半导体器件
    31.
    发明公开
    半导体器件 审中-实审

    公开(公告)号:CN115911044A

    公开(公告)日:2023-04-04

    申请号:CN202210442733.5

    申请日:2022-04-25

    Abstract: 提供一种半导体器件。该半导体器件包括:有源图案,设置在衬底上并且沿第一方向延伸;一对源/漏极图案,设置在有源图案上并且在第一方向上彼此间隔开;多个沟道层,在一对源/漏极图案之间在有源图案上竖直地堆叠并且彼此间隔开;栅电极,在一对源/漏极图案之间沿第二方向延伸,栅电极设置在有源图案上并且围绕多个沟道层,并且第二方向与第一方向相交;以及栅极间隔物,设置在多个沟道层之间并且设置在栅电极与一对源/漏极图案之间。栅极间隔物包括交替地堆叠在一对源/漏极图案的侧壁上的多个第一间隔物图案和多个第二间隔物图案。

    半导体装置
    32.
    发明公开
    半导体装置 审中-实审

    公开(公告)号:CN115547958A

    公开(公告)日:2022-12-30

    申请号:CN202210257892.8

    申请日:2022-03-16

    Abstract: 提供了半导体装置。所述半导体装置可以包括:第一有源图案,位于基底上;位于第一有源图案上的一对第一源极/漏极图案和位于所述一对第一源极/漏极图案之间的第一沟道图案,第一沟道图案包括以堆叠形态彼此间隔开的第一半导体图案;栅电极,位于第一沟道图案上;第一栅极切割图案,与第一沟道图案相邻,第一栅极切割图案穿透栅电极;以及第一间隔件图案,位于第一栅极切割图案与第一沟道图案之间。第一间隔件图案可以包括:第一保留图案,与第一半导体图案中的至少一个第一半导体图案的最外侧表面相邻;以及第二保留图案,位于第一保留图案上。第二保留图案可以与第一栅极切割图案间隔开。

    半导体器件
    33.
    发明公开

    公开(公告)号:CN113013162A

    公开(公告)日:2021-06-22

    申请号:CN202011451826.1

    申请日:2020-12-10

    Abstract: 一种半导体器件包括:有源图案,在基板上在第一方向上延伸,被分隔区域划分为多个区域,并具有朝向分隔区域暴露的第一边缘部分;第一沟道层、第二沟道层和第三沟道层,垂直地分隔开并顺序地设置在有源图案上;第一栅电极,在第二方向上延伸,与有源图案相交,并围绕第一沟道层、第二沟道层和第三沟道层;源极/漏极区,设置在有源图案上,在第一栅电极的至少一侧,并接触第一沟道层、第二沟道层和第三沟道层;半导体结构,包括交替地堆叠在有源图案上的第一半导体层和第二半导体层,并具有朝向分隔区域暴露的第二边缘部分;以及阻挡层,覆盖半导体结构的上表面、侧表面和第二边缘部分中的至少一个。

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