太赫兹光谱测定装置及方法和非线性光学晶体检查装置及方法

    公开(公告)号:CN103674245A

    公开(公告)日:2014-03-26

    申请号:CN201310384997.0

    申请日:2013-08-29

    Inventor: 北村茂

    Abstract: 本发明提供了一种太赫兹光谱测定装置及方法和非线性光学晶体检查装置及方法。当从激励光光源施加的两种不同波长的光束入射在具有固有非线性系数的非线性光学晶体上时,非线性光学晶体生成THz波和其中两种不同波长的光束已经根据非线性系数进行了波长转换的SHG波,THz波是利用与晶体自身具有的非线性系数的差频率生成而获得的。生成的THz波通过样本或从其反射并且由THz检测器检测。SHG波由SHG检测器检测。控制单元从THz检测器获取THz测量值,从SHG检测器获取SHG测量值S,并且使用在没有样本的情况下获取的基线THz测量值TB和基线SHG测量值SB来利用(T/S)/(TB/SB)执行基线校正。

    试样的分析方法及其装置
    16.
    发明公开

    公开(公告)号:CN101821610A

    公开(公告)日:2010-09-01

    申请号:CN200880110609.7

    申请日:2008-10-29

    CPC classification number: G01N21/253 G01N21/07 G01N21/78 G01N2021/0325

    Abstract: 一种试样分析方法,其包括将光照射到分析工具的反应用池(34A)的试样(BL)与试剂(40)的反应部分以取得显示了该部分的光学特性的数据(D0)的步骤,该方法进一步包括:在将试样(BL)供给到没有设置试剂(40)的池(34B)的状态下照射光以获得显示了该部分的光学特性的参照数据(D1)的步骤,将光照射到与所述分析工具当中形成了池(34B)的部分相比除了池的有无以外其截面结构大致相同的基准部(34C)上,取得显示了该部分的光学特性的参照数据(D2)的步骤,以及根据参照数据(D1)、(D2),求出显示了与试剂(40)反应之前的试样(BL)的光学特性的数据(D3)的步骤。

    粒子的磁标记方法和标记装置

    公开(公告)号:CN107884562B

    公开(公告)日:2020-10-16

    申请号:CN201710938919.9

    申请日:2017-09-29

    Abstract: 本发明涉及一种粒子的磁标记方法和标记装置。本发明提供一种磁标记方法,能够高效地在过滤器上对过滤器上捕获的粒子进行磁标记。所述磁标记方法通过磁珠对具有多个贯通孔的过滤器上捕获的粒子进行标记,包括:向捕获了粒子的过滤器面供应含有磁珠的悬浮液;通过从所述过滤器面向另一侧过滤器面输送所述悬浮液的一部分,来形成含有所述磁珠的液体接触所述过滤器的双面的状态;以及将含有所述磁珠的液体从所述另一侧过滤器面向捕获了所述粒子的过滤器面的方向逆向输送。

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