一种用于地外天体探测器的取样装置

    公开(公告)号:CN114838983A

    公开(公告)日:2022-08-02

    申请号:CN202210496261.1

    申请日:2022-05-07

    IPC分类号: G01N1/08

    摘要: 本发明公开了一种用于地外天体探测器的取样装置,属于航天领域,以解决现有技术中采用弹射球撞击的方式只能收集星体表层的土壤,不能收集更深层土壤的问题。本发明的一种用于地外天体探测器的取样装置,所述星体探测器可着陆在地外天体上,所述取样装置设置在所述星体探测器上,所述星体探测器可在地外天体表面打勘探孔,所述取样装置包括采样头和驱动机构,其中,采用头可在所述勘探孔内收集所述地外天体的土壤;驱动机构可驱动所述采样头向所述勘探孔内移动。本发明采样头可在地外天体勘探孔内移动可收集不同深度的地外天体土壤,可分析地外天体不同深度的土壤成分,进而了解不同深度下地外天体土壤的组成,为后续星体开发提提供更可靠的科学依据。