带土壤湿度校正的γ吸收剂量率仪及校正方法

    公开(公告)号:CN106970409A

    公开(公告)日:2017-07-21

    申请号:CN201710346020.8

    申请日:2017-05-17

    IPC分类号: G01T1/02 G01T7/00

    CPC分类号: G01T1/02 G01T7/005

    摘要: 本发明公开了一种带土壤湿度校正的γ吸收剂量率仪,包括探测器和主机,所述探测器包括壳体和壳体内的探测头,所述探测头竖直向下,顶部依次设置有光电倍增管和前置放大电路,探测器两侧分别设有一撑杆,撑杆底部超过探测器底部,撑杆上分别设有滑杆,所述滑杆下表面分别固定连接一土壤湿度计,所述土壤湿度计的输出端与主机连接。本发明能对探测器得实际测量数据根据湿度进行实时的修正,使数据在经过湿度校正后更加准确可靠,符合样品需在干燥的条件下用于比较和判断的要求。

    X射线检测系统
    53.
    发明公开

    公开(公告)号:CN106842283A

    公开(公告)日:2017-06-13

    申请号:CN201710154794.0

    申请日:2017-03-15

    IPC分类号: G01T7/00

    CPC分类号: G01T7/005

    摘要: 本发明公开了一种X射线检测系统,涉及X射线检测领域,主要目的是提供一种方便对X射线检测仪器进行检定、校准和检测的X射线系统。本发明的主要技术方案为一种X射线检测系统,包括:发射装置,发射装置包括支架和发射球管,发射球管滑动连接支架,发射球管用于发射X射线;调节装置,调节装置设置在发射装置一侧的对应位置,用于放置待检装置,使待检装置接收X射线;位移架,位移架固定连接支架,调节装置滑动连接位移架,并且能够朝X射线延伸的轴向方向移动;控制部,控制部连接发射装置和调节装置,用于控制发射球管和调节装置的滑动距离和滑动方向。本发明主要用于检测X射线检测仪器。

    一种X射线掠入射镜头远距离光源对准装置及其对准方法

    公开(公告)号:CN106569254A

    公开(公告)日:2017-04-19

    申请号:CN201610974764.X

    申请日:2016-11-04

    IPC分类号: G01T7/00 G01M11/00

    CPC分类号: G01T7/005 G01M11/00

    摘要: 本发明公开了一种X射线掠入射镜头远距离光源对准装置,包括扩束激光器、双轴姿态调整架、升降平移三角架、孔径光阑、四自由度平移旋转台、掠入射镜头和X射线源;扩束激光器安装在双轴姿态调整架上,双轴姿态调整架安装在升降平移三角架上,掠入射镜头安装在四自由度平移旋转台上,孔径光阑安装在扩束激光器和掠入射镜头之间,X射线源安装在扩束激光器和孔径光阑之间;本发明通过设置扩束激光器、双轴姿态调整架、升降平移三角架、孔径光阑和四自由度平移旋转台,实现了掠入射镜头和X射线源的高精度对准,解决了传统装置精度较低的问题;通过四自由度平移旋转台微调掠入射镜头位置和姿态,简化了操作过程,弥补了传统装置操作复杂的缺陷。

    光子能谱装置、相应的方法和该装置的用途

    公开(公告)号:CN103492908B

    公开(公告)日:2017-04-05

    申请号:CN201280019808.3

    申请日:2012-03-12

    IPC分类号: G01T1/40 G01T7/00

    CPC分类号: G01T1/36 G01T1/40 G01T7/005

    摘要: 本申请涉及一种光子能谱装置(2),所述光子能谱装置(2)包括至少一个能够检测光子的传感器(12);至少两个具有不同的基准谱线的光发射校准源(S1,S2);以及处理器件(8,16),所述处理器件(8,16)能够针对所述或每个传感器(12)提供与所述或每个传感器(12)对产品(4)在一时段内的辐射所做出的测量结果相对应的测量能谱,并且基于所述或每个测量能谱,根据对应于所述或每个校准源(S1,S2)的测得的特征谱线来建立净修正能谱。所述或每个校准源(S1,S2)位于所述或每个传感器(12)的外部。

    一种晶体测试平台均一性校正方法

    公开(公告)号:CN106526656A

    公开(公告)日:2017-03-22

    申请号:CN201610923276.6

    申请日:2016-10-29

    发明人: 屈春蕾

    IPC分类号: G01T7/00

    CPC分类号: G01T7/005

    摘要: 本发明公开了一种晶体测试平台均一性校正方法,晶体测试平台包含M×N个SiPM,每个SiPM的有效探测面积为X mm×X mm,SiPM间距为Y mm,每个SiPM的信号输出特性都存在一定差异,因此要进行均一性校正才能使晶体测试平台达到出厂要求。用于均一性校正的标准晶体阵列由M×N个尺寸为X mm×X mm×H mm的硅酸钇镥(LYSO)或(硅酸镥(LSO)晶体条组成,晶体条间距为Y mm,晶体条之间填充有白色不透明反光材料,阵列外围5个面均被白色不透明包裹。该标准晶体阵列所使用的每一根晶体条的光输出性能都经过了检测,整个校正过程无需使用放射源,一次采集便可获得校正所需所有数据,该方法可以大幅提升晶体测试平台均一性校正速度,从而降低晶体测试平台生产成本。

    一种用于现场校准的便携式X射线照射装置

    公开(公告)号:CN106376165A

    公开(公告)日:2017-02-01

    申请号:CN201610842745.1

    申请日:2016-09-22

    IPC分类号: H05G1/02 G01T7/00

    CPC分类号: H05G1/02 G01T7/005

    摘要: 本发明属于剂量率仪校准技术领域,公开了一种用于现场校准的便携式X射线照射装置。该便携式X射线装置包括X射线装置、后屏蔽体、屏蔽体、限束光阑、附加过滤装置、束流监视装置、激光测距仪、激光定位仪以及控制系统,其中X射线装置固定于屏蔽体内部空腔中,其包括X射线管、高压发生器、低压电缆及控制单元。该照射装置具有便携式、稳定性好、重复性好且能够对固定式X、γ辐射剂量率仪现场校准的有益效果。

    一种用于闪烁体探测器的性能校验装置

    公开(公告)号:CN106168674A

    公开(公告)日:2016-11-30

    申请号:CN201610602815.6

    申请日:2016-07-27

    IPC分类号: G01T7/00 G01T1/208

    CPC分类号: G01T7/005 G01T1/208

    摘要: 本发明涉及核辐射测量技术领域,尤其涉及一种用于闪烁体探测器的性能校验装置,包括放射件、伸缩件和基座,放射件包括壳体与填充于壳体内的化学试剂,放射件与闪烁体探测器的垂直距离为50cm,伸缩件的一端与放射件连接,另一端与基座连接,以调整放射件距离地面的高度。本发明将置有放射源的放射件设置于离闪烁体探测器50cm处,伸缩件与基座配合固定支撑放射件,调节放射件距离地面距离,以适应对不同高度的闪烁体探测器的性能检测,操作人员可通过本发明设置完毕后闪烁体探测器的实际反应,判断出闪烁体探测器的灵敏情况,完成对闪烁体探测器的性能校验。本发明的结构简单,组装方便,体积小重量轻,便于携带和检修更换。

    X射线计算机断层摄影装置校准和验证设备

    公开(公告)号:CN103987319B

    公开(公告)日:2016-08-17

    申请号:CN201380004192.7

    申请日:2013-01-29

    IPC分类号: A61B6/00 G01N23/04

    摘要: 一种用于校准x射线计算机断层摄影成像装置的设备具有由对于x射线来说可见的材料形成的多个物体以及至少部分地固定地支撑所述多个物体使得多个物体中的每一个接触其它物体中的至少一个的基底。多个物体中的每一个:(1)被构造为接收x射线而没有改变形状;(2)与其它物体具有基本上相同的形状和大小;(3)具有针对x射线的衰减值(“物体衰减值”);以及(4)具有相对于其中心点对称的形状。与物体类似地,基底也具有针对x射线的衰减值(“基底衰减值”)。物体衰减值大于基底衰减。多个物体中的每一个被运动学地约束在基底上。