嵌入式耐高温高压大输出光斑的光纤准直器及其与待测件的组合体和使用方法

    公开(公告)号:CN118192011A

    公开(公告)日:2024-06-14

    申请号:CN202311046025.0

    申请日:2023-08-18

    Abstract: 本发明涉及一种光纤准直器,本发明的目的是解决现有光纤准直器在作为探头嵌入到发动机燃烧室等高温高压待测件流场中时,存在耐受温度、耐受压力、密封性、光束稳定性以及与待测件的连接强度无法满足需求的技术问题,而提供一种嵌入式耐高温高压大输出光斑的光纤准直器及其与待测件的组合体和使用方法。本发明包括准直器本体、设置在准直器本体内一端的光纤组件、设置在准直器本体内另一端的透镜组件;准直器本体包括镜筒和设置在镜筒外壁的法兰盘;光纤组件包括光纤固定件、光纤插芯和光纤;透镜组件包括设置在第一透镜安装孔内的第一透镜、设置在第二透镜安装孔内的第二透镜和紧固圆环。本发明具有耐高温高压和密封性好等优点。

    空间用光纤激光器功率特性及纤芯温度受辐射影响的分析方法

    公开(公告)号:CN109708846A

    公开(公告)日:2019-05-03

    申请号:CN201910104644.8

    申请日:2019-02-01

    Abstract: 为了解决光纤激光器的辐照实验存在实验费用比较昂贵、辐射环境单一的问题,本发明提供了一种空间用光纤激光器功率特性及纤芯温度受辐射影响的分析方法,抓住辐致损耗这一空间辐射对光纤激光器的主要影响因素,建立了辐射环境表征参数与光纤激光器功率和温度的数学联系,实现定量分析评估辐射环境对空间用光纤激光器功率特性及纤芯温度的影响程度,可用于提前预估或事后评价空间用光纤激光器功率特性及纤芯温度的变化情况,缩短了器件辐照实验考核时间,降低了辐照实验成本。本发明不仅可以对在确定辐射条件下的光纤激光器的功率特性和纤芯温度进行分析,还能够对光纤激光器在空间环境应用时,功率特性和纤芯温度受空间辐射影响情况进行预估。

    用于大角度入射高能激光的衰减取样装置

    公开(公告)号:CN104019891B

    公开(公告)日:2016-04-06

    申请号:CN201410279528.7

    申请日:2014-06-20

    Abstract: 本发明公开了一种用于大角度入射高能激光的衰减取样装置,包括前面板、衰减单元和后面板,前面板上设置有激光入射的取样直孔,后面板上设置有激光出射孔,衰减单元包括前透射窗、后透射窗和与圆柱空腔,圆柱空腔与取样直孔、激光出射孔同轴设置,圆柱空腔内填充有颗粒状的光学体散射材料。激光经过取样孔耦合进衰减单元,经内壁及材料吸收和体散射后由激光出射孔射出,可以将光束能量在较大范围内的空间中重新分布,并具有匀化效果,同时实现激光斜入射时的大角度衰减取样,且可以满足激光功率密度的大幅衰减,并可用于高空间分辨的光强探测。

    基于光纤光栅的高能激光光束参数诊断方法及诊断仪

    公开(公告)号:CN102620815B

    公开(公告)日:2014-12-03

    申请号:CN201210080147.7

    申请日:2012-03-23

    Abstract: 本发明公开了一种基于光纤光栅的高能激光光束参数诊断方法和诊断仪装置,根据光纤布拉格光栅中心波长随温度线性漂移的原理,利用光纤对高能激光吸收系数小、吸收面积小、表面积体积比高的特点,结合光纤光栅波长解调方法,实现了对大面积高功率密度激光光斑的长时间实时测量。另外本装置还可以根据实际测量需要灵活的更换纤光栅阵列,如阵列的大小、所使用光纤光栅栅区长度以及光纤半径等,实现对不同光斑大小、不同分辨率以及不同灵敏度的测量。另外,本发明能够实现高功率激光能量分布和总能量等光束参数测量并具有结构简单,抗激光损伤能力强等特点。

    用于多光谱辐射测温系统的发射率系数自校准装置及方法

    公开(公告)号:CN103630249A

    公开(公告)日:2014-03-12

    申请号:CN201310633960.7

    申请日:2013-11-29

    Abstract: 本发明公开了一种多光谱辐射测温系统的发射率系数自校准装置和方法,包括宽谱光源和依次设置在宽谱光源出射光路上的入射准直透镜组、出射准直透镜组,待测量火焰设置在入射准直透镜组和出射准直透镜组之间。本发明在多光谱辐射测温系统所穿过测量火焰的相同路径上,设置了发射率系数自校准系统,通过记录宽谱光源、火焰、宽谱光源联合火焰的光谱参数,得到了不同波长下的火焰发射率系数,用于多光谱辐射测温系统的参数校正,克服了传统理论计算修正中的模型误差,提高了测量不确定度。

    一种高摩尔分数下基于TDLAS吸收法压强测量的修正方法

    公开(公告)号:CN114646609B

    公开(公告)日:2024-06-21

    申请号:CN202210173430.8

    申请日:2022-02-24

    Abstract: 本发明为解决现有基于TDLAS直接吸收法测量流场压强时,均在待测气体摩尔分数较小且保持不变的情况下进行测量,忽略了待测气体摩尔分数动态变化对压强和线宽的影响,进而对待测气体的压强测量带来较大误差的技术问题,而提供了一种高摩尔分数下基于TDLAS吸收法压强测量的修正方法。本发明提出的修正方法同时考虑了压强和摩尔分数对线宽测量的影响,通过对压强测量结果的摩尔分数修正,实现对气体参数更准确的测量,且适用于宽工况条件下的压强和摩尔分数测量结果修正。

    基于光频域反射计的掺杂光纤辐致损耗测量装置和方法

    公开(公告)号:CN118032280A

    公开(公告)日:2024-05-14

    申请号:CN202410025661.3

    申请日:2024-01-08

    Abstract: 本发明公开了一种基于光频域反射计的掺杂光纤辐致损耗测量装置和方法,以解决当前掺杂光纤无法细致了解精细内部损伤及恢复程度的问题。具体第一测量单元,包括光频域反射仪和第一传输光纤;光频域反射仪的作用端与第一传输光纤的FC/APC端连接,另一端与第一待测掺杂光纤一端熔接;第一待测掺杂光纤另一端形成消反射光纤端面;第二测量单元,包括第一激光器等;第一激光器和第二激光器分别与第一光纤波分复用器的第一输入端及第二输入端连接,第一光纤波分复用器公共端与第二待测掺杂光纤的一端连接,第二待测掺杂光纤的另一端与第二光纤波分复用器公共端连接,第一功率计和第二功率计分别与第二光纤波分复用器的第三输入端及第四输入端连接。

    基于吸收光谱的波长扫描激光器的动态线宽的测量方法

    公开(公告)号:CN115356086A

    公开(公告)日:2022-11-18

    申请号:CN202210346175.2

    申请日:2022-03-31

    Abstract: 本发明为解决现有对扫描激光器动态线宽的测量方法,均针对窄线宽激光器,且需要搭建复杂的测量光路,不适用线宽较宽的扫描光源在波长扫描过程中的动态线宽测量的技术问题,提出了一种基于吸收光谱的波长扫描激光器的动态线宽的测量方法。包括以下步骤:[1]根据光源的光谱扫描范围,选择吸收介质,搭建吸收光路,测量并记录吸收池内信息;[2]激光光束传输通过吸收池,采样得到不同波长处的吸收光谱数据;[3]利用光谱数据库,计算得到不同激光线宽条件下的理论吸收光谱数据;[4]将得到的吸收光谱与理论吸收光谱进行比对,计算均方根残差并进行最小二乘法拟合,均方根残差最小处对应的线宽即为该激光器的动态扫描线宽。

    一种基于温度敏感因子的超光谱光源扫描区间选择方法

    公开(公告)号:CN114878492A

    公开(公告)日:2022-08-09

    申请号:CN202210625771.4

    申请日:2022-06-02

    Abstract: 本发明为解决超光谱吸收测量中的谱线选择方法仅针对分立谱线,不适用于连续的宽带光谱扫描范围选择的技术问题,提供了一种基于温度敏感因子的超光谱光源扫描区间选择方法。具体包括以下步骤:1)初步估算待测环境的温度T、压强P与待测气体分子的摩尔分数X,利用光谱数据库计算在待测环境下[λ1,λN]光谱范围内气体分子各吸收谱线的吸收强度和温度敏感因子;2)、选定超光谱光源扫描宽度Δλ,以λj为起始波长计算谱段[λj,λj+Δλ]内的温度测量不确定度ε(T,λj);3)、比较不同起始波长λj处计算得到的温度测量不确定度ε(T,λj),温度测量不确定度最小值ε(T,λm)所对应的谱段区间[λm,λm+Δλ],即为[λ1,λN]光谱范围内超光谱光源的最优扫描区间。

    用于多光谱辐射测温系统的发射率系数自校准装置及方法

    公开(公告)号:CN103630249B

    公开(公告)日:2016-08-17

    申请号:CN201310633960.7

    申请日:2013-11-29

    Abstract: 本发明公开了一种多光谱辐射测温系统的发射率系数自校准装置和方法,包括宽谱光源和依次设置在宽谱光源出射光路上的入射准直透镜组、出射准直透镜组,待测量火焰设置在入射准直透镜组和出射准直透镜组之间。本发明在多光谱辐射测温系统所穿过测量火焰的相同路径上,设置了发射率系数自校准系统,通过记录宽谱光源、火焰、宽谱光源联合火焰的光谱参数,得到了不同波长下的火焰发射率系数,用于多光谱辐射测温系统的参数校正,克服了传统理论计算修正中的模型误差,提高了测量不确定度。

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