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公开(公告)号：CN117173044B
公开(公告)日：2025-05-06
申请号：CN202311085702.X
申请日：2023-08-28
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G06T5/70 , G06T7/11 , G06T7/00 , G06V10/774
Abstract: 一种基于超像素聚类PCA的图像降噪算法，它涉及一种图像降噪算法。本发明为了解决目前许多基于PCA的降噪算法只考虑维间的能量变换而忽略维内的能量变换，降噪效果不足，由于暗场共焦图像的信噪比低、信号弱的特点，算法难以满足暗场共焦图像降噪的工程需求的问题。本发明通过SLIC方法对图像进行超像素分割，降低计算复杂度；通过噪声水平相关参数的自适应聚类收集相似图像块，从而获得良好的保留图像细节结构的能力；通过基于特征值的硬阈值维数选择去除噪声占优维，保留信号主导维；利用维内次优维纳滤波获得更好的降噪效果。本发明属于图像处理技术领域。
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公开(公告)号：CN118914203A
公开(公告)日：2024-11-08
申请号：CN202411010417.6
申请日：2024-07-26
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 本申请公开了一种基于多分数阶角动量解调的暗场共焦显微测量装置及方法，涉及共焦显微测量技术领域，该装置包括：调制照明模块和信号采集解调模块；在调制照明模块中，通过不同分数阶的涡旋相位图，调制得到不同分数阶的涡旋光，以对待测样品进行扫描，不同分数阶的涡旋光照射在待测样品上后反射出去；通过信号采集解调模块采集反射光并生成暗场图像；最后，根据不同分数阶的涡旋光下生成的暗场图像进行互相关处理，即可得到高信噪比数据；本申请提供的上述装置采用不同分数阶涡旋光照明样品并进行暗场探测，可同时获取缺陷对多阶涡旋分量的响应，提高了微小缺陷的信号强度，利用互相关算法能够有效抑制共模噪声，凸显纳米级缺陷微弱的相关信息。
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公开(公告)号：CN118914201A
公开(公告)日：2024-11-08
申请号：CN202411010373.7
申请日：2024-07-26
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 本申请公开了一种基于时变分数阶涡旋解调的暗场共焦显微测量装置及方法，涉及共焦显微测量技术领域，该装置包括时变调制照明模块、光学扫描模块、信号采集解调模块、函数发生器和样品台，函数发生器分别与时变调制照明模块和信号采集解调模块连接，分别为时变调制照明模块和信号采集解调模块提供参考信号；样品台用于放置待测样品；时变调制照明模块用于向光学扫描模块发射分数阶涡旋光；光学扫描模块用于将分数阶涡旋光传递到样品台中的待测样品上，将回光信号传递至信号采集解调模块；信号采集解调模块用于采集回光信号，并根据参考信号对回光信号进行暗场共焦探测，得到待测样品的测量信息，本申请可提高测量装置的灵敏度和准确性。
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公开(公告)号：CN118603839A
公开(公告)日：2024-09-06
申请号：CN202410670097.0
申请日：2024-05-28
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01N15/08
Abstract: 一种梯度渗透率材料渗透率测量装置及方法，它涉及一种渗透率测量装置及方法。本发明为了解决现有检测手段无法检测梯度渗透率材料的问题。本发明所述装置包括壳体、选区板、多孔材料和底壳；壳体的底部开口，选区板和多孔材料由上至下依次设置在壳体内，底壳安装在壳体的底部开口处，壳体的顶部设有气孔，所述气孔与壳体内连通，选区板的中部开有第一通孔，所述第一通孔的中心线与所述气孔的中心线重合，底壳的底面开有与壳体内连通的第二通孔。本发明属于精密气浮技术领域。
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公开(公告)号：CN117008323B
公开(公告)日：2024-09-06
申请号：CN202310948465.9
申请日：2023-07-31
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G02B26/10 , G10K11/162 , G02B7/18
Abstract: 一种具有可拆卸静音结构的高速旋转棱镜，它涉及一种高速旋转棱镜。本发明为了解决超精密测量过程中噪声导致测量精度受影响的问题。本发明包括电机、电机固定件、静音机构、联轴器、转轴、多面转镜和底板；电机固定件和静音机构固定设置在底板的上表面，且电机固定件位于静音机构内，电机固定安装在电机固定件上，电机的电机轴通过联轴器与转轴的一端同轴固定连接，且转轴位于静音机构外，多面转镜同轴固定套装在转轴上。本发明属于超精密测量环境控制技术领域。
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Patent Agency Ranking
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公开(公告)号：CN117629841A
公开(公告)日：2024-03-01
申请号：CN202311571307.2
申请日：2023-11-23
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 本发明公开了一种基于分形原理的多孔陶瓷渗透率预测方法，包括如下步骤，采用激光共聚焦显微镜对多孔陶瓷截面进行表征，并对测试区域的三维形貌进行高度值统计，获得均值与方差；通过高度阈值对三维形貌进行二值化处理，并对二值化结果计算多孔陶瓷截面分形维数；对该分形维数与高度关系，通过拟合获得剔除截面信息的孔隙面积分形维数；基于气体守恒方程、达西定律、泊肃叶定律等，得到渗透率与孔隙结构参数之间的映射关系，带入孔隙结构参数，获取不同位置处渗透率；通过求取不同位置处的渗透率得均值，获得多孔陶瓷的渗透率。本发明通过非接触式的方式测量渗透率，避免压降实验等对精密元器件造成的损伤。本发明可用于空气轴承的多孔节流件。
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公开(公告)号：CN117517333A
公开(公告)日：2024-02-06
申请号：CN202311423506.9
申请日：2023-10-31
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 本发明涉及一种亚表面定值校准标准样板，属于光学计量检测技术领域。解决尚未针对亚表面缺陷检测计量与校准建立起相关的计量体系的问题。包括透明薄膜、定值校准结构和辅助定位结构，所述透明薄膜下侧设置有定值校准结构和辅助定位结构，定值校准结构位于辅助定位结构内侧。本发明通过定值校准结构，并在其表面均匀涂覆透明薄膜，达到真实模拟了亚表面被测结构的实际状态的目的；本发明使用多种结构来进行仪器性能指标的评价与校准溯源，针对性强。
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公开(公告)号：CN117517318A
公开(公告)日：2024-02-06
申请号：CN202311425900.6
申请日：2023-10-31
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01N21/88 , G02B21/06 , G02B21/10 , G02B26/10 , G02B6/02 , G02B27/10 , G02B27/30 , G02F1/01 , G01N21/49 , G01N21/01
Abstract: 基于涡旋分量排序的暗场共焦显微测量装置及方法，它涉及一种暗场共焦显微测量装置及方法。本发明为了解决传统共焦显微测量的亚表面缺陷无损检测技术检测维度单一，无法实现缺陷的复杂几何特性表征及物理特性分析，亚表面缺陷判定准确率不足的问题。本发明所述测量装置包括高斯照明模块、涡旋排序模块、线阵探测模块和三维位移台；待测样品设置在三维位移台上，所述高斯照明模块发射的激光照射在待测样品上，待测样品的反射光经由所述高斯照明模块和所述涡旋排序模块后由所述线阵探测模块接收。本发明属于光学精密测量技术领域。
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公开(公告)号：CN117173044A
公开(公告)日：2023-12-05
申请号：CN202311085702.X
申请日：2023-08-28
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G06T5/00 , G06T7/11 , G06T7/00 , G06V10/774
Abstract: 一种基于超像素聚类PCA的图像降噪算法，它涉及一种图像降噪算法。本发明为了解决目前许多基于PCA的降噪算法只考虑维间的能量变换而忽略维内的能量变换，降噪效果不足，由于暗场共焦图像的信噪比低、信号弱的特点，算法难以满足暗场共焦图像降噪的工程需求的问题。本发明通过SLIC方法对图像进行超像素分割，降低计算复杂度；通过噪声水平相关参数的自适应聚类收集相似图像块，从而获得良好的保留图像细节结构的能力；通过基于特征值的硬阈值维数选择去除噪声占优维，保留信号主导维；利用维内次优维纳滤波获得更好的降噪效果。本发明属于图像处理技术领域。
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