一种测量500kV主变高压套管介质损耗因数tanδ的方法

    公开(公告)号:CN106990297A

    公开(公告)日:2017-07-28

    申请号:CN201710405481.8

    申请日:2017-06-01

    CPC classification number: G01R27/2694

    Abstract: 本发明公开了一种测量500kV主变高压套管介质损耗因数tanδ的方法,在解开主变中性点套管的一次接地铜排后,从中性点套管一次回路处施加变频抗干扰介质损耗测量仪高压屏蔽线交流试验电压10kV,所经一次回路包括主变中性点套管、高压绕组、高压套管、500kV GIS、高压电缆,变频抗干扰介质损耗测量仪低压芯线从主变高压套管末屏处采集电流,变频抗干扰介质损耗测量仪即可自动计算tanδ,本发明减免了工作平台搭设、GIS气室SF6抽充、GIS内部软连接拆装等大量工作,在降低工作人员安全风险的同时大大缩短了工期,同时也排除了对GIS精密设备的损坏风险,解决了目前测量主变高压套管tanδ难度大的问题。

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