星载SAR目标定位精度指标地面评估方法

    公开(公告)号:CN107300692B

    公开(公告)日:2019-05-17

    申请号:CN201710353388.7

    申请日:2017-05-18

    IPC分类号: G01S7/40

    摘要: 本发明公开了一种星载SAR目标定位精度指标地面评估方法,其包括以下步骤:步骤一,影响目标定位精度的误差因素梳理;步骤二,误差因素影响建模分析;步骤三,定位精度指标分配和预算;步骤四,基于轨道仿真数据的定位精度蒙特卡洛仿真试验;步骤五,统计仿真结果,评估定位精度指标。本发明首次提出了一种全新的星载SAR目标定位精度地面评估方法和流程,具有开创性;特别给出了一套验证目标定位精度的蒙特卡洛仿真方法,提高了对定位精度评估的准确性;所提出的方法流程清晰、易于实现,对星载SAR系统总体设计人员具有指导作用。

    用于精确获取卫星雷达天线波束指向的方法

    公开(公告)号:CN108152787A

    公开(公告)日:2018-06-12

    申请号:CN201711015900.3

    申请日:2017-10-25

    IPC分类号: G01S3/14 G01S3/78

    摘要: 本发明提供了一种用于精确获取卫星雷达天线波束指向的方法,包括以下内容:(1)卫星配备微波发射天线、激光发射器和星敏感器,其中发射天线和激光发射器具有共同的参考基准,发射天线位于卫星雷达天线前方且指向雷达天线;(2)发射天线向雷达天线发射微波,雷达天线接收并获取发射天线坐标系下微波波束方向,反演获取发射天线坐标系下雷达天线对外发射微波时波束指向;(3)在(2)同时激光发射器发射激光进入星敏感器,由星敏感器获取光束指向和激光发射器在星敏感器坐标系下的位置。本发明通过星上光学基准和微波电性基准转换,将微波波束指向信息直接转换到卫星星敏感器坐标系下描述,精确获取波束在轨指向信息。

    星载SAR目标定位精度指标地面评估方法

    公开(公告)号:CN107300692A

    公开(公告)日:2017-10-27

    申请号:CN201710353388.7

    申请日:2017-05-18

    IPC分类号: G01S7/40

    CPC分类号: G01S7/40

    摘要: 本发明公开了一种星载SAR目标定位精度指标地面评估方法,其包括以下步骤:步骤一,影响目标定位精度的误差因素梳理;步骤二,误差因素影响建模分析;步骤三,定位精度指标分配和预算;步骤四,基于轨道仿真数据的定位精度蒙特卡洛仿真试验;步骤五,统计仿真结果,评估定位精度指标。本发明首次提出了一种全新的星载SAR目标定位精度地面评估方法和流程,具有开创性;特别给出了一套验证目标定位精度的蒙特卡洛仿真方法,提高了对定位精度评估的准确性;所提出的方法流程清晰、易于实现,对星载SAR系统总体设计人员具有指导作用。

    高分辨率星载SAR成像质量提升方法

    公开(公告)号:CN106886021A

    公开(公告)日:2017-06-23

    申请号:CN201710055238.8

    申请日:2017-01-24

    IPC分类号: G01S13/90

    CPC分类号: G01S13/9035

    摘要: 本发明提供了一种高分辨率星载SAR成像质量提升方法,其包括以下步骤:步骤一,基于高分辨率SAR图像应用的成像质量提升需求分析及成像质量指标梳理;步骤二,最优化成像质量指标分解和分配;步骤三,提出提升成像质量的措施;步骤四,基于全链路仿真的成像质量提升效果评估。本发明所提出的方法流程清晰、易于实现,对于星载SAR总体设计具有指导意义,具有开创性,适用于其它类型的SAR卫星的成像质量提升研究。

    星载高速LVDS并行信号快速测试与分析的方法

    公开(公告)号:CN106788787A

    公开(公告)日:2017-05-31

    申请号:CN201611082596.X

    申请日:2016-11-30

    摘要: 本发明提供了一种星载高速LVDS并行信号快速测试与分析的方法,包括以下步骤:步骤一:建立一个LVDS信号标准时域图模型;步骤二:根据被测信号接口规范,计算信号周期和信号判决幅度;步骤三:形成一种时域特性的“六边形”测试模板;步骤四:选择信号特性匹配的无源测试组件;步骤五:设置示波器与差分探头的测试参数;步骤六:测试单路LVDS信号,图形化分析信号有效性;步骤七:重复以上步骤,完成多路LVDS并行信号测试与分析;步骤八:融合各路信号测试结果,完成高速LVDS并行接口测试和分析。本发明适用于各种传输速率的并行LVDS接口,解决高速LVDS并行接口无法快速测试和准确分析的技术问题。