光学测定装置
    33.
    发明授权

    公开(公告)号:CN103153160B

    公开(公告)日:2015-09-02

    申请号:CN201280003237.4

    申请日:2012-04-18

    发明人: 上村健二

    摘要: 本发明的光学测定装置(1)具有:照射光纤(5);多个受光光纤(7~9);光源部(22),其产生并输出对活体组织(6)进行照射的光并供给到照射光纤(5);测定部(23),其具有多个测定器,分别对各受光光纤(7~9)输出的来自活体组织的返回光进行分光测定;以及控制部(26),其将测定部(23)的测定结果存储在规定存储部(27)中,测定部(23)在电力供给后,在规定条件下依次进行返回光的特性值取得前测定,在特性值取得前测定中检测到受光强度增加了根据来自光源部(22)的供给光量和活体组织(6)的光的反射状态或散射状态而设定的量时,开始进行特性值取得用分光测定。

    散射吸收体测量方法和装置

    公开(公告)号:CN102869978A

    公开(公告)日:2013-01-09

    申请号:CN201180021484.2

    申请日:2011-03-29

    IPC分类号: G01N21/17 G01N21/35

    摘要: 从散射吸收体(B)的表面(Ba)所设定的一个光入射位置(I)入射规定波长的光(P),在散射吸收体(B)的表面(Ba)所设定的一个光检测位置(D)检测在散射吸收体(B)的内部传播的光(P)而获得光检测信号,基于该光检测信号,取得有关检测光的光强度的时间波形,基于该时间波形,运算散射吸收体(B)的内部的光(P)的平均光路长度(L)、以及与测量对象区域(B1)中的被测量物质的量关联的信息。此时,基于平均光路长度(L)修正与被测量物质的量关联的信息,使得平均光路长度(L)越长被测量物质的量越多。如果使用该方法,则能够通过简易的方法获得除去了介在组织的影响的测量结果。

    用于评估样本中的光学深度的光学设备

    公开(公告)号:CN101616627A

    公开(公告)日:2009-12-30

    申请号:CN200880005548.8

    申请日:2008-02-18

    IPC分类号: A61B5/00

    摘要: 本发明涉及用于评估被来自辐射源(10)的偏振辐射照射的样本(100)中的光学深度(D)的光学设备。第一和第二辐射波导的端部(30a’,30b’)被设置用于捕获从样本反射的辐射(25a,25b)。检测器(40)测量反射的辐射(25)的第一偏振(P1)和第二偏振(P2),以及分别在第一(30a)和第二(30b)辐射波导中的反射辐射(25a,25b)的第一和第二强度(I1,I2)。随后,处理装置(60)计算第一(f)和第二(g)光谱函数,这两个光谱函数(f,g)表示样本中的单散射事件。该处理装置(60)进一步被设置为计算第一(f)与第二(g)光谱函数之间的相关性(C)度量,以便评估所述单散射事件是否来源于样本内基本上相同的光学深度(D)。因此,第一和第二光谱函数之间的因果关系可以用于评估产生这两个光谱函数的所述单散射事件是否来自样本内的基本上相同的光学深度(D)。本发明特别有利于光学探查病人的上皮层。