激光光斑定位仪
    61.
    发明公开

    公开(公告)号:CN1384335A

    公开(公告)日:2002-12-11

    申请号:CN02114631.4

    申请日:2002-06-19

    Abstract: 一种激光光斑定位仪,用于精确测量高能激光传输一段距离后光斑的位置,也可以应用于其他可见或非可见激光传输一段距离后光斑位置的确定。它主要包括设置于激光器出口处的机械调制盘和设置于激光经机械调制盘之后的光斑定位位置的探测显示阵列。机械调制盘的遮光片与电机的输出传动装置相连接,探测显示阵列由探测显示单元组成。探测显示单元包括选频放大器,光敏管接于其输入端,发光管接于其输出端。采用本发明有效地解决了高能激光试验中由于信标光弱、背景光强而导致的光斑无法定位的问题,避免了因瞄准问题而造成的浪费,并且大大提高了工作效率。

    基于正交扫描的激光光斑分布及PIB因子测量装置和方法

    公开(公告)号:CN114112029B

    公开(公告)日:2023-06-20

    申请号:CN202111376414.0

    申请日:2021-11-19

    Abstract: 本发明涉及一种激光参数测量装置及使用该装置的激光参数测量方法,以解决现有激光PIB因子测量及光斑空间分布测量方法,尤其在测量厘米级尺度的PIB因子时,现有扫描取样方法中,由于取样孔的数量有限,且探测器采样的频率高,导致取样空间分辨率严重不对称的问题。本发明提供的基于正交扫描的激光光斑分布及PIB因子测量装置和方法,采用正交排布的两组渐开线阵列取样孔分时同步扫描激光光斑,获取两个维度上比较均匀的空间分辨率,最终实现光斑最强功率点的捕捉,测量得到较准确的PIB因子,同时还可以将两幅扫描图像合并为一幅图像进行融合处理,实现光斑的高分辨测量。

    基于导光管取样的级联衰减结构及安装方法、探测阵列

    公开(公告)号:CN114674425A

    公开(公告)日:2022-06-28

    申请号:CN202210306604.3

    申请日:2022-03-25

    Abstract: 本发明涉及基于导光管取样的级联衰减结构及安装方法、探测阵列,解决强光衰减器的衰减倍数难以大范围调节,强光防护和衰减取样高度耦合导致防护能力提升受限的难题。本发明包括防护板、导光管以及衰减器;防护板前表面设置有激光防护层,轴向设置有通孔;导光管位于通孔内,且其一端与激光防护层的前表面平齐,另一端连接衰减器的前端;衰减器后端连接有输出板,衰减器与输出板相互配合形成衰减器腔;衰减器前端设置有与导光管另一端对应的输入孔;输出板上设置有输出孔;衰减器腔内安装有若干挡光片,挡光片将衰减器腔分为多个小型衰减器腔;挡光片上设置有至少一个光通道。本发明用于高能量密度激光测量。

    一种基于定量水直接吸收的激光能量测量装置及方法

    公开(公告)号:CN114608700A

    公开(公告)日:2022-06-10

    申请号:CN202210189287.1

    申请日:2022-02-28

    Abstract: 本发明提供了一种基于定量水直接吸收的激光能量测量装置及方法,以解决现有技术中高能激光能量测量装置系统庞大、装置复杂以及测量不确定度高的技术问题。本发明提供的一种基于定量水直接吸收的激光能量测量装置,包括密封腔体、热吸收介质水、第一温度传感器以及压力传感器;所述密封腔体四周设置有外壁,其激光迎光面设置有玻璃窗口,外壁和玻璃窗口的端面密封并合围形成密封腔体;密封腔体内设置有热吸收介质水以及与外部电机连接的搅拌器;所述外壁的内侧和外侧均设置有隔热层。本发明提供的测量方法通过密封腔体内的热吸收介质水作为激光吸收介质,利用热吸收介质水的最高温度与初始温度之间的温差获得入射激光的总能量。

    一种强激光远场功率衰减取样装置及方法

    公开(公告)号:CN114088200A

    公开(公告)日:2022-02-25

    申请号:CN202111357218.9

    申请日:2021-11-16

    Abstract: 本发明涉及激光测量技术,具体涉及一种强激光远场功率衰减取样装置及方法,以解决现有激光衰减装置无法实现远场激光系统光轴对准的技术问题。该衰减取样装置包括机架、设置在机架上级联的第一级楔镜和第二级楔镜、第一楔镜调节单元、第二楔镜调节单元及机架调节单元;第一级楔镜将入射激光束反射后,反射激光束入射到到第二级楔镜,经第二级楔镜反射后,获得衰减后的取样激光束;入射激光束和反射激光束所在的平面与反射激光束和取样激光束所在的平面夹角为90°;第一级楔镜和第二级楔镜的楔角相等且均为3‑8°。同时本发明还提出一种强激光远场功率衰减取样方法,实现了高功率激光在远场靶点处的高精度衰减取样。

    基于转筒螺旋线孔取样的激光光束质量测量装置和方法

    公开(公告)号:CN106918446B

    公开(公告)日:2019-06-07

    申请号:CN201710132113.0

    申请日:2017-03-07

    Abstract: 本发明公开了一种基于转筒螺旋线孔取样的激光光束质量测量装置及方法,装置包括转筒、光电探测器和数据采集处理单元,转筒绕转轴高速旋转,转筒的筒壁上至少设置有一组沿转轴轴线方向呈螺旋线排布的取样孔,取样孔的中心线与转轴轴线垂直相交,待测量激光束沿垂直于转轴的轴线方向从转筒外部入射至转筒内部的光电探测器,取样孔的孔径小于待测量激光束的尺度,相邻两只取样孔在转筒横截面上的间距大于待测量激光束的尺度。本发明通过设置取样孔的位置,确保光电探测器只能接收到一个取样孔的信号,使得在一个光束扫描周期内,可以获得整个光束的光强分布及光强峰值,模拟了光阑孔沿光束截面上微调以获取焦斑中心处功率并测量光束质量PIB的方式。

    一种金属试件表面激光反射率测量装置及方法

    公开(公告)号:CN106568720B

    公开(公告)日:2019-06-07

    申请号:CN201611004766.2

    申请日:2016-11-15

    Abstract: 本发明属于激光效应测试技术领域,涉及一种金属试件表面反射率测量装置及方法。本发明提供的装置包括测量积分球和背景积分球,测量积分球和背景积分球的连接处设置有贯通的试件安装孔;测量积分球上安装有测量光电探测器,背景积分球上安装有背景光电探测器;测量积分球上还设置有激光入孔,激光入孔位于与试件安装孔相对的另一侧球壁上。本发明通过设置串形的积分球组,采用测量积分球和背景积分球分别获取测量信号和背景热辐射信号,经过数据处理得到真实的反射率系数,克服了金属试件表面在高温下热辐射信号对反射率测量的影响。

    激光与表面气流联合破坏效应的试验系统及方法

    公开(公告)号:CN108731902A

    公开(公告)日:2018-11-02

    申请号:CN201810541873.1

    申请日:2018-05-30

    Abstract: 本发明属于激光应用技术领域,涉及一种激光与表面气流联合破坏效应的试验系统及方法,目的在于克服现有试验系统成本高昂、体积庞大和适用范围窄的缺点。本发明的技术方案是:一种激光与表面气流联合破坏效应的试验系统,包括靶目标、光束模块、气流模拟模块和监测设备,所述光束模块包括激光器和第一全反镜,所述第一全反镜设置在激光器的出射光路上;所述气流模拟模块包括电机和与电机转轴固连的支撑组件;第一全反镜、靶目标和监测设备均固定在支撑组件上端,其中第一全反镜设中间,靶目标和监测设备分别设在第一全反镜的两侧;激光器发出的光经第一全反镜反射照射在靶目标上,靶目标表面的光信号进入监测设备而不被第一全反镜遮挡。

    基于平板渐开线孔取样的激光光束质量测量装置和方法

    公开(公告)号:CN106768316A

    公开(公告)日:2017-05-31

    申请号:CN201710131735.1

    申请日:2017-03-07

    CPC classification number: G01J1/4257 G01J1/0403

    Abstract: 本发明公开了一种基于平板渐开线孔取样的激光光束质量测量装置及方法,装置包括平板、光电探测器和数据采集处理单元,平板绕转轴高速旋转,平板上至少设置有一组沿转轴轴线方向呈渐开线排布的取样孔,待测量激光束沿取样孔方向入射至平板另一侧的光电探测器,或者待测量激光束入射至光学元件折返至光电探测器;本发明通过设置取样孔的位置,确保光电探测器只能接收到一个取样孔的信号,使得在一个光束扫描周期内,可以获得整个光束的光强分布及光强峰值,模拟了传统的光阑孔沿光束截面上微调以获取焦斑中心处功率并测量光束质量PIB的方式。

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