直流自愈式金属化薄膜电容器的寿命预测方法

    公开(公告)号:CN114414909B

    公开(公告)日:2024-10-15

    申请号:CN202111471894.9

    申请日:2021-12-03

    Abstract: 公开了直流自愈式金属化薄膜电容器的寿命预测方法,方法中,测定直流自愈式金属化薄膜电容器试验前电容C0和试验电压Ui,进行老化试验,每间隔预定时刻测量直流自愈式金属化薄膜电容器的电容以记录不同时刻的电容值Cx及相邻测量之间的电容差ΔC;拆解直流自愈式金属化薄膜电容器获得薄膜电容器芯子;逐层拆解薄膜电容器芯子获得老化后的内部薄膜试样;统计多段试样中金属电极损失掉的面积获得不同位置处面积损失数据,对数正态分布分析面积损失数据获得拟合结果以计算平均每击穿点损失的金属电极面积Sn,失效概率Φ和寿命t在威布尔坐标纸上绘制图像获得电容器的寿命受到局部金属化薄膜自愈特性影响的模型。

    模拟油纸绝缘材料不均匀电场连续老化的装置

    公开(公告)号:CN117031139A

    公开(公告)日:2023-11-10

    申请号:CN202211332736.X

    申请日:2022-10-28

    Abstract: 公开了一种模拟油纸绝缘材料不均匀电场连续老化的装置,装置中,腔体容纳变压器油且腔体接地;绝缘纸层设于腔体中;接地电极设于腔体中且放置在绝缘纸层的下方;支撑座包括圆盘和垂直固定在圆盘边沿的若干个支撑柱,圆盘中心开设有电极孔,支撑柱支承于绝缘纸层上;铜棒轴向延伸且经由导线伸出腔体连接高压电源,铜棒可拆卸地插入电极孔,上限位件可拆卸地套设于铜棒,上限位件设有可拆卸的紧固件以在预定位置将上限位件紧固于铜棒,下限位件套设于铜棒以在第二位置限位,螺纹凹槽设于铜棒底端;电极头包括可拆卸连接螺纹凹槽的螺纹接头和连接螺纹接头的弧形电极头。

    聚丙烯基复合金属化薄膜及其制备方法

    公开(公告)号:CN114255995B

    公开(公告)日:2023-04-11

    申请号:CN202111428388.1

    申请日:2021-11-26

    Abstract: 公开了聚丙烯基复合金属化薄膜及其制备方法,方法中,制备氮化硼溶液,氮化硼固体粉末和N,N‑二甲基甲酰胺中按照预定质量体积比例混合形成氮化硼溶液;金属化聚丙烯薄膜放在平板涂膜机的玻璃板上,蒸镀金属的一面朝下,非金属面朝上,涂覆刮刀上加入所述氮化硼溶液,在室温下进行涂覆多层生成聚丙烯基复合金属化薄膜。

    基于BP神经网络的丁腈橡胶密封圈剩余寿命预测方法

    公开(公告)号:CN113987917A

    公开(公告)日:2022-01-28

    申请号:CN202111125988.0

    申请日:2021-09-24

    Abstract: 公开了基于BP神经网络的丁腈橡胶密封圈剩余寿命预测方法,方法中,测量丁腈橡胶密封圈的特征变量以构建训练样本,其中,以玻璃化转变温度、微米压痕硬度、服役时间和经历最低温度作为输入参数,以微米压痕简约杨氏模量作为输出参数,微米压痕简约杨氏模量越小,丁腈橡胶密封圈剩余寿命越少,并对数据进行归一化处理,获得训练样本;构建BP神经网络模型;使用遗传算法优化BP神经网络模型的初始权值和阈值;使用训练样本对BP神经网络模型进行迭代训练,获得丁腈橡胶密封圈剩余寿命预测模型;基于BP神经网络的丁腈橡胶密封圈剩余寿命预测模型对丁腈橡胶密封圈进行剩余寿命预测。

    一种聚四甲基一戊烯—二氧化钛纳米片复合薄膜的制备方法

    公开(公告)号:CN111662515A

    公开(公告)日:2020-09-15

    申请号:CN202010646948.X

    申请日:2020-07-07

    Abstract: 本发明公开了一种聚四甲基一戊烯—二氧化钛纳米片复合薄膜的制备方法,涉及薄膜电容器制备技术领域,S100、称量聚四甲基一戊烯并溶解在非极性聚合物溶剂中并在搅拌条件下溶解,得到聚四甲基一戊烯溶液;S200、称量二氧化钛纳米片加入所述聚四甲基一戊烯溶液并搅拌得到混合溶液A;S300、将所述溶液A真空干燥得到聚四甲基一戊烯—二氧化钛纳米片复合薄膜。本发明通过掺杂二维纳米氧化钛片层结构,主要是提高整体介电常数;相较于颗粒状二氧化钛,二维二氧化钛纳米片在低掺杂下就可获得介电常数和介电稳定性的提高。

    基于频域介电谱的氧化锌压敏电阻老化状态无损检测方法

    公开(公告)号:CN108548977B

    公开(公告)日:2020-05-19

    申请号:CN201810570021.5

    申请日:2018-06-05

    Abstract: 本发明公开一种基于优化的频域介电谱的氧化锌压敏电阻老化状态无损检测方法,包括:1)设定温度间隔,测量氧化锌压敏电阻在高温下电容C的频域响应特性;2)计算并绘制与频率f的关系谱图(角频率ω=2πf);3)取不同温度T下的谱图中的极值频率fm,绘制出纵坐标为lnfm,横坐标为1000/T的谱图,并通过线性拟合计算其活化能,活化能对应氧化锌压敏电阻晶界处的界面态能级。本发明通过测量氧化锌压敏电阻高温下电容的频域响应特性,采用一种新的表征方法,将界面态电子陷阱弛豫信号从直流电导掩盖中提取出来,并将界面态电子陷阱弛豫活化能作为氧化锌压敏电阻老化状态的评价参数。本发明对测试试样无损伤,是评估氧化锌压敏电阻老化状态的有效手段。

Patent Agency Ranking