用于对混浊介质的内部成像的设备

    公开(公告)号:CN101312685A

    公开(公告)日:2008-11-26

    申请号:CN200680043803.9

    申请日:2006-11-13

    Abstract: 本发明涉及一种用于对混浊介质(25)的内部成像的设备(1)。所述设备(1)可以用于在测量容积(20)里面容纳混浊介质(25)并且利用来自光源(5)的光辐照混浊介质(25),其后,探测从测量容积(20)发出的光并将其用于确定所述混浊介质(25)的内部的图像。可以调整设备(1),使得引入附加的构件,用于以在混浊介质(25)中存在的造影剂中引起荧光发射的光辐照混浊介质,用于在至少两个谱区中探测荧光发射,并且用于针对至少两个探测的谱区来计算图像重构。通过分光地探测荧光发射,其是波长的函数,能够获得信息,从该信息能够确定混浊介质里面存在的预定成分的浓度。

    用于检测混浊介质内部中不均匀性的存在的方法和用于对混浊介质内部成像的设备

    公开(公告)号:CN101902952B

    公开(公告)日:2014-10-29

    申请号:CN200880121218.5

    申请日:2008-12-11

    Abstract: 提供了一种用于检测混浊介质(1)内部中不均匀性的存在的方法。该方法包括以下步骤:利用待检查的混浊介质(1)置于用于检查混浊介质内部的设备的接纳容积(2)中,执行第一测量;利用待检查的混浊介质(1)置于用于检查混浊介质内部的设备的接纳容积(2)中,执行第二测量。在第一测量后经过一时间间隔(Δt)之后,执行第二测量。第一测量和第二测量的每一个包括:随后用来自至少一个光源(6)的光从多个不同源位置照射混浊介质(1),并且对于每个源位置,在多个不同检测位置检测从混浊介质发射的光,以及将所检测的值存储为测量结果。该方法进一步包括以下步骤:通过使用第一测量和第二测量之一的测量结果作为参考并且使用第一测量和第二测量的相应另一个的测量结果确定相对于该参考的偏离,来检测混浊介质(1)内部中的不均匀性的存在。

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