高低通分布式单谱段集成型光谱成像芯片结构

    公开(公告)号:CN111024230A

    公开(公告)日:2020-04-17

    申请号:CN201911190019.6

    申请日:2019-11-28

    IPC分类号: G01J3/12

    摘要: 本发明属于光谱成像技术领域,具体涉及一种高低通分布式单谱段集成型光谱成像芯片结构。所述芯片结构采用RGBG对应滤波单元呈两行两列排列的拜耳阵列结构,在CMOS传感器对应像素上集成不同滤波器,由四个微型滤波单元构成一个周期,按照该结构进行周期排列,形成单谱段光谱成像芯片的结构。其中,在每个所述周期中,包含两个相同中心波长的FPI滤波单元以及高通滤波单元、低通滤波单元;本发明中像素级微小高通滤波及低通滤波单元作为单谱段光谱成像微系统芯片结构组成部分,相对于现有技术依赖不同滤波器,该发明结构的单谱段光谱成像微系统结构应用简单,且半导体集成微小滤波单元相对于分立滤波器而言,成本较低,制作工艺成熟。

    单芯片集成型光谱成像微系统光谱数据校正方法

    公开(公告)号:CN111024229A

    公开(公告)日:2020-04-17

    申请号:CN201911190015.8

    申请日:2019-11-28

    IPC分类号: G01J3/12

    摘要: 本发明属于光谱成像技术领域,具体涉及一种单芯片集成型光谱成像微系统光谱数据校正方法。所述校正方法包括:步骤1:完成底层校正算法的设计;步骤2:根据底层校正算法计算校正矩阵;步骤3:将校正矩阵作用于光谱成像微系统输出光谱数据,得到校正后结果。本发明相对于现有迭代校正的技术方法,从硬件结构特性出发,提高了光谱成像微系统的光谱数据准确度。同时,减小校正矩阵对参考目标光谱数据的依赖性,对于不同的实际场景下应用均适用。底层校正算法的引入,初步解决了光谱成像微系统硬件结构及固有特性带来的影响光谱准确因素对光谱数据的影响问题,提高了光谱成像微系统光谱数据准确度。

    面向绿色植被检测的凝视型光谱芯片结构及其制备方法

    公开(公告)号:CN109827658A

    公开(公告)日:2019-05-31

    申请号:CN201910220618.1

    申请日:2019-03-22

    摘要: 本发明涉及一种面向绿色植被检测的凝视型光谱芯片结构及其制备方法,涉及光谱成像技术领域。本发明在具有较好透过率的光谱范围内,能够构造成一种3*3结构的马赛克式大滤波透镜阵列结构的面向绿色植被检测的凝视型光谱芯片结构,该面向绿色植被检测的凝视型光谱芯片结构可以集成为多光谱相机,能够实现快照拍摄。由于是半导体器件级别,体积小、重量轻、可以集成在不同的应用平台,此外成本也低。可将多光谱成像拓展在更广的应用场景中。该结构的面向绿色植被检测的凝视型光谱芯片结构主要是面向绿色植被检测的,可以用反伪装检测应用、叶绿素含量检测和蓝藻水华检测。

    一种傅立叶光谱仪的高效去噪方法

    公开(公告)号:CN106644075A

    公开(公告)日:2017-05-10

    申请号:CN201611011821.0

    申请日:2016-11-17

    IPC分类号: G01J3/28

    CPC分类号: G01J3/28 G01J2003/2843

    摘要: 本发明属于光谱分析技术领域,具体涉及一种傅立叶光谱仪的高效去噪方法。与现有技术相比较,本发明提供一种基于频域分析的傅里叶光谱数据线性滤波处理方法,对于单一频率的正旋波,采用频域滤波后目标型号的峰峰对比度为19.96比不采用频域滤波的峰峰值17.74高出了12.5%,说明本方法在非线性噪声的影响下对于信号的还原能力比传统方法有着更好的表现。

    用于具有FP腔的MEMS滤光片的测试夹具

    公开(公告)号:CN216207434U

    公开(公告)日:2022-04-05

    申请号:CN202122496279.5

    申请日:2021-10-18

    IPC分类号: G01M11/00

    摘要: 本实用新型提供了一种用于具有FP腔的MEMS滤光片的测试夹具,该用于具有FP腔的MEMS滤光片的测试夹具包括:本体,本体位于单光仪光路内,本体具有通光孔;待测样品放置台,待测样品放置台位于本体的第一侧上,具有FP腔的MEMS滤光片置于待测样品放置台上时与通光孔位于同一光路内;样品挡片组件,样品挡片组件位于本体的第一侧上,通过调整样品挡片组件与待测样品放置台之间的位置关系以调整具有FP腔的MEMS滤光片在竖直方向的倾斜角度;电气连接组件,电气连接组件位于本体的第一侧上,电气连接组件与具有FP腔的MEMS滤光片电连接。应用本实用新型的技术方案,能够解决现有技术中滤光片位姿自由度不足导致无法实现MEMS滤光片在不同角度下通光测试的技术问题。