程仿真与性能优化方法、装置及电子设备

    公开(公告)号:CN112685923B

    公开(公告)日:2021-06-08

    申请号:CN202110283724.1

    申请日:2021-03-17

    IPC分类号: G06F30/20

    摘要: 本发明公开了一种满天星暗室全流程仿真与性能优化方法、装置及电子设备,所述方法包括步骤:在设计阶段基于全要素影响因子优化模型进行满天星暗室性能的仿真与优化,获得优化后的满天星暗室设计性能仿真结果;在建设阶段基于性价比最大化模型对满天星暗室设计性能仿真结果进一步进行仿真与优化,获得优化后的满天星暗室建设性能仿真结果;在使用阶段基于智能匹配模型在满天星暗室建设性能仿真结果中自动筛选满足性能区域构建满足不同需求下的所需测试场景,并3D显示测试过程中各个组件状态及对应环境状态。本发明可确保系统仿真性能更直观真实,节约建设成本,缩短建设周期,大幅提高满天星暗室的性能和使用范围,充分发挥满天暗室最大效能。

    满天星暗室全流程仿真与性能优化方法、装置及电子设备

    公开(公告)号:CN112685923A

    公开(公告)日:2021-04-20

    申请号:CN202110283724.1

    申请日:2021-03-17

    IPC分类号: G06F30/20

    摘要: 本发明公开了一种满天星暗室全流程仿真与性能优化方法、装置及电子设备,所述方法包括步骤:在设计阶段基于全要素影响因子优化模型进行满天星暗室性能的仿真与优化,获得优化后的满天星暗室设计性能仿真结果;在建设阶段基于性价比最大化模型对满天星暗室设计性能仿真结果进一步进行仿真与优化,获得优化后的满天星暗室建设性能仿真结果;在使用阶段基于智能匹配模型在满天星暗室建设性能仿真结果中自动筛选满足性能区域构建满足不同需求下的所需测试场景,并3D显示测试过程中各个组件状态及对应环境状态。本发明可确保系统仿真性能更直观真实,节约建设成本,缩短建设周期,大幅提高满天星暗室的性能和使用范围,充分发挥满天暗室最大效能。

    基于微波暗室天线布局的抗干扰测试场景设计方法

    公开(公告)号:CN107491611B

    公开(公告)日:2021-02-26

    申请号:CN201710723676.7

    申请日:2017-08-22

    IPC分类号: G06F30/18 G06F30/20

    摘要: 本发明公开了一种基于微波暗室天线布局的抗干扰测试场景设计方法,在微波暗室内进行抗干扰测试场景中天线的布局,具体包括以下步骤:根据实际卫星星座信号空时特性以及抗干扰测试对卫星星座的模拟需求建立导航天线布局;根据实际干扰星座信号时空特性以及干扰测试场景要求建立干扰天线布局;复用干扰天线和导航天线,外部输入通过合路器和开关来组合输出;建立移动干扰天线布局。本发明能够使微波暗室的测试环境能够涵盖各种典型干扰场景,以测试各种导航设备的抗干扰技术性能;克服了现有终端测试方法所存在的缺陷,大大提高了工作效率。