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    用于直接转换x射线检测器的极化校正
    2.
    发明公开
    用于直接转换x射线检测器的极化校正 有权

    公开(公告)号：CN108139494A

    公开(公告)日：2018-06-08

    申请号：CN201680061282.3

    申请日：2016-10-11

    申请人： 皇家飞利浦有限公司

    发明人： R·斯特德曼布克 ,  E·罗塞尔 ,  H·德尔

    IPC分类号： G01T1/24

    CPC分类号： G01T7/005 ,  A61B6/4241 ,  A61B6/585 ,  G01T1/24 ,  G01T1/247

    摘要： 光子计数x射线检测器(3)遭受归因于极化的性能退化。为了校正极化对所生成的x射线图像的影响，本发明提出(i)将辐射检测器(3)暴露于由另一辐射源(11)发射的第一辐射脉冲，并且获得辐射检测器(3)响应于第一辐射脉冲而生成的第一电脉冲信号(3)，(ii)随后在采集图像期间将辐射检测器(3)暴露于由另一辐射源(11)发射的第二辐射脉冲，并且获得辐射检测器(3)响应于第二辐射脉冲而生成的第二电脉冲信号，以及(iii)比较第一电脉冲信号和第二电脉冲信号的幅度，并且基于该比较的结果生成x射线图像。本发明提供了一种对应的x射线设备和一种对应的方法。

    放射线图像摄影装置及热扩散方法
    3.
    发明公开
    放射线图像摄影装置及热扩散方法 有权

    公开(公告)号：CN108065946A

    公开(公告)日：2018-05-25

    申请号：CN201711083783.4

    申请日：2017-11-07

    申请人： 富士胶片株式会社

    发明人： 堀内久嗣 ,  叶真一

    IPC分类号： A61B6/00

    CPC分类号： G01T1/244 ,  G01T1/247 ,  G01T1/2928 ,  G01T7/00 ,  G01T7/005 ,  A61B6/4488 ,  A61B6/4411 ,  A61B6/5211

    摘要： 本发明提供一种能够改善放射线检测器的温度不均的放射线图像摄影装置及热扩散方法。放射线图像摄影装置(10)具备：放射线检测器(40)，其以二维状配置有积蓄与所照射的放射线(R)相应的电荷的多个像素(44)；控制部(60)即FPGA(62)，其控制放射线检测器；放射线照射部(14)，其射出放射线(R)；C臂(20)，其一体地变更相对于规定方向的一例即垂直方向的放射线检测器及FPGA的角度；散热片(70)，其设置有沿规定的引导方向(D)引导气流的叶片(72)，且对FPGA的热量进行散热；及容纳部(12)，其容纳放射线检测器、FPGA及散热片，且具有从放射线照射部射出的放射线所照射的放射线检测面(16)。

    具有加热设备的辐射探测器
    4.
    发明授权
    具有加热设备的辐射探测器 有权

    公开(公告)号：CN105765406B

    公开(公告)日：2018-01-05

    申请号：CN201580002725.7

    申请日：2015-09-15

    申请人： 皇家飞利浦有限公司

    发明人： R·斯特德曼布克 ,  C·赫尔曼 ,  F·韦尔巴凯尔

    IPC分类号： G01T1/24

    CPC分类号： G01T1/244 ,  A61B6/032 ,  A61B6/4488 ,  G01T1/247

    摘要： 本发明涉及一种辐射探测器(100')和方法，其用于探测辐射，尤其用于探测在CT成像装置(1000')中的X射线(X)。根据优选实施例，所述辐射探测器(100')包括用于将入射辐射(X)转换为电信号的转换元件(110)，所述电信号由读出电路(120)读出和处理。提供了一种包括珀耳帖元件的热源(135')的加热设备，利用所述加热设备，所述转换元件(110)能够被可控地加热，以便减少在图像精确度上的例如极化的负面影响，其中，所述珀耳帖元件的散热片(137')被取向为朝向所述读出电路。

    X射线探测器
    5.
    发明授权
    X射线探测器 有权

    公开(公告)号：CN103998952B

    公开(公告)日：2017-09-26

    申请号：CN201280062943.6

    申请日：2012-12-06

    申请人： 皇家飞利浦有限公司

    发明人： C·赫尔曼

    IPC分类号： G01T1/17 ,  G01T1/24 ,  G01T1/29

    CPC分类号： G01T1/17 ,  G01N23/04 ,  G01T1/208 ,  G01T1/247 ,  G01T1/2985

    摘要： 本发明涉及一种X射线探测器，所述X射线探测器包括传感器单元(200、300)，其用于探测入射X射线辐射，所述传感器单元(200、300)包括多个传感器元件(230、311‑314)、每个传感器元件的计数通道(240)、每个传感器元件的集成通道(250)和处理单元(260)，每个传感器元件的所述计数通道(240)用于通过对自测量间隔开始响应于入射X射线辐射而生成的光子或电荷脉冲进行计数来获得计数信号，每个传感器元件的所述集成通道(250)用于获得表示自测量间隔开始探测到的辐射的总能量的集成信号，所述处理单元(260)用于从传感器元件(321)的集成信号中估计传感器元件(311、312)的计数信号，所述传感器元件(311、312)的计数通道在测量间隔期间已经是饱和的，其中，所述处理单元(260)适于根据获得的传感器元件的集成信号来确定对象模型，并且根据所述对象模型来确定饱和传感器元件的计数信号。

    读取电路
    6.
    发明公开
    读取电路 有权

    公开(公告)号：CN106921387A

    公开(公告)日：2017-07-04

    申请号：CN201610955356.X

    申请日：2016-10-27

    申请人： 浜松光子学株式会社

    发明人： 中村重幸 ,  太田刚 ,  平柳通人 ,  铃木裕树 ,  足立俊介

    IPC分类号： H03K23/78

    CPC分类号： G01T1/247 ,  G01T1/18 ,  H01L31/02027 ,  H03K23/78

    摘要： 本发明涉及一种读取电路，是读取来自将在分别包含雪崩光电二极管的多个像素中产生的电流一并输出的光电转换元件的输出电流的电路，包括：接收上述输出电流，输出与上述输出电流成比例的大小的第1和第2电流的电流镜像电路；基于上述第1电流，进行入射至上述光电转换元件的光子的计数的光子计数电路；对上述第2电流进行积分而生成电压信号的积分电路；和基于从上述光子计数电路输出的计数结果和从上述积分电路输出的上述电压信号的大小，判断入射至上述光电转换元件的光的大小的信号处理部。

    光子计数探测器
    9.
    发明授权
    光子计数探测器 失效

    公开(公告)号：CN103765244B

    公开(公告)日：2016-06-29

    申请号：CN201280042035.0

    申请日：2012-08-16

    申请人： 皇家飞利浦有限公司

    发明人： E·勒斯尔 ,  R·普罗克绍

    IPC分类号： G01T1/24

    CPC分类号： G01T1/24 ,  G01T1/241 ,  G01T1/247

    摘要： 一种探测器阵列包括至少一个直接转换探测器像素（114-114M），所述至少一个直接转换探测器像素被配置为探测多色电离辐射的光子。所述像素包括阴极层（116）、阳极层（118）、直接转换材料（120）和栅电极，所述阳极层包括用于所述至少一个探测器像素中的每个的阳极电极（118-118M），所述直接转换材料被放置在阴极层和阳极层之间，所述栅电极被放置在所述直接转换材料中，平行于并且在阴极层和阳极层之间。