一种偏振调制哈特曼-夏克波前探测装置

    公开(公告)号:CN112484864B

    公开(公告)日:2022-07-19

    申请号:CN202011307242.7

    申请日:2020-11-20

    Abstract: 本发明公开了一种偏振调制哈特曼‑夏克波前探测装置,利用波前探测目标光与背景杂散光之间偏振特性差异,通过在微透镜阵列前增加可旋转的波片和检偏器,对入射光束进行偏振调制,获取不同偏振调制状态下的强度分布阵列,并利用偏振复原方法得到单个微透镜对应区域光束偏振信息,最终计算波前斜率并复原波前像差,实现对入射光束波前探测。相对于传统哈特曼‑夏克波前探测装置,本发明专利将波前探测从强度探测维度变换到偏振探测维度,利用目标光与背景杂散光偏振特性差异,将目标光从背景杂散光中分离出来,极大提升信背比,实现强背景下波前探测。本发明特别适合强背景条件下波前探测应用领域,拓展应用范围,提升探测能力,结构简单。

    一种实时偏振调制哈特曼-夏克波前探测装置

    公开(公告)号:CN112484865B

    公开(公告)日:2022-06-28

    申请号:CN202011311863.2

    申请日:2020-11-20

    Abstract: 本发明公开了一种实时偏振调制哈特曼‑夏克波前探测装置,利用波前探测目标光与背景杂散光之间偏振特性差异,通过在微透镜阵列与光强探测器之间增加微偏振片阵列,对经微透镜阵列分割后的入射光束进行0°、45°、90°和135°线性偏振调制,同时获取不同偏振调制状态下的强度分布,并计算入射光束的偏振度、偏振相位角等偏振维度信息,最终得到波前斜率并复原波前像差,实现对入射光束波前探测。相对于传统哈特曼‑夏克波前探测装置,本发明将波前探测从强度探测维度变换到偏振探测维度,利用目标光与背景杂散光偏振特性差异,将目标光从背景杂散光中分离出来,极大提升信背比,实现强背景下波前探测。本发明专利结构紧凑、实时性强。

    一种实时偏振调制哈特曼-夏克波前探测装置

    公开(公告)号:CN112484865A

    公开(公告)日:2021-03-12

    申请号:CN202011311863.2

    申请日:2020-11-20

    Abstract: 本发明公开了一种实时偏振调制哈特曼‑夏克波前探测装置,利用波前探测目标光与背景杂散光之间偏振特性差异,通过在微透镜阵列与光强探测器之间增加微偏振片阵列,对经微透镜阵列分割后的入射光束进行0°、45°、90°和135°线性偏振调制,同时获取不同偏振调制状态下的强度分布,并计算入射光束的偏振度、偏振相位角等偏振维度信息,最终得到波前斜率并复原波前像差,实现对入射光束波前探测。相对于传统哈特曼‑夏克波前探测装置,本发明将波前探测从强度探测维度变换到偏振探测维度,利用目标光与背景杂散光偏振特性差异,将目标光从背景杂散光中分离出来,极大提升信背比,实现强背景下波前探测。本发明专利结构紧凑、实时性强。

    一种偏振调制哈特曼-夏克波前探测装置

    公开(公告)号:CN112484864A

    公开(公告)日:2021-03-12

    申请号:CN202011307242.7

    申请日:2020-11-20

    Abstract: 本发明公开了一种偏振调制哈特曼‑夏克波前探测装置,利用波前探测目标光与背景杂散光之间偏振特性差异,通过在微透镜阵列前增加可旋转的波片和检偏器,对入射光束进行偏振调制,获取不同偏振调制状态下的强度分布阵列,并利用偏振复原方法得到单个微透镜对应区域光束偏振信息,最终计算波前斜率并复原波前像差,实现对入射光束波前探测。相对于传统哈特曼‑夏克波前探测装置,本发明专利将波前探测从强度探测维度变换到偏振探测维度,利用目标光与背景杂散光偏振特性差异,将目标光从背景杂散光中分离出来,极大提升信背比,实现强背景下波前探测。本发明特别适合强背景条件下波前探测应用领域,拓展应用范围,提升探测能力,结构简单。

    一种空间分辨率可变的哈特曼波前传感器

    公开(公告)号:CN112304443A

    公开(公告)日:2021-02-02

    申请号:CN202011195579.3

    申请日:2020-10-30

    Abstract: 本发明公开了一种空间分辨率可变的哈特曼波前传感器,包含有光束发散系统,微透镜阵列,光电探测器和两个平移装置。通过驱动两个平移装置使得设置在其上的微透镜阵列和光电探测器可沿光轴方向前后移动,从而改变分割波前的子孔径阵列数,并通过本发明提出的波前复原算法反演波前,从而实现空间分辨率可变的波前探测能力。本发明直接采用球面波进行标定,简化了光学结构,用微透镜阵列直接分割球面波前,提高了光能利用率,并且实现了采样率大范围连续可调,对输入探测对象特性变化较大的场合具有更好的波前探测适应能力。

    一种自适应光学系统部分失效故障的通用处理方法

    公开(公告)号:CN107728317A

    公开(公告)日:2018-02-23

    申请号:CN201711111717.3

    申请日:2017-11-13

    Abstract: 本发明提供了一种自适应光学系统部分失效故障的通用处理方法,在波前复原的计算过程中,常规方法认为自适应光学系统的传感器子孔径和变形镜驱动器全部有效,因此不能处理自适应光学系统部分失效引起系统工作不稳定的问题。该自适应光学系统部分失效故障的通用处理方法采用对角开关阵描述自适应光学系统的部分失效的情况,可以很好的解决上述问题,且本方法简单方便,通用性好,灵活性高,可应用于多种自适应光学系统孔径缺光和变形镜驱动器失效的情况。

    一种基于模式分解的自适应光学控制方法

    公开(公告)号:CN104777607A

    公开(公告)日:2015-07-15

    申请号:CN201510202918.9

    申请日:2015-04-27

    Inventor: 黄林海 凡木文

    Abstract: 本发明公开了一种基于模式分解的自适应光学控制方法,其中包括模式分解模块,驱动器电压替换模块。模式分解模块将自适应光学波前传感器获得的波前进行模式分解并生成相应的电压数据,驱动器电压替换模块对输出异常的电压数据进行替换,并输出最终的电压数据。该控制方法在驱动器电压保护和自适应光学波前传感器部分子孔径缺光条件下具有较好的控制效果。

    一种大动态范围测量非球面光学元件表面轮廓装置

    公开(公告)号:CN102636130B

    公开(公告)日:2014-07-09

    申请号:CN201210115626.8

    申请日:2012-04-19

    Abstract: 本发明涉及一种大动态范围测量非球面光学元件表面轮廓装置。该装置利用一块子孔径分割光阑来形成特定的入射光束,将该入射光束投影到被检测的非球面光学元件表面上并接收、采集其反射光束所形成的图像,利用像差模式算法复原出被检测非球面光学元件表面轮廓信息或者面形误差信息。在实际检测中,只需要借助普通的辅助会聚镜头,即能对非球面光学元件表面轮廓给出定量的检测数据。相对现有的非球面检验方法,具有较好的环境适应性和很强的通用性,能够适应各种不同批次、不同参数光学非球面的检测要求。

    基于四步空间移相的共光路径向剪切干涉仪

    公开(公告)号:CN101762331B

    公开(公告)日:2013-04-03

    申请号:CN201010034142.1

    申请日:2010-01-15

    Abstract: 一种基于四步空间移相的共光路径向剪切干涉仪,包括:缩束系统、起偏器、环路径向剪切系统CRS,四步空间移相系统SPS、光束编排系统、CCD和计算机组成,畸变光束进入波前传感器,利用缩束系统变换光束口径,起偏器对光束偏振方向进行调制;再进入环路径向剪切系统CRS,形成同光轴、偏振方向互相垂直且光束口径按相同比例缩放的两束光;该两光束进入四步空间移相系统后被分成四对同轴光束,每对同轴光束偏振方向相同且它们之间相位差分别为0、π/2、π、3π/2;四对同轴光束经光束编排后同时进入CCD的光敏面,形成四幅径向剪切干涉图,计算机根据四幅干涉图数据经过两次矩阵运算后即可复原出待测光束畸变波前。本发明扩大了采用干涉法波前传感器的应用领域,优越性明显。

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