一种用于沟槽宽度定值的边缘定位方法

    公开(公告)号:CN111288900B

    公开(公告)日:2022-01-14

    申请号:CN202010238600.7

    申请日:2020-03-30

    Abstract: 本发明公开了一种用于沟槽宽度定值的边缘定位方法,包括:建立遮挡孔径点扩散函数及边缘遮挡共焦成像模型;利用边缘遮挡共焦成像模型计算理想沟槽强度像,并进行归一化处理,获得理想沟槽归一化强度像;提取理想沟槽归一化强度像复振幅的轮廓线,找到沟槽边缘与归一化强度像交点的强度值INor;从实际测量三维数据中提取沟槽下表面轴向包络曲线,通过质心法确定沟槽下表面准焦位置及沟槽下表面准焦图像并归一化,得到实际测量的沟槽归一化强度像;寻找实际测量获得的沟槽归一化强度像中强度值为INor的坐标点,该点对应的横向位置即为实际测量中沟槽边缘位置,进而可以确定沟槽宽度,为反射式共焦显微镜提供一种更加准确且合理的沟槽宽度定值方法。

    基于编码孔径和空间光调制器的物体相位恢复方法

    公开(公告)号:CN109410153B

    公开(公告)日:2021-11-16

    申请号:CN201811497956.1

    申请日:2018-12-07

    Inventor: 刘俭 李勇 王伟波

    Abstract: 一种基于编码孔径和空间光调制器的物体相位恢复方法,属于相位恢复成像领域。本发明解决了传统相位恢复算法物体需小于探测面的问题。本发明首先在样品和探测器之间依次放置一个编码孔径和一个空间光调制器;然后利用准直部分相干光照明样品,通过编码孔径和空间光调制器被探测器接收;再次,调制空间光调制器改变光场的光程以调制传播到探测器平面的距离差,产生不同的频谱被探测器接收;最后通过相位恢复算法和压缩传感算法恢复样品的复振幅。本发明可以一次恢复相当于探测面大小的样品并且不需要扫描。

    变焦共聚焦光镊显微成像装置和方法

    公开(公告)号:CN108020505B

    公开(公告)日:2020-07-03

    申请号:CN201711240871.0

    申请日:2017-11-30

    Abstract: 变焦共聚焦光镊显微成像装置和方法,属于光学显微成像与光学操控技术领域。本发明专利的技术特点是:装置包括:共聚焦照明模块、共聚焦轴向调焦模块、共聚焦扫描模块、共聚焦探测模块和光镊聚焦模块。本发明在常规光镊显微系统中增加由偏振分光镜、四分之一波片、低孔径物镜、管镜和平面反射镜组成的轴向调焦装置,实现共光路光镊共聚焦显微镜中共聚焦焦面的轴向移动,从而抓取悬浮样品实现轴向移动,完成共聚焦三维层析扫描成像。该发明具有装调简单,变焦与轴向层析速度快,观测成本低的优点。

    双目共焦立体视觉扫描振镜位置误差矫正装置和方法

    公开(公告)号:CN109596064B

    公开(公告)日:2020-06-05

    申请号:CN201811497904.4

    申请日:2018-12-07

    Abstract: 本发明双目共焦立体视觉扫描振镜位置误差矫正方法属于光学共焦显微技术领域和光学精密测量领域。针对扫描振镜在测量过程中出现的位置误差给测量信号带来随机误差的问题,本发明公开了一种双目共焦立体视觉扫描振镜位置误差矫正方法,通过设计两路探测光路分别对标准样品与待测样品同时进行共焦扫描测量,样品经过一次形变后,再次对两样品进行测量,通过将两次对标准样品的测量信号相减便可以得到扫描振镜带来的误差信号,将两次对标准样品的测量信号进行亚像素匹配便可以得到每一点的位置偏差,利用该位置偏差信号对二维扫描振镜位置误差进行补偿。

    一种基于边缘归一化互信息测度函数的图像配准方法

    公开(公告)号:CN106780578B

    公开(公告)日:2020-05-26

    申请号:CN201611125467.4

    申请日:2016-12-08

    Inventor: 刘俭 谭久彬 李勇

    Abstract: 一种基于边缘归一化互信息测度函数的图像配准方法。属于图像处理技术领域。为了解决互信息计算存在着没有涉及图像空间信息的缺点而导致配准精度低的问题。本发明包括以下步骤:步骤a、对待配准的图像进行图像去噪,然后利用自适应canny算子对去噪后的待配准图像进行边缘检测,得到待配准图像的边缘图;步骤b、根据待配准的图像的边缘图计算其边缘归一化互相关系数;步骤c、计算待配准图像的归一化互信息测度值;步骤d、将边缘归一化互相关系数引入到归一化互信息测度值中构造出边缘归一化互信息测度函数;步骤e、使用粒子群算法对图像进行配准。有益效果为图像配准精度高。适用于对图像的拼接。

    变焦光镊共聚焦显微成像装置及方法

    公开(公告)号:CN107861230B

    公开(公告)日:2020-04-28

    申请号:CN201711238079.1

    申请日:2017-11-30

    Abstract: 变焦光镊共聚焦显微成像装置及方法,属于光学显微成像与光学操控技术领域。本发明专利的技术特点是:装置包括:共聚焦照明模块、共聚焦扫描模块、共聚焦探测模块、光镊聚焦模块和光镊轴向调焦模块。本发明在常规光镊显微系统中增加由偏振分光镜、四分之一波片、低孔径物镜、管镜和平面反射镜组成的轴向调焦装置,实现共光路光镊共聚焦显微镜中光镊焦面的轴向移动,从而抓取悬浮样品实现轴向移动,完成共聚焦三维层析扫描成像。该发明具有装调简单,变焦与轴向层析速度快,观测成本低的优点。

    一种改进型α-β扫描方法
    29.
    发明授权

    公开(公告)号:CN108489393B

    公开(公告)日:2019-12-10

    申请号:CN201810332815.8

    申请日:2018-04-13

    Abstract: 一种改进型α‑β扫描方法,其步骤包括:首先使用示波器和波形发生器获取检流式振镜系统阶跃响应曲线,根据阶跃响应曲线计算检流式振镜系统的幅频响应特性,明确振镜系统的频率—相位之间的对应关系;然后使用上位机软件构造两个幅值变化规律一致、相位差恒为π/2、初始相位不同、初始相位与频率相关的α正弦信号和β正弦信号作为检流式振镜系统的控制信号,驱动振镜扫描运动最终实现扫描光斑以同心圆轨迹完成二维扫描;最后利用目标轨迹重构扫描图像。本发明将延迟相位补偿加入控制信号,提前抑制相位延迟引入的不良影响,具有实时校正由相位延迟所导致的成像畸变的优势。

    一种集光器的侧向集光系统

    公开(公告)号:CN110244440A

    公开(公告)日:2019-09-17

    申请号:CN201910390035.3

    申请日:2019-05-10

    Abstract: 本发明公开了一种集光器的侧向集光系统,集光器包括透镜阵列板、集光孔阵列板、导光槽、侧向集光系统和出光管;透镜阵列板安装于导光槽的顶端,集光孔阵列板和侧向集光系统均设置于导光槽内,并且所述集光孔阵列板位于所述侧向集光系统的首端,侧向集光系统将导光槽分为采光区和集光区,出光管与集光区相连通;侧向集光系统包括:挡板一、挡板二、导光管和反光体,导光管一端与挡板一连接,另一端与挡板二相连接;反光体设置于挡板二远离挡板一的一侧。本发明不仅结构简单,使用方便,而且提高了太阳光的利用率,并且保证了光照的均匀度。

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