公开(公告)号：CN103156627B

公开(公告)日：2016-08-03

申请号：CN201210530192.8

申请日：2012-12-10

Applicant: 富士胶片株式会社

Inventor： 田岛崇史

IPC: A61B6/00

CPC classification number: A61B6/542 ,  A61B6/4233 ,  A61B6/527 ,  A61B6/545 ,  A61B6/548 ,  A61B6/585 ,  H04N5/235 ,  H04N5/32

Abstract: 本发明公开了一种辐射成像设备及其操作方法。一种执行预曝光和主曝光以拍摄单一X射线图像的X射线成像系统。在预曝光中，AEC电路读出从检测像素输出的剂量检测信号，并且将剂量检测信号的累积值与阈值相比较。当累积值已经达到阈值时，AEC电路停止X射线照射。主曝光条件确定单元基于在预曝光中的辐照时间、在预曝光中的累积剂量和产生X射线图像所需的必要剂量来确定主辐照时间，该主辐照时间是主曝光条件的一个项目。在这之后，立即利用所确定的主辐照时间执行主曝光。正常像素从预曝光开始到主曝光结束连续地执行电荷积聚操作，并且从积聚的电子电荷产生X射线图像。

公开(公告)号：CN104641257A

公开(公告)日：2015-05-20

申请号：CN201380046163.7

申请日：2013-08-30

Applicant: 富士胶片株式会社

Inventor： 田岛崇史

IPC: G01T7/00 ,  A61B6/00

CPC classification number: H01L27/14605 ,  A61B6/4233 ,  A61B6/4283 ,  A61B6/542 ,  A61B6/563 ,  G01T1/1603 ,  G01T7/005 ,  H01L27/14603 ,  H01L27/14607 ,  H01L27/14634 ,  H04N5/32 ,  H05G1/28 ,  H05G1/38 ,  H05G1/44

Abstract: 本发明能够得到更详细的放射线的累积剂量的信息，进行更准确的AEC。在电子暗盒(13)的传感器面板(30)上配置有AEC用的检测像素(41b)，该AEC用的检测像素(41b)在X射线的累积剂量达到了目标剂量时使X射线的照射停止。包含计算累积剂量的多个检测像素(41b)的小块(76)在对摄像区域(40)进行分割而成的多个大块(75)内设有多个。小块(76)以在沿着信号线(45)的方向上不重叠的方式配置。

公开(公告)号：CN104582576A

公开(公告)日：2015-04-29

申请号：CN201380045149.5

申请日：2013-06-06

Applicant: 富士胶片株式会社

Inventor： 田岛崇史 ,  桑原健 ,  北川祐介

IPC: A61B6/00

CPC classification number: H01L27/14603 ,  A61B6/4233 ,  A61B6/4291 ,  A61B6/4452 ,  A61B6/542 ,  A61B6/585 ,  G01T1/026 ,  G01T1/1603 ,  H01L27/1446 ,  H01L27/14658 ,  H01L27/14812 ,  H05G1/28 ,  H05G1/38 ,  H05G1/42 ,  H05G1/44

Abstract: 即使栅格与测定像素的相对位置关系产生偏移，也能够进行准确的X射线剂量测定。在栅距为G的栅格(14)的后方配置有图像检测部(30)。在图像检测部(30)二维地配置有检测X射线图像的普通图像(40a)和测定X射线剂量的测定像素(40b)。将由AEC部(54)计算剂量测定信号的平均值的一组测定像素(40b)以周期Z＝(R×C)±D配置或选择[C/D]个。在此，C是栅格(14)的X射线图像上栅格(14)的X射线透过层(35)与X射线吸收层(36)在排列方向上出现的重复图案的周期，单位是像素的个数，R是0以上的自然数，D是比周期C小的整数，[C/D]是C/D以下的最大的整数。在D＝1的情况下各次的平均值是相同的值，偏差消失。

公开(公告)号：CN104379061A

公开(公告)日：2015-02-25

申请号：CN201380030821.3

申请日：2013-04-11

Applicant: 富士胶片株式会社

Inventor： 田岛崇史 ,  桑原健 ,  北川祐介

IPC: A61B6/00 ,  G01T7/00 ,  H05G1/44

CPC classification number: A61B6/542 ,  A61B6/4208 ,  A61B6/4233 ,  A61B6/4283 ,  A61B6/4291 ,  G01T1/08

Abstract: 进行画质下降的担心少且不耗费劳力、不受格栅与剂量检测传感器的几何配置的错动的影响且稳定的AEC。在检测面板(35a)中接收X射线而蓄积电荷的多个像素(45)和检测X射线的剂量的多个检测像素(65)设于摄像面(36)。多个检测像素(65)隔开间隔而周期性地配置。在与摄像面(36)面对的位置上配置有将X射线吸收部(33)和X射线透过部(32)在第一方向上交替周期性地排列而成的格栅(18)。检测像素(65)的第一方向上的配置周期(S1)与在由检测面板(35a)拍摄格栅(18)的情况下得到的格栅检测信号(SG)的变动周期(1/FSG)不同，因此各检测像素(65)的输出值分散，输出值的平均值的变动幅度被抑制。

公开(公告)号：CN102793553A

公开(公告)日：2012-11-28

申请号：CN201210162756.7

申请日：2012-05-23

Applicant: 富士胶片株式会社

Inventor： 田岛崇史

IPC: A61B6/03

CPC classification number: G06T7/003 ,  G06T7/337 ,  G06T2207/10081 ,  G06T2207/10124 ,  G06T2207/30068

Abstract: 本发明提供一种图像处理装置、射线照像图像捕获系统和图像处理方法。一种图像处理装置，其包括：层析图像生成部件，其获取生成层析图像；显示处理部件，其显示第二射线照像图像；以及，检测部件。如果在第二射线照像图像上指定关心区域，则检测部件通过将关心区域与作为与关心区域对应的层析图像中的区域的对应区域作比较来执行图像分析，并且检测包括与关心区域类似的对应区域的层析图像。如果在第二射线照像图像上指定关心位置，则检测部件通过将关心位置与作为对应于关心位置的层析图像中的位置的对应位置作比较来执行图像分析，并且检测包括与关心位置类似的对应位置的层析图像。

公开(公告)号：CN102429729A

公开(公告)日：2012-05-02

申请号：CN201110297651.8

申请日：2011-09-27

Applicant: 富士胶片株式会社

Inventor： 田岛崇史

IPC: A61B19/00

CPC classification number: A61B6/022 ,  A61B6/463 ,  A61B6/466 ,  A61B6/502

Abstract: 本发明涉及射线图像显示装置及方法。显示使用了射线图像的立体视图图像时，使得易于看到辅助线，其中，对用于显示立体视图图像的二个射线图像G1、G2分别施加辅助线H1、H2，辅助线H1、H2由在进深方向排列可见的多个栅格构成，在构成内侧栅格的线中，消除与构成眼前一侧的栅格的线交叉的部分及其附近，这样一来，可以使得易于看到栅格的交点。