公开(公告)号：CN117214653A

公开(公告)日：2023-12-12

申请号：CN202310774386.0

申请日：2023-06-27

申请人： 北京智芯微电子科技有限公司 ,  中国科学院深圳先进技术研究院

发明人： 成嵩 ,  邵翠萍 ,  李慧云 ,  高顺贤

IPC分类号： G01R31/28

摘要： 本发明实施例提供一种芯片瞬态故障失效概率评估方法及系统，属于芯片测试技术领域。所述方法包括：基于测试要求，进行LET值预设，并基于预设的LET值进行目标芯片测试的泊松分布概率模型构建；在所述泊松分布概率模型中，基于伯努利实验模型进行目标芯片测试，基于采样周期进行测试结果采集；基于所述测试结果计算所述泊松分布概率模型的泊松分布参数；基于所述泊松分布参数和所述测试结果获得所述目标芯片的失效概率。本发明方案实现了高效且准确的芯片瞬态故障失效概率评估。

公开(公告)号：CN116010184A

公开(公告)日：2023-04-25

申请号：CN202310153238.7

申请日：2023-02-13

申请人： 北京智芯微电子科技有限公司 ,  北京智芯半导体科技有限公司

发明人： 蒋大伟 ,  王林鹏 ,  王赟 ,  魏斌 ,  成嵩

IPC分类号： G06F11/22

摘要： 本发明公开了一种测试方法、系统、设备、测试程序的处理方法及芯片。其中，芯片的只读存储器中存储有固件调试指令；测试方法包括：执行固件调试指令中的写指令，以预设数据格式的测试程序数据块为固定数据单元，存储芯片FT测试程序数据至芯片的闪存存储阵列；其中，芯片FT测试程序数据是编译针对FT测试需求编写的芯片FT测试程序代码而得到的；测试程序数据块是根据闪存存储阵列的存储单元容量对芯片FT测试程序数据顺序划分而得到的，且与存储单元容量大小匹配；接收测试指令，基于芯片FT测试程序数据对芯片进行测试能够将芯片FT测试程序数据按照固定数据单元写入芯片的闪存存储阵列中，提高了芯片对芯片FT测试数据的下载速度。

公开(公告)号：CN115495293A

公开(公告)日：2022-12-20

申请号：CN202211045263.5

申请日：2022-08-30

申请人： 北京智芯微电子科技有限公司

发明人： 王栋 ,  王健 ,  于锡宁 ,  魏斌 ,  成嵩 ,  刘辉志

IPC分类号： G06F11/22

摘要： 本发明实施例提供一种测试应用程序接口API的方法及系统，属于芯片或电路评价技术领域。所述API设于测试机，该方法包括：所述测试机接收测试命令，所述测试命令包括开启API、关闭API及开启示波器采样和关闭示波器采样中的至少一种；根据所述测试命令控制所述API运行，以及控制所述示波器对API的运行信号进行采样；根据所述示波器的采样结果确定所述API的运行参数。该方法实现了API的自动测试，准确把控API的循环运行的次数和运行样本量。