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公开(公告)号：CN116525402B
公开(公告)日：2024-07-02
申请号：CN202310567770.3
申请日：2023-05-19
Applicant: 暨南大学
Abstract: 本发明公开一种应用于飞行时间质量分析器的离子衰减装置及方法，检测仪器技术领域，装置包括：离子衰减装置设置于飞行时间质量分析器的加速区，离子衰减装置具体包括：第一层栅网、第二层栅网和第三层栅网；第一层栅网、第二层栅网和第三层栅网依次放置；第一层栅网、第二层栅网和第三层栅网均包括多根栅网径丝；第一层栅网的全部的栅网径丝、第三层栅网的全部的栅网径丝和第二层栅网的中间区域的栅网径丝采用第一电压供电；第二层栅网的两侧区域的栅网径丝采用第二电压供电；通过控制采用第二电压供电的第二层栅网的两侧区域的栅网径丝的数量进行衰减率的控制，本发明实现了飞行时间质谱中对离子衰减率的控制。
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公开(公告)号：CN117929206B
公开(公告)日：2024-05-24
申请号：CN202410302180.2
申请日：2024-03-18
Applicant: 暨南大学
Abstract: 本发明公开一种检测纳米气溶胶颗粒的方法及系统，涉及环境检测技术领域，方法：（1）生成惰性粒子的基质气溶胶；（2）对所述基质气溶胶进行干燥；（3）对干燥后的基质气溶胶进行荷电，得到带电基质气溶胶；（4）通过纳米气溶胶分级装置筛分需要检测的纳米气溶胶颗粒，得到指定粒径的双极性纳米气溶胶；（5）使得带电基质气溶胶吸附双极性纳米气溶，形成基质纳米气溶胶；（6）通过单颗粒气溶胶质谱仪对基质纳米气溶胶进行检测。系统：包括依次连通的气溶胶雾化发生器、气溶胶扩散干燥管、气溶胶荷电器、凝结容器和单颗粒气溶胶质谱仪，还包括纳米气溶胶分级装置。实现了纳米气溶胶颗粒的高效在线检测。
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公开(公告)号：CN117059470A
公开(公告)日：2023-11-14
申请号：CN202310735474.X
申请日：2023-06-20
Applicant: 暨南大学
Abstract: 本发明公开了一种基于临界孔切割进样的微纳米单颗粒质量仪，涉及单颗粒质谱仪技术领域，包括微纳米气溶胶切割进样单元、微纳米气溶胶聚焦进样单元、测径单元和质量分析单元，气溶胶由进样口进入，第二撞击板位于扩散锥的一端且与临界孔相对设置，缓冲腔位于扩散锥的外侧，缓冲腔与微纳米气溶胶聚焦进样单元的连通，微纳米气溶胶聚焦进样单元、测径单元和质量分析单元依次连通，微纳米气溶胶聚焦进样单元设置有第一差分室出口和第二差分室出口，质量分析单元设置有第三差分室出口。本发明可以实现在不借助外部气溶胶切割进样装置和额外抽气泵的条件下，实现单颗粒质谱仪对几十至两三百纳米气溶胶颗粒的在线监测。
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公开(公告)号：CN115856066A
公开(公告)日：2023-03-28
申请号：CN202211531544.1
申请日：2022-12-01
Applicant: 暨南大学
IPC: G01N27/64
Abstract: 本发明公开了一种基质辅助激光解吸飞行时间的光路系统，包括依次设置的激光器、折射镜组、反射镜和凸透镜，激光器发出的激光经过折射镜组的聚焦和发散后由若干个反射镜的反射进入TOF飞行筒，进入TOF飞行筒的激光经过反射镜的反射后由凸透镜聚焦于靶板上，进入TOF飞行筒的激光为圆环形，TOF飞行筒的末端设置有检测器。本发明经过聚焦准直后可以让光束垂直入射以及焦距短的优势，同时使用两个凸透镜的光路系统可产生比高斯光斑更小的贝塞尔光斑，贝塞尔光束还具有更大的焦深，在提升质谱分辨率和灵敏度的同时，可以保证在不影响中心光斑能量的情况下，解决基质样品结晶不均匀导致焦点偏移的问题。
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公开(公告)号：CN115840899A
公开(公告)日：2023-03-24
申请号：CN202211371040.8
申请日：2022-11-03
Applicant: 暨南大学
IPC: G06F18/23 , G06F18/22 , G06F18/241 , G06F17/18 , G06F17/16
Abstract: 本申请涉及颗粒物的处理技术领域，提供了一种基于ART2A算法的颗粒物聚类方法、装置、设备和存储介质，可以降低类间相关性以减少分类数量。本申请中，获取多个颗粒物的质谱以及本轮的类中心质谱矩阵；根据颗粒物的质谱和本轮的类中心质谱矩阵，将各颗粒物划分到质谱相似的类中心下，完成本轮分类；根据本轮划分到类中心下的颗粒物的质谱、颗粒物与类中心之间的相似度，对本轮的类中心质谱矩阵进行更新，得到下轮的类中心质谱矩阵；其中，颗粒物与划分到的类中心之间的相似度越高，在本轮的类中心质谱矩阵中，对该类中心的质谱的更新程度越小，相似度越低，更新程度越大；根据多个颗粒物的质谱以及下轮的类中心质谱矩阵，对多个颗粒物进行下轮分类。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN115223841A
公开(公告)日：2022-10-21
申请号：CN202210973037.7
申请日：2022-08-15
Applicant: 暨南大学
Abstract: 本发明公开一种用于质谱仪的离子偏转器，涉及质谱分析仪器技术领域，包括呈直角三角形分布的入口电极、出口电极和推斥电极，入口电极和出口电极作为直角三角形的两个直角边，推斥电极作为直角三角形的斜边；直角三角形内的直角处设置有旋转电极，推斥电极呈矩形框状，入口电极、出口电极、推斥电极和旋转电极中任意相邻的两个电极之间相互绝缘；入口电极的电压为正，出口电极、推斥电极和旋转电极的电压均为负；入口电极上设置有离子入口，出口电极上设置有离子出口，旋转电极能够使得经离子入口进入的离子的运动方向朝出口电极偏转90°。本发明用于质谱仪的离子偏转器提高了光子和中性粒子的去除率及离子传输效率。
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公开(公告)号：CN114112818A
公开(公告)日：2022-03-01
申请号：CN202111473539.5
申请日：2021-11-29
Applicant: 暨南大学
Abstract: 本发明提供一种气溶胶颗粒电离方法、电离系统及质谱分析装置，气溶胶颗粒电离方法包括：确定多段粒径范围；初始化每段粒径范围的计数为0；开始计时，并对空气中的气溶胶颗粒进行采样，得到颗粒信号；在每个单位采样周期内，根据颗粒信号确定对应气溶胶颗粒的粒径及粒径所属的粒径范围；判断粒径范围的计数是否为1；若粒径范围的计数为1，则继续对空气中的气溶胶颗粒进行采样；若粒径范围的计数为0，则产生电离信号，对气溶胶颗粒进行电离，并将对应的粒径范围的计数置1，继续对空气中的气溶胶颗粒进行采样。通过限定对某一段粒径范围的颗粒打击一次后，不再进行此粒径段的再次打击，提高了对大颗粒和小颗粒的打击概率。
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公开(公告)号：CN112676270A
公开(公告)日：2021-04-20
申请号：CN202011548548.1
申请日：2020-12-24
Applicant: 暨南大学
IPC: B08B7/00
Abstract: 本发明提供了一种质谱仪器极片清洗装置，包括微波组件和矩管；所述矩管包括由内向外嵌套设置的内管、中管和外管；所述中管一端的管壁上设有开口；所述微波组件包括电连接的固态微波源和耦合环；所述固态微波源设置于矩管外；所述耦合环设置于所述中管上的开口处。本发明提供的质谱仪器极片清洗装置在使用时在中管和内管中通入放电气体，利用固态微波源驱动微波放电，通过耦合环将微波能传输至中管，中管的放电气体点燃等离子体，与内管的放电气体在矩管的管口形成等离子炬焰，形成的等离子炬焰在极片外部进行烧蚀，利用高温使极片上沉积的电绝缘体涂层在真空中升华而蒸发，在无需破真空取出极片就可以实现质谱仪器极片的清洗，简化了清洗工艺。
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公开(公告)号：CN112605069A
公开(公告)日：2021-04-06
申请号：CN202011479929.9
申请日：2020-12-15
Applicant: 暨南大学
Abstract: 本发明公开一种用于清洁质谱仪离子源极片的自动清洗装置，包括离子源单元、红外激光单元和仪器壳体，其中，红外激光单元包括激光发射组件和聚焦透镜，使用时，调整红外激光单元的位置，使其位于离子源极片的底部，激光发射组件开启，调整聚焦透镜与激光发射组件的位置，便于激光光斑聚焦，移动红外激光单元以便将离子源极片中的离子束孔周围的区域临时加热到80‑250℃之间，并保持10min左右的时间，使得沉积在离子源极片中的离子束孔周围的区域的电绝缘体涂层在真空高温中升华而蒸发，从而实现在不需要手动拆卸仪器的情况下自动清洗离子源极片，同时，聚焦透镜与激光发射组件之间的距离能够调整，提高自动清洗装置的使用效率。
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公开(公告)号：CN109142500B
公开(公告)日：2020-08-11
申请号：CN201810744140.8
申请日：2018-07-09
Applicant: 暨南大学
IPC: G01N27/62
Abstract: 本申请涉及一种MALDI‑TOF‑MS解吸电离控制方法、装置、计算机设备和存储介质。所述方法包括：接收外部输入的目标靶点信息，根据目标靶点信息从MALDI‑TOF‑MS靶板成像中获取目标靶点的图像；对目标靶点的图像进行处理，得到结晶区域中各结晶位点的质谱图，查找结晶位点中有效结晶位点，有效结晶位点的质谱图的样本特征峰信噪比为预设值；对有效结晶位点进行路径规划，生成目标路径，输出目标路径至外部控制设备，由外部控制设备按照目标路径进行解吸电离。可以实现每次都能对有效结晶位点进行解吸电离，提高分析速度和分析鉴定效率，还可以避免电离源浪费。
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