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公开(公告)号:CN117866506A
公开(公告)日:2024-04-12
申请号:CN202311815200.8
申请日:2023-12-26
Applicant: 上海卫星装备研究所
IPC: C09D163/00 , C09D183/04 , C09D183/16 , C09D7/62
Abstract: 本发明提供一种用于空间质子辐射防护与热控一体化的涂料及其制备方法,所述涂料包括如下重量份数的各组分:涂层粘结剂树脂1份~100份;表面生长CNTs的金属颗粒10份~60份;表面生长CNTs的金属颗粒,CNTs对金属包覆率大于90%;制备方法包括将涂层粘结剂树脂溶解在有机溶剂中稀释到20‑25%wt,加入表面生长CNTs的金属颗粒,混合搅拌均匀获得所述涂料。将所述涂料在基材表面喷涂,在100℃~150℃下固化12~36h,可得辐射防护与热控一体化涂层。本发明解决了现有的辐射防护金属材料防护效率低,在使用时与热控系统产生的冲突,且包覆过程施工工艺较为复杂的问题。
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公开(公告)号:CN117773859A
公开(公告)日:2024-03-29
申请号:CN202311630275.9
申请日:2023-11-30
Applicant: 上海卫星装备研究所
Abstract: 本发明提供了一种涉及真空设备测试领域真空辐射环境使用的自动旋转样品台,包括底座、支撑架、电机支架、转盘以及压片,转盘上设有多个压片,转盘连接于支撑架上,支撑架和电机支架分别连接于底座上,电机支架上设有驱动装置,驱动装置驱动转盘转动,对压片上的样品进行测试。本发明中转盘以联轴器与减速器连接的,不含轴承,无需润滑;整体结构布局合理,成本低,可满足多种测试条件,如真空质子、电子、紫外,原子氧等设备内检测;通过驱动装置实现转盘的转动角度可调,且转盘上的夹片可拆卸,便于安装测试样,实现多个样品自动转动、检测,测试效率高。
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公开(公告)号:CN117005112A
公开(公告)日:2023-11-07
申请号:CN202310845274.X
申请日:2023-07-10
Applicant: 上海卫星装备研究所
IPC: D04H1/728 , D04H1/4318 , D01F1/10
Abstract: 本发明公开一种改性氧化石墨烯纳米材料增强散热薄膜及其制备方法,包括如下步骤:配制氧化石墨烯、纳米氧化锌、二氧化钛、纳米陶瓷微珠、聚乙二醇的混合溶液,烧结后获得“半包覆”结构的杂化纳米材料;将杂化纳米材料、酰胺溶剂、聚偏氟乙烯配置成前驱体纺丝溶液,采用静电纺丝方法制备杂化纤维膜;经过冷压、热压加工得到柔性散热薄膜材料。本发明制得的薄膜的太阳吸收比为0.03‑0.06、半球发射率为0.88‑0.91、拉伸强度101‑112MPa、总质损TML
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公开(公告)号:CN115536947B
公开(公告)日:2023-08-11
申请号:CN202211253707.4
申请日:2022-10-13
Applicant: 上海卫星装备研究所
Abstract: 一种用于空间带电粒子总剂量辐射防护的复合材料及其制备方法,所述复合材料包括乙烯丙烯共聚物1份~100份、负载金属元素的氧化铝粉末10份~60份、抗氧剂0.1~0.5份;所述负载金属元素的氧化铝粉末中,其金属元素的负载量按重量比计为10%~40%;本发明解决了现有金属屏蔽材料密度大,重量大,采用聚乙烯掺杂纳米材料制备的辐射防护材料使用温度较低、工艺较为复杂的问题。
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公开(公告)号:CN116183475A
公开(公告)日:2023-05-30
申请号:CN202211695405.2
申请日:2022-12-28
Applicant: 上海卫星装备研究所
IPC: G01N17/00
Abstract: 本发明涉及空间特殊环境的地面模拟技术领域内的一种原子氧‑紫外环境综合模拟实验装置及其实验方法,包括真空容器、分子泵、样品台、光学性能检测机构、原子氧源、以及紫外辐射源;原子氧源产生的束流通过中性化板垂直照射在安装于样品载台上的样品盘上,近紫外辐射源产生的辐射源以和中性化板成预定夹角的方式穿过并照射在样品盘上,原子氧源和紫外辐射源独立控制,光学性能检测机构用于实现原位测量。本发明通过使样品处于原子氧、紫外或原子氧和紫外同时存在的环境中,根据要求进行单因素辐照实验或综合辐照实验,实现空间环境在地面的综合模拟,同时通过移动样品台进行光学性能原位测试,切实满足了卫星表面涂层、薄膜等材料的辐射试验需求。
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公开(公告)号:CN112071357A
公开(公告)日:2020-12-11
申请号:CN202010879924.9
申请日:2020-08-27
Applicant: 上海卫星装备研究所
IPC: G11C29/56
Abstract: 本发明提供了一种基于FPGA的SRAM存储器充放电效应测试系统及方法,包括:测试单元;所述测试单元包括:PC机、上位机、下位机、充放电效应模拟源、电磁屏蔽单元;所述电磁屏蔽单元包括:金属板、法拉第笼;所述PC机通过串口与上位机相连;所述上位机通过屏蔽线与下位机相连;所述下位机安放于模拟源环境中;所述PC机、上位机、电源系统安装于电磁屏蔽单元中。本发明首次提出SRAM存储器充放电效应测试方法,利用本发明所述的测试方法能够实现对SRAM存储器由充放电效应产生的故障进行测试。
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