一种继电保护器箱体的支撑结构
    61.
    发明公开

    公开(公告)号:CN117039674A

    公开(公告)日:2023-11-10

    申请号:CN202310997145.2

    申请日:2023-08-09

    摘要: 本发明涉及支撑结构技术领域,公开了一种继电保护器箱体的支撑结构,其包括有支撑组件,所述支撑组件包括底板和支撑板,所述底板和所述支撑板之间均布有支撑弹簧,所述支撑弹簧一端和所述底板抵接,另一端和所述支撑板抵接,所述支撑板底部设有球形连接部,所述球形连接部和所述底板之间转动连接;多个调节组件,分别位于所述支撑板上,用于调节所述底板和所述支撑板之间的安装角度,使支撑板始终保持水平状态;两个安装组件,沿第一方向间隔设置且分别位于继电器箱体两端,用于和继电器箱体固定,且和所述支撑板弹性连接。本发明的有益效果:避免继电保护器箱体安装时发生歪斜,发生碰撞时可缓冲,避免箱体损坏。

    一种光耦的预期寿命评估方法、装置及介质

    公开(公告)号:CN116298848A

    公开(公告)日:2023-06-23

    申请号:CN202310196668.7

    申请日:2023-03-02

    IPC分类号: G01R31/327 G01R31/00

    摘要: 本发明公开一种光耦的预期寿命评估方法、装置及介质,所述方法包括:设置潮热条件并按照试验周期向待测光耦间歇性供电,监测所述待测光耦的敏感参数变化,得到样品数据;根据所述待测光耦的敏感参数变化,确定所述样品数据中所述待测光耦失效情况;根据所述待测光耦的失效寿命或伪失效寿命进行多次拟合,保证失效机理未发生变化的前提下从多次拟合中选出拟合优度最大的分布函数构建寿命模型;结合确认的加速模型、外场应力数据,利用所述寿命模型计算在所述外场应力数据影响下所述待测光耦的预期寿命。采用本发明,将影响光耦寿命的因素从单一的温度,延伸到温度与湿度,使实验条件更贴近真实工况,进而提高寿命预估精度。