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公开(公告)号：CN110088594B
公开(公告)日：2022-09-20
申请号：CN201780078048.6
申请日：2017-12-15
Applicant: 宽腾矽公司
Inventor： 乔纳森·M·罗斯伯格 , 阿里·卡比里 , 杰勒德·施密德 , 杰森·W·希克勒 , 保罗·E·格伦 , 罗伦斯·C·威斯特 , K·普勒斯顿 , 亚历山大·贡达伦科 , 本杰明·西普里亚尼 , J·比奇 , 基斯·G·法夫 , 法席德·加塞米
Abstract: 本发明涉及用于向整合式装置内的大量样本井的光学功率分布的系统及方法，该整合式装置可分析单个分子且执行核酸定序。该整合式装置可包含：光栅耦合器，其被配置为从光源接收光束；及光学分离器，其被配置为将该光栅耦合器的光学功率分配到该整合式装置的波导，该波导经定位以与该样本井耦合。该光栅耦合器的输出可以在一个或多个维度上变化，以考虑光源的光强度分布。
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公开(公告)号：CN114729886A
公开(公告)日：2022-07-08
申请号：CN202080060546.X
申请日：2020-06-26
Applicant: 宽腾矽公司
IPC: G01N21/64
Abstract: 本发明描述用于减小或移除第二路径光子和/或电荷载体对集成器件的储存分格的影响以提高噪声性能并因此改良样本分析的技术。一些实施例涉及诸如包括光学屏障的光学排斥技术，该光学屏障被定位为阻止至少一些光子到达储存分格。一些实施例涉及诸如包括电学屏障的电学排斥技术，该电学屏障被配置为阻止至少一些电荷载体沿至少一个第二路径到达储存分格。一些实施例涉及一种集成器件，其中至少一个储存分格相对于光检测器定形和/或定位，以便接收一些电荷载体(例如，荧光发射电荷载体)和/或光子并阻碍接收其他电荷载体(例如，噪声电荷载体)和/或光子。
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公开(公告)号：CN114674788A
公开(公告)日：2022-06-28
申请号：CN202210358164.6
申请日：2017-06-01
Applicant: 宽腾矽公司
Inventor： 乔纳森·M·罗斯伯格 , 阿里·卡比里 , 杰勒德·施密德 , 基斯·G·法夫 , J·比奇 , 杰森·W·希克勒 , 罗伦斯·C·威斯特 , 保罗·E·格伦 , K·普勒斯顿 , 法席德·加塞米 , 本杰明·西普里亚尼 , 杰瑞米·拉基
IPC: G01N21/63 , G01N21/25 , C12Q1/6851
Abstract: 用于分析单分子并执行核酸定序的系统及方法。一种集成装置可包含具被配置以接收样本的样本井的多个像素，该样本在被激发时发射辐射。该集成装置包含表面，其具有自该表面的一部分凹入的沟槽区域，及样本井阵列，其安置于该沟槽区域中。该集成装置亦包含波导，其被配置以使激发能耦合至该阵列中的至少一个样本井，且定位于自该沟槽区域的表面的第一距离处及自在与该沟槽区域分离的区域中的该表面的第二距离处。该第一距离小于该第二距离。该系统亦包含仪器，其与该集成装置介接。该仪器可包含激发能源，用于藉由经耦合至该集成装置的激发能耦合区域来提供激发能至该集成装置。
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公开(公告)号：CN114514420A
公开(公告)日：2022-05-17
申请号：CN202080069903.9
申请日：2020-08-06
Applicant: 宽腾矽公司
IPC: G01N21/63 , G01N21/64 , G01N21/77 , G02B6/122 , G02B6/136 , H01L27/146 , H01L31/0232
Abstract: 描述了用于改良集成装置中的光学信号收集的设备及方法。微盘(1‑605)可在集成装置中形成且增加了入射于该微盘(1‑605)上并由该微盘(1‑605)再辐射的辐射的收集及/或浓度。可包含微盘(1‑605)的示例性集成装置可用于分析物检测及/或分析。此集成装置可包含多个像素，该多个像素各自具有用于接收待分析样本的反应室(1‑130)、光学微盘(1‑605)及被配置为检测来自该反应室(1‑130)的光学发射的光学传感器(1‑122)。微盘(1‑605)可包括具有第一折射率的介电材料，该介电材料嵌入于具有一或多个不同折射率值的一或多种周围材料(1‑610)中。
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公开(公告)号：CN114222911A
公开(公告)日：2022-03-22
申请号：CN202080056842.2
申请日：2020-06-18
Applicant: 宽腾矽公司
IPC: G01N21/64 , G01N21/77 , H01L27/146 , C12Q1/6869 , B82Y20/00 , G02B1/00 , G02B5/28 , G02B6/122
Abstract: 本发明描述了与光子带隙光学奈米结构相关的设备及方法。此等光学奈米结构可展现禁止光子带隙或允许光子带隙，且可用于抑制(例如，阻断或衰减)第一波长下的辐射，同时允许透射第二波长下的辐射。光子带隙光学奈米结构的示例包括在一个、两个或三个维度中具有周期性或准周期性且在至少两个维度中具有结构变化的周期性及准周期性结构。此等光子带隙光学奈米结构可形成于包括光电二极管及被布置为分析由光电二极管接收的辐射的CMOS电路的集成装置中。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN112903638A
公开(公告)日：2021-06-04
申请号：CN202110063517.5
申请日：2015-08-07
Applicant: 宽腾矽公司
Inventor： 乔纳森·M·罗思伯格 , 阿里·卡比里 , 杰森·W·斯克勒 , 布雷特·J·格亚凡思 , 杰瑞米·拉基 , 杰勒德·施密德 , 罗伦斯·C·威斯特 , 本杰明·西普里亚尼 , 基思·G·法夫 , 法席德·加塞米
IPC: G01N21/64
Abstract: 本发明涉及一种用于对单分子进行分析并且执行核酸测序的系统和方法。集成装置包括具有构造成接受样品的样品阱的多个像素，该样品当被激发时发出辐射。该集成装置包括至少一个波导，其构造成将来自用于与激发能量源耦合的集成装置的区域的激发能量传播至样品阱。一个像素也可包括用于朝向像素内的传感器引导发射能量的至少一个元件。该系统还包括与集成装置连接的仪器。该仪器可包括激发能量源，用于通过耦合到集成装置的激发能量耦合区而将激发能量提供给集成装置。可利用发射能量的时间参数而区分的多个标志的一个标志来标记样品，并且在一个像素内部的传感器的构造可允许对与标记样品的标志相关的时间参数的检测。
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公开(公告)号：CN106796175B
公开(公告)日：2021-01-05
申请号：CN201580054416.4
申请日：2015-08-07
Applicant: 宽腾矽公司
Inventor： 乔纳森·M·罗思伯格 , 阿里·卡比里 , 杰森·W·斯克勒 , 布雷特·J·格亚凡思 , 杰瑞米·拉基 , 杰勒德·施密德 , 保罗·E·格伦 , 罗伦斯·C·威斯特 , 本杰明·西普里亚尼 , 基思·G·法夫
IPC: G01N21/64 , C12Q1/6869
Abstract: 用于分析单分子并执行核酸测序的装置和方法。该装置可以包括：包括具有用于接收样品的样品阱的多个像素的检测芯片，这些像素当被激发时发出发射能量；用于在特定的方向上引导发射能量的至少一个元件；和光路，发射能量沿该光路从样品阱朝向传感器行进。该装置还包括与检测芯片相互作用的仪器。该仪器包括：用于激发在各样品阱中的样品激发光源、与样品阱相对应的多个传感器。各传感器可检测来自在各自样品阱中的样品的发射能量。该仪器包括将发射能量从各样品阱朝向多个传感器的各个传感器引导的至少一个光学元件。
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公开(公告)号：CN111235246A
公开(公告)日：2020-06-05
申请号：CN202010074109.5
申请日：2014-11-17
Applicant: 宽腾矽公司
Inventor： 乔纳森·M·罗思伯格 , 阿里·卡比里 , 杰森·W·斯克勒 , 布雷特·J·格亚凡思 , 杰瑞米·拉基 , 杰勒德·施密德 , 本杰明·西普里亚尼 , 杰克·朱厄尔 , 罗伦斯·威斯特 , 迈克尔·费里尼奥 , 保罗·E·格伦 , 亚当·E·科恩 , 安东尼·贝罗菲奥雷
IPC: C12Q1/6869 , C12Q1/6874 , G01N21/64 , G01N21/77
Abstract: 用于分析单分子和进行核酸测序的器械和方法。一种器械可包括测定芯片，其包括具有样品孔的多个像素，所述样品孔被配置成接收当被激发时发射出发射能量的样品；至少一个在特定方向中指引所述发射能量的元件；以及光路径，所述发射能量沿所述光路径从所述样品孔向传感器行进。所述器械还包括与所述测定芯片通过接口连接的仪器。所述仪器包括用于在每个样品孔中激发所述样品的激发光源；和与所述样品孔相应的多个传感器。每个传感器可在各样品孔中检测源于样品的发射能量。所述仪器包括至少一个光学元件，其将源于每个样品孔的所述发射能量引向所述多个传感器中的各个传感器。
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公开(公告)号：CN106029904A
公开(公告)日：2016-10-12
申请号：CN201480073365.5
申请日：2014-11-17
Applicant: 宽腾矽公司
Inventor： 乔纳森·M·罗思伯格 , 阿里·卡比里 , 杰森·W·斯克勒 , 布雷特·J·格亚凡思 , 杰瑞米·拉基 , 杰勒德·施密德 , 本杰明·西普里亚尼 , 杰克·朱厄尔 , 罗伦斯·威斯特 , 迈克尔·费里尼奥 , 保罗·E·格伦 , 安东尼·贝罗菲奥雷
CPC classification number: G01N21/6486 , B01L3/5085 , B01L2200/12 , B01L2300/0829 , B01L2300/0887 , B01L2300/0893 , B01L2300/168 , C12Q1/6869 , C12Q1/6874 , C12Q2521/101 , C12Q2537/157 , C12Q2563/107 , C12Q2565/607 , G01N21/64 , G01N21/645 , G01N21/6452 , G01N21/648 , G01N21/7743 , G01N21/7746 , G01N2021/6419 , G01N2021/6441 , G01N2021/6478 , G01N2201/02 , G01N2201/06113 , G01N2201/0612 , G01N2201/062 , G01N2201/068 , G01N2201/125 , Y10T29/49016 , C12Q2525/101
Abstract: 本发明涉及用于分析单分子和进行核酸测序的器械和方法。一种集成装置包括具有样品阱的多个像素，所述样品阱被配置成接收当被激发时发射出发射辐射的样品；至少一个在特定方向中指引所述发射辐射的元件；以及光路径，所述发射辐射沿所述光路径从所述样品阱向传感器行进。所述器械还包括与所述集成装置通过接口连接的仪器。每个传感器可在各样品阱中检测源于样品的发射辐射。所述仪器包括用于在每个样品阱中激发所述样品的激发光源。
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公开(公告)号：CN116847930A
公开(公告)日：2023-10-03
申请号：CN202180093795.3
申请日：2021-12-14
Applicant: 宽腾矽公司
Inventor： 陈国钧 , 杰勒德·施密德 , 托德·雷里克 , 托马斯·雷蒙德·瑟斯顿 , 黄海冬
IPC: B01L3/00
Abstract: 本公开的各方面涉及用于再生传感器芯片表面的方法和系统，包括通过在连续采样周期之间再生传感器芯片的表面来在多个采样周期中重复使用单个传感器芯片的技术。提供了一种用于重复使用集成器件来处理样本的方法，该样本被分成多个等分试样，该方法包括：将多个等分试样中的第一等分试样装载到集成器件的多个腔室中的至少一些腔室中；当分析物存在于多个腔室的至少一些腔室中时，对第一等分试样的分析物进行采样；从集成器件的多个腔室中的至少一些腔室中移除第一等分试样；以及将多个等分试样的第二等分试样装载到集成器件的多个腔室的至少一些腔室中。
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