一种检测CT二次回路完整性的装置与方法

    公开(公告)号:CN110488137A

    公开(公告)日:2019-11-22

    申请号:CN201910827742.4

    申请日:2019-09-03

    Abstract: 本发明公开一种检测CT二次回路完整性的装置与方法,检测的原理是根据每组CT回路三相电气参数完全对称的原理和CT回路电阻极小的特性,通过相互比较电流数据大小即可判断出每相电流回路的完整性。本发明提供一种检测CT二次回路完整性的装置与方法,只需解开N相连接片一侧的接线端接可以之间判断出ABC三相电流回路的完整性,大大减少了工作量;改变了常规检测CT二次回路需要断开连接片,并在其左右量通断的操作方式,极大降低了接触不良的风险;基于CT二次回路电气参数完全对称的原理,可以精确判断任一回路断线、接触不良、连接完好三种状态,方便在验收时查找故障,降低了CT二次回路因接触不良导致发热烧毁端子的风险。

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