内存的性能测试方法、装置、设备和存储介质

    公开(公告)号:CN118227394A

    公开(公告)日:2024-06-21

    申请号:CN202410406038.2

    申请日:2024-04-03

    IPC分类号: G06F11/22 G06F11/26 G06F1/20

    摘要: 本申请涉及一种内存的性能测试方法、装置、设备和存储介质。该方法包括:响应于目标服务器的内存测试请求,运行目标服务器的内存压力脚本,在内存的工作温度调整过程中,获取内存在不同预设工作温度下的性能测试结果。其中,内存压力脚本用于调整目标服务器中内存的工作温度至最高极限温度值。采用本方法能够全面且准确地获取服务器内存的性能测试结果。

    网络性能评测方法、装置、计算机设备及可读存储介质

    公开(公告)号:CN118227257A

    公开(公告)日:2024-06-21

    申请号:CN202410266777.6

    申请日:2024-03-06

    申请人: 鹏城实验室

    IPC分类号: G06F9/455 G06F11/26

    摘要: 本申请实施例提供了一种网络性能评测方法、装置、计算机设备及可读存储介质。方法包括:获取每个被测计算服务器中的虚拟机对应的第一参数,根据第一参数对被测计算服务器的虚拟机进行性能测试,得到第一适应度值;根据第一适应度值确定出相关第一参数并进行调整,得到第二参数;根据第二参数进行性能测试,得到对应的第二适应度值;当每个第二适应度值均大于预设适应度阈值时,对第二参数进行调整,得到第二参数;重复将第二参数分配至被测计算服务器进行性能测试,得到对应的第二适应度值;直至任一第二适应度值小于预设适应度阈值时,确定出最大的目标适应度值为被测计算服务器的性能评测结果。以此,能够增加网络性能评测的效率和准确性。

    一种卡顿检测方法、装置、电子设备及介质

    公开(公告)号:CN118193299A

    公开(公告)日:2024-06-14

    申请号:CN202410223157.4

    申请日:2024-02-28

    发明人: 袁胜利

    IPC分类号: G06F11/22 G06F11/26

    摘要: 本申请涉及一种卡顿检测方法、装置、电子设备及介质,尤其涉及计算机应用技术领域。包括:获取预设时间内的显示栅栏信号,计算帧率;在帧率小于预设帧率阈值的情况下,获取目标帧的渲染开始时刻和目标帧对应的显示栅栏信号的状态切换时刻;基于渲染开始时刻和状态切换时刻,计算目标帧的帧渲染时间;在帧渲染时间大于预设时间阈值的情况下,确定目标帧卡顿。本申请实施例用于实现卡顿事件的自动化检测,提升了卡顿检测的效率和准确性。

    内存全面测试方法及装置
    44.
    发明公开

    公开(公告)号:CN118173157A

    公开(公告)日:2024-06-11

    申请号:CN202410293167.5

    申请日:2024-03-14

    IPC分类号: G11C29/56 G06F11/22 G06F11/26

    摘要: 本发明公开了一种内存全面测试方法及装置,涉及内存测试技术领域。所述方法是通过对目标内存依次进行基础测试、体制指标测试以及可靠性测试,可以实现对目标内存进行全面无遗漏的测试目的,进而可保障测试结果的准确性,避免出现目标内存被误判为残次品的现象。此外,还可以对非残次品进行准确的质量等级划分,进一步保障测试结果的准确性,利于产品分级使用以及定价,便于实际应用和推广。

    监控方法、电子设备及存储介质

    公开(公告)号:CN112052147B

    公开(公告)日:2024-06-11

    申请号:CN202010733424.4

    申请日:2020-07-27

    发明人: 吴潇根

    摘要: 本发明实施例涉及数据处理,公开了一种监控方法、电子设备及存储介质。本发明的部分实施例中,监控方法包括以下步骤:获取设备的硬件故障数据和性能指标数据;根据硬件故障数据,确定设备的硬件故障级别;根据性能指标数据,确定设备的性能故障级别;根据硬件故障级别和性能故障级别,综合判定设备的故障级别。该实施例中,提高了故障监控效果。

    基于板卡结构及测试数据关联分析的板卡自动化测试方法

    公开(公告)号:CN118152203A

    公开(公告)日:2024-06-07

    申请号:CN202410576389.8

    申请日:2024-05-10

    IPC分类号: G06F11/22 G01R31/28 G06F11/26

    摘要: 本发明涉及板卡测试技术领域,揭露了一种基于板卡结构及测试数据关联分析的板卡自动化测试方法,包括:在所述标定测试参数集中依次提取标定测试参数,接收测试维度数,计算未关联参数坐标集,根据标定测试参数及标定未关联参数集构建标定关联向量集,汇总所有标定关联向量集,得到标定关联分布向量,根据标准向量中点坐标、标定向量中点坐标及所述向量关联夹角构建二维差异分布向量,对二维差异分布向量中的差异向量进行差异度排序,得到差异向量序列,将特征差异向量集输入预构建的缺陷预测神经网络进行缺陷预测,得到预测缺陷类型。本发明主要目的在于解决当前板卡测试存在测试效率低、测试效果差的问题。

    一种图形处理器的测试方法、装置、电子设备和存储介质

    公开(公告)号:CN117971584B

    公开(公告)日:2024-06-07

    申请号:CN202410372893.6

    申请日:2024-03-29

    IPC分类号: G06F11/22 G06F11/26

    摘要: 本申请实施例提供了一种图形处理器的测试方法、装置、电子设备和存储介质,属于测试的技术领域,所述方法包括在基本输入输出系统加载并运行图形处理器后,获取图形处理器适配的所有工作模式,任一工作模式具有对应的分辨率参数;在基本输入输出系统的设置模块中创建分辨率选项,分辨率选项中包括图形处理器适配的所有工作模式各自对应的分辨率参数;当分辨率选项的值变化时,调用基本输入输出系统中的图形输出协议模块的设置模式接口函数,将图形处理器的工作模式更改为分辨率选项的值对应的工作模式,以测试图形处理器处于该工作模式时是否显示待显示数据。本申请实施例旨在开发过程便于对GPU进行测试。

    嵌入式多媒体卡的测试方法、系统、装置及存储介质

    公开(公告)号:CN118113542A

    公开(公告)日:2024-05-31

    申请号:CN202410373031.5

    申请日:2024-03-29

    发明人: 庄晓鹏

    摘要: 本发明嵌入式多媒体卡的测试方法、装置、系统及存储介质,其中方法,包括:与嵌入式多媒体卡建立通信连接,获取嵌入式多媒体卡的参考性能数据;依据参考性能数据生成对应的测试数据包,将测试数据包发送到所述嵌入式多媒体卡;获取所述嵌入式多媒体卡运行测试数据包后生成的运行数据;对运行数据进行提取分析,生成测试结果,依据运行数据和测试结果生成测试报告。本发明能够能够全面观测嵌入式多媒体卡在实际操作中的性能表现,并能实时了解嵌入式多媒体卡的运行状态,及时发现可能存在的问题或异常情况。

    设备测试方法、电子设备及计算机可读介质

    公开(公告)号:CN118113540A

    公开(公告)日:2024-05-31

    申请号:CN202410128719.7

    申请日:2024-01-30

    发明人: 毛文斌

    IPC分类号: G06F11/26 G06Q50/04 G06F11/36

    摘要: 本申请公开了一种设备测试方法,方法包括多个单次测试,单次测试包括:通过测试工具,控制被测设备执行当前单次测试的测试用例;获取被测设备返回的单次测试结果;响应于单次测试完成,方法还包括:在根据单次测试结果确定出当前单次测试未通过的情况下,停止测试;在根据单次测试结果确定出当前单次测试通过且存在还未执行的单次测试的情况下,执行下一个单次测试;在根据单次测试结果确定出当前单次测试通过且不存在还未执行的单次测试的情况下,为被测设备生成测试合格标签。本申请还公开了一种电子设备及计算机可读介质。提高了测试的准确性以及管理被测设备的实时性和效率,提高了设备的测试合格标签的可靠性。

    用于计算设备的模块化系统验证平台

    公开(公告)号:CN118103818A

    公开(公告)日:2024-05-28

    申请号:CN202280068349.1

    申请日:2022-10-12

    IPC分类号: G06F11/22 G06F11/26

    摘要: 本文档描述了用于计算设备的模块化系统验证平台的装置、系统和技术。模块化系统验证平台(102)包括用于将主机(106)与外围设备(110)接口连接的接口板(108)。接口板(108)包括装置标识符、被配置成耦合到主机的第一连接器(208‑1)、以及被配置成耦合到外围设备的第二连接器(212)。接口板(108)包括接口电路系统(602),其可以被重新配置以使得不同的外围设备能够使用同一接口板与主机一起操作。接口电路系统通过将电力从主机分配到外围设备并促进主机和外围设备之间的通信来实现主机和外围设备之间的互操作性。通过使用可重新配置接口板来测试和检修处理器和外围设备的互操作性,可以最小化在计算设备的设计和测试阶段期间花费的资源、时间和成本。