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公开(公告)号：CN113949661A
公开(公告)日：2022-01-18
申请号：CN202111140372.0
申请日：2021-09-27
Applicant: 网络通信与安全紫金山实验室 , 国家数字交换系统工程技术研究中心
IPC: H04L45/50 , H04L45/745 , H04L45/30 , H04L9/40
Abstract: 本发明公开了一种数据转发方法及装置，数据转发方法包括：转发器接收转发路径、转发路径的标签栈信息以及转发路径所经过的节点的MPLS安全策略；根据所述MPLS安全策略生成MPLS安全策略表；若所述数据包为MPLS数据包则提取所述数据包中的MPLS标签栈信息，将所述MPLS标签栈信息与所述MPLS安全策略表匹配，匹配通过则按照所述转发路径转发所述数据包；本发明的转发器在接收MPLS数据包时进行安全策略检查，提取完整的MPLS标签栈信息，与MPLS安全策略匹配进行匹配若匹配通过则进行转发，否则数据包被认为不安全的而丢弃，这样能够解决SR‑MPLS基于源路由特性的漏洞，保证了所转发的数据包都是确定和可信的。
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公开(公告)号：CN108600047A
公开(公告)日：2018-09-28
申请号：CN201810304171.1
申请日：2018-04-04
Applicant: 天津芯海创科技有限公司 , 天津市滨海新区信息技术创新中心
Inventor： 张进 , 吕平 , 刘勤让 , 沈剑良 , 宋克 , 朱珂 , 王永胜 , 李沛杰 , 张波 , 王锐 , 何浩 , 李杨 , 肖峰 , 毛英杰 , 赵玉林 , 虎艳宾 , 张霞 , 杜延康
IPC: H04L12/26
Abstract: 本发明提供了一种串行传输芯片及SERDES电路测试方法，所述串行传输芯片中，测试数据生成模块向SERDES电路发送第一测试数据；比较数据生成模块在接收到SERDES电路发送的指示信号时，向错误数据注入模块发送第二测试数据；错误数据注入模块根据错误注入控制信号向数据比较模块的第一输入端发送第二测试数据，或者，发送在对第二测试数据按照预设方式注入错误信息后得到的第三测试数据；数据比较模块用于接收SERDES电路的输出数据，将输出数据分别与第二测试数据和第三测试数据比较，得到测试结果，达到对测试过程注入可控的错误信息，分别在错误信息注入前和错误信息注入后校验并确定测试结果，提高故障芯片的检出率。
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公开(公告)号：CN108169661B
公开(公告)日：2020-07-10
申请号：CN201711455300.9
申请日：2017-12-28
Applicant: 天津芯海创科技有限公司 , 天津市滨海新区信息技术创新中心
IPC: G01R31/28
Abstract: 本发明提供了一种集成电路设计方法和集成电路闩锁效应测试方法，属于集成电路设计技术领域。其中，集成电路设计方法包括：从集成电路中选取指定的端口作为闩锁效应测试模式的控制端；建立控制端与集成电路中除复位端口之外的剩余端口之间的关联关系，以使控制端控制剩余端口在闩锁效应测试模式中的状态。本发明实施例提供的集成电路设计方法和集成电路闩锁效应测试方法，为集成电路设置了闩锁效应测试模式的控制端，利用该控制端控制集成电路的端口在闩锁效应测试模式中的状态，增加了电路内部信号的可控制性，可以更好的满足Latch up测试的需求，有利于客观准确地评价电路的抗闩锁效应能力，保证器件的质量。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN107942237A
公开(公告)日：2018-04-20
申请号：CN201711455619.1
申请日：2017-12-28
Applicant: 天津芯海创科技有限公司 , 天津市滨海新区信息技术创新中心
Inventor： 张波 , 吕平 , 刘勤让 , 沈剑良 , 宋克 , 朱珂 , 张进 , 王永胜 , 李沛杰 , 谭力波 , 虎艳宾 , 王锐 , 魏帅 , 何浩 , 李杨 , 毛英杰 , 赵玉林 , 张霞
IPC: G01R31/28
CPC classification number: G01R31/2855
Abstract: 本发明实施例提出一种激励板与芯片老化监测系统，涉及芯片老化监测领域。激励板包括处理器、数据传输单元以及无线通信单元，处理器分别与数据传输单元、无线通信单元电连接，处理器用于通过数据传输单元向一老化板发送激励信号，数据传输单元用于接收老化板响应激励信号传输的反馈数据，并将反馈数据传输至处理器，处理器用于通过无线通信单元将反馈数据发送至一智能终端显示。本发明提供的激励板与芯片老化监测系统具有在进行芯片老化实验时可以具体参数信息以及能够实现远程监控的优点。
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公开(公告)号：CN108600047B
公开(公告)日：2021-04-27
申请号：CN201810304171.1
申请日：2018-04-04
Applicant: 天津芯海创科技有限公司 , 天津市滨海新区信息技术创新中心
Inventor： 张进 , 吕平 , 刘勤让 , 沈剑良 , 宋克 , 朱珂 , 王永胜 , 李沛杰 , 张波 , 王锐 , 何浩 , 李杨 , 肖峰 , 毛英杰 , 赵玉林 , 虎艳宾 , 张霞 , 杜延康
IPC: H04L12/26
Abstract: 本发明提供了一种串行传输芯片及SERDES电路测试方法，所述串行传输芯片中，测试数据生成模块向SERDES电路发送第一测试数据；比较数据生成模块在接收到SERDES电路发送的指示信号时，向错误数据注入模块发送第二测试数据；错误数据注入模块根据错误注入控制信号向数据比较模块的第一输入端发送第二测试数据，或者，发送在对第二测试数据按照预设方式注入错误信息后得到的第三测试数据；数据比较模块用于接收SERDES电路的输出数据，将输出数据分别与第二测试数据和第三测试数据比较，得到测试结果，达到对测试过程注入可控的错误信息，分别在错误信息注入前和错误信息注入后校验并确定测试结果，提高故障芯片的检出率。
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公开(公告)号：CN109342921A
公开(公告)日：2019-02-15
申请号：CN201811172506.5
申请日：2018-10-09
Applicant: 天津芯海创科技有限公司 , 天津市滨海新区信息技术创新中心
IPC: G01R31/28
Abstract: 本发明提供了一种高速交换芯片的老化测试方法与系统，在动态老化测试时，将被测IC置于老化板，通过控制板为老化板提供激励信号，对被测IC进行高温及电压拉偏测试，对被测IC的数字部分进行数字引脚拉高拉低操作，对被测IC的模拟部分进行环回测试，对被测IC的交换模块进行收发包测试。本发明能够实现对高速交换芯片数字部分，模拟部分和交换部分的老化测试，对于早期失效产品的老化筛选测试项覆盖的更加全面，有利于在老化测试时就发现更多可能潜在问题，并通过实时监测显示高温动态老化各个功能测试项的结果能够及时发现每个功能模块的耐老化能力，通过实时存储老化信息有利于对测试结果进行分析。
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公开(公告)号：CN108387838A
公开(公告)日：2018-08-10
申请号：CN201810192257.X
申请日：2018-03-07
Applicant: 天津芯海创科技有限公司 , 天津市滨海新区信息技术创新中心
IPC: G01R31/28
Abstract: 本发明提供了一种芯片测试方法、装置、芯片及设计芯片的方法，涉及芯片测试技术领域，该芯片测试方法，芯片预先设置有测试模式；包括：启动芯片的测试模式；在测试模式下，芯片可输出同步信号，用于端口信号的同步，且芯片的状态寄存器映射至数字IO；根据同步信号采集端口输出的参数数据；扫描数字IO获取状态寄存器的状态数据；分别根据参数数据和状态数据确定芯片是否工作正常。本发明实施例提供的芯片测试方法、装置、芯片及设计芯片的方法，在测试模式测试机台可根据同步信号抓取高速端口参数数据，完成参数测试；并且可以直接扫描数字IO引脚查看芯片状态，无需再读取内部寄存器，降低测试难度和减少测试时间。
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公开(公告)号：CN108169661A
公开(公告)日：2018-06-15
申请号：CN201711455300.9
申请日：2017-12-28
Applicant: 天津芯海创科技有限公司 , 天津市滨海新区信息技术创新中心
IPC: G01R31/28
Abstract: 本发明提供了一种集成电路设计方法和集成电路闩锁效应测试方法，属于集成电路设计技术领域。其中，集成电路设计方法包括：从集成电路中选取指定的端口作为闩锁效应测试模式的控制端；建立控制端与集成电路中除复位端口之外的剩余端口之间的关联关系，以使控制端控制剩余端口在闩锁效应测试模式中的状态。本发明实施例提供的集成电路设计方法和集成电路闩锁效应测试方法，为集成电路设置了闩锁效应测试模式的控制端，利用该控制端控制集成电路的端口在闩锁效应测试模式中的状态，增加了电路内部信号的可控制性，可以更好的满足Latch up测试的需求，有利于客观准确地评价电路的抗闩锁效应能力，保证器件的质量。
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