光学感测装置
    51.
    发明授权

    公开(公告)号:CN103455209B

    公开(公告)日:2016-09-28

    申请号:CN201210182994.4

    申请日:2012-06-04

    IPC分类号: G06F3/042

    摘要: 本发明公开了一种光学感测装置,包含:一感测表面,位在光学滚轮上;一第一光源,用以提供平行该感测表面的光;一影像传感器,位在该光学滚轮内,用以感测接近该感测表面的一物体,以产生一物体影像;以及一物体位置判断装置,位在该光学滚轮内,用以根据该物体影像计算出该物体的位置信息。

    图像传感器
    53.
    发明公开

    公开(公告)号:CN104270582A

    公开(公告)日:2015-01-07

    申请号:CN201410545408.7

    申请日:2011-03-03

    IPC分类号: H04N5/351 H04N5/359

    摘要: 本发明公开了一种图像传感器,该图像传感器包含一感测矩阵和多条快门控制线。感测矩阵具有多个感测单元,各感测单元具有一个电子快门及一光检测元件,其中该电子快门控制该光检测元件的曝光时间。每一条快门控制线耦接该感测矩阵中同一列或同一行的电子快门,借此独立地控制相异列或相异行的光检测元件的曝光时间,且使耦接同一条的该快门控制线的所述光检测元件具有相同曝光时间。

    以自然影像进行的手势辨识方法

    公开(公告)号:CN103778405A

    公开(公告)日:2014-05-07

    申请号:CN201210395357.5

    申请日:2012-10-17

    发明人: 杨恕先

    IPC分类号: G06K9/00 G06F3/01

    摘要: 一种以自然影像进行的手势辨识方法,利用前后两帧或更多帧影像产生变化影像,计算该变化影像的画面特征值,将所述画面特征值的变化模式与手势定义比较,以判断手势。本发明对影像模糊具有先天抵抗能力,而且可在不需固定手势下支援X、Y、Z三轴的运动。

    具有位置信息的薄膜和导光板以及位置侦测系统

    公开(公告)号:CN103576992A

    公开(公告)日:2014-02-12

    申请号:CN201210277298.1

    申请日:2012-08-06

    发明人: 杨恕先 程瀚平

    IPC分类号: G06F3/042 G06F3/0354 G02B6/00

    摘要: 本发明公开了一种位置侦测系统,包含:位置信息提供装置,具有光射出侧,位置信息区分布在该光射出侧的外侧表面,当光束自该光射出侧的至少一部分射出时,该光束会带有该位置信息区的位置信息;收发器,用以接收带有该位置信息的该光束;以及处理器,根据该收发器所接收到的该位置信息判断该收发器相对应该位置信息提供装置的位置。位置信息提供装置可包含导光板或薄膜,且此导光板或薄膜也可运用在其它电子装置上。

    图像定位方法及使用所述方法的互动图像系统

    公开(公告)号:CN103376950A

    公开(公告)日:2013-10-30

    申请号:CN201210110453.0

    申请日:2012-04-13

    IPC分类号: G06F3/042

    摘要: 一种图像定位方法,该图像定位方法包含下列步骤:使用图像传感器获取图像帧;识别所述图像帧中的至少一个物体图像;比较所述物体图像的物体图像尺寸与尺寸阈值,并将所述物体图像尺寸大于所述尺寸阈值的物体图像识别为参考点图像;以及定位所述参考点图像。本发明还提供一种互动图像系统。

    触控输入装置及其操作方法

    公开(公告)号:CN103135817A

    公开(公告)日:2013-06-05

    申请号:CN201110383888.8

    申请日:2011-11-28

    发明人: 杨恕先

    IPC分类号: G06F3/041

    摘要: 本发明涉及多种触控输入装置及相关的操作方法。本发明的其中一种触控输入装置包括二个纳米碳管层、多个接触垫以及一个处理电路。其中,二个纳米碳管层中的纳米碳管的排列方向互不相同。接触垫划分成二组,以分别电性连接二个纳米碳管层的边缘,且每组接触垫的排列方向垂直于对应纳米碳管的排列方向。处理电路提供比较电压至其中一组接触垫,并读取另一组接触垫上的电压值。当其中一纳米碳管层受外力而使其对应于外力的受力点电性接触另一纳米碳管层时,处理电路根据读取的电压值计算外力的力道。由于纳米碳管具电阻异向特性,因此多个触碰点所对应的感测信号的间的干扰极小,使得本发明极适合进行多点触控,并能侦测这多个触碰点的二维位置。