受激发射损耗(STED)显微镜检查系统

    公开(公告)号:CN102713719A

    公开(公告)日:2012-10-03

    申请号:CN201180005876.X

    申请日:2011-01-13

    IPC分类号: G02B21/00 G01N21/64

    摘要: 本发明公开了一种用于对对象(O)进行受激发射损耗(STED)的光学显微镜检查系统(10)。应用光学元件(6)将第一激励射束(1)和第二损耗(2)射束聚焦到对象上,由此界定针对第一射束和第二射束两者的公共光学路径(OP)。在公共光学路径(OP)中插入相位修改构件(5),所述相位修改构件以光学方式被布置成用于使所述第一射束的波前基本不变,并改变所述第二射束(2')的波前,以便在所述对象中生成未损耗的感兴趣区域(ROI)。第一射束和第二射束具有公共光学路径,因为相位修改构件调整波前或相位,使其对第一射束没有影响,而给第二射束带来波前或相位变化,从而在焦平面处在对象中获得损耗区域(例如,成为环形斑)。本发明便于STED显微镜检查的更小和/或改进型光学设计;这对于医学活体内成像(例如内窥镜和导管)尤其相关。

    用于对混浊介质内部进行成像的方法和设备

    公开(公告)号:CN101312683B

    公开(公告)日:2011-04-06

    申请号:CN200680043623.0

    申请日:2006-11-21

    IPC分类号: A61B5/00

    CPC分类号: A61B5/4312 A61B5/0091

    摘要: 本发明涉及一种用于对混浊介质(55)内部进行的方法和设备(1)。用来自光源(5)的光从多个源位置(25a)照射在测量体积(15)内的混浊介质(55),从多个检测位置(25b)检测从测量体积(15)发出的光。根据检测到的光,重构混浊介质(55)内部的图像。在该方法和设备(1)中,可以借助于多增益放大单元为每一个源位置-检测位置对放大检测器信号,多增益放大单元包括放大器电路(60)。在现有技术中,基于检测到的信号强度从多个可能的放大系数中选出放大系数。然而,根据本发明,使该方法和设备适于基于对于预期电信号强度的估计来选择用于至少一个源位置-检测位置对的放大系数。

    受激发射损耗(STED)显微镜检查系统

    公开(公告)号:CN102713719B

    公开(公告)日:2016-03-23

    申请号:CN201180005876.X

    申请日:2011-01-13

    IPC分类号: G02B21/00 G01N21/64

    摘要: 本发明公开了一种用于对对象(O)进行受激发射损耗(STED)的光学显微镜检查系统(10)。应用光学元件(6)将第一激励射束(1)和第二损耗(2)射束聚焦到对象上,由此界定针对第一射束和第二射束两者的公共光学路径(OP)。在公共光学路径(OP)中插入相位修改构件(5),所述相位修改构件以光学方式被布置成用于使所述第一射束的波前基本不变,并改变所述第二射束(2')的波前,以便在所述对象中生成未损耗的感兴趣区域(ROI)。第一射束和第二射束具有公共光学路径,因为相位修改构件调整波前或相位,使其对第一射束没有影响,而给第二射束带来波前或相位变化,从而在焦平面处在对象中获得损耗区域(例如,成为环形斑)。本发明便于STED显微镜检查的更小和/或改进型光学设计;这对于医学活体内成像(例如内窥镜和导管)尤其相关。