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公开(公告)号：CN102565838A
公开(公告)日：2012-07-11
申请号：CN201110453502.6
申请日：2008-11-18
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学 , 北京固鸿科技有限公司
Inventor： 李元景 , 陈志强 , 李荐民 , 吴玉成 , 杨光 , 肖永顺 , 孙尚民 , 张克 , 叶梁 , 苏建军 , 陆宏宇 , 叶青 , 雍涛 , 姜海涛 , 李建军 , 万静 , 何正军 , 王东宇 , 陈少锋 , 周立英
IPC: G01T1/20
Abstract: 本发明涉及一种具有核素识别功能的放射性物质监测系统，包括用于对放射性物质进行核素识别的探测器，其特征在于，在该探测器的探测表面上安装有准直栅格，用于降低由天然放射性物质所产生的计数，从而降低由天然放射性物质在低能区引起的康普顿坪区的高度。
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公开(公告)号：CN102456227A
公开(公告)日：2012-05-16
申请号：CN201010529974.0
申请日：2010-10-28
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC: G06T11/00
CPC classification number: G06T11/006 , G06T2211/421
Abstract: 本发明公开了一种CT图像重建方法及装置。本发明CT图像重建方法包括步骤：选取与扫描圆轨道近似曲率的曲线上的同高度的投影数据；对所选取的投影数据进行加权处理；对经过加权处理的投影数据沿水平方向进行滤波；对滤波后的投影数据沿射线方向进行三维反投影。本发明CT图像重建装置包括重排单元、加权单元、滤波单元和反投影单元。采用本发明的技术方案能够有效地消除大锥角下的锥束伪影。
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公开(公告)号：CN102376096A
公开(公告)日：2012-03-14
申请号：CN201010257010.5
申请日：2010-08-18
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
CPC classification number: A61B6/03 , G06T11/006 , G06T2211/416 , G06T2211/421
Abstract: 本发明公开了一种PI线选取和采样方法和装置以及CT图像重建方法和装置。本发明PI线选取和采样方法包括步骤：在螺旋轨道上选取在XY平面上投影互相平行且等间距分布的PI线和在所述PI线上等距离选取采样点。本发明CT图像重建方法的技术方案根据本发明PI线选取和采样方法所得到的PI线所相关的投影数据重建所选取的采样点并把上述重建结果采样成直角坐标系下的均匀像素。本发明PI线选取和采样装置以及CT图像重建装置的技术方案分别对应于本发明PI线选取和采样方法以及CT图像重建方法的技术方案。采样本发明的技术方案能够得到全局一致性的采样点。
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公开(公告)号：CN102221565A
公开(公告)日：2011-10-19
申请号：CN201010149869.4
申请日：2010-04-19
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01N23/04 , G01N23/083 , G01N23/20 , G03B42/02
CPC classification number: G01N23/046 , A61B6/4291 , A61B6/484 , G01N2223/419
Abstract: 一种X射线成像系统，包括：X射线源、源光栅、固定光栅模块和X射线探测器，依次位于X射线的传播方向上；被检测物体位于所述源光栅和固定光栅模块之间；所述源光栅可在垂直于光路方向和光栅条纹的方向上作步进移动；其中，该系统还包括计算机工作站，其控制所述X射线源、源光栅、X射线探测器从而实现下述过程：源光栅在其至少一个周期范围内进行步进运动；在每个步进步骤，X射线源向被测物体发射X射线，同时所述探测器接收X射线；其中，经过至少一个周期的步进和数据采集，探测器上每个像素点处的X射线的光强表示为一个光强曲线；将探测器上每个像素点处的光强曲线与不存在被检测物体情况下的光强曲线相比较，由所述光强曲线的变化计算得出在每个像素点的像素值；根据所计算得出的像素值重建被检测物体的图像。
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公开(公告)号：CN101943668A
公开(公告)日：2011-01-12
申请号：CN200910088662.8
申请日：2009-07-07
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01N23/04 , G01N23/083 , A61B6/03 , G03B42/02
CPC classification number: G01N23/04 , B82Y10/00 , G01N23/20075 , G21K2201/061 , G21K2207/005
Abstract: 一种X射线成像技术，利用包括：X射线源、两吸收光栅G1和G2、X射线探测器、控制器和数据处理单元的成像系统对被测物体进行X射线暗场CT成像，包括：向被测物体发射X射线；使得所述两块吸收光栅G1和G2之一在其至少一个周期范围内进行相位步进运动；在每个相位步进步骤，探测器接收X射线，并转化为电信号；其中，经过至少一个周期的相位步进，探测器上每个像素点处的X射线光强表示为一个光强曲线；根据探测器上每个像素点处的光强曲线与不存在被检测物体情况下的光强曲线的对比度，计算得到每个像素的散射角分布的二阶矩；在多个角度拍摄物体的图像，然后根据CT重建算法可以得物体的散射信息图像。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN101231254B
公开(公告)日：2010-08-11
申请号：CN200710062994.X
申请日：2007-01-24
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01N23/04
Abstract: 本发明提出了一种新型三维立体成像系统及成像方法，采用双X射线源和双探测器，两个X射线源分别沿两条成一定角度且错开布置的直线导轨运动，探测器阵列固定，而被检测物体则沿垂直于X射线源和探测器所在平面的直线运动。该成像系统和成像方法能够实现真正的三维立体成像，并且具有结构相对简单，待检测物体或者X射线源及探测器不需要旋转，检查速度较快，货物通过速度较高等特点；因此本发明具有应用于快速安全检查领域和大物体检查领域的潜力。和单源单直线扫描结构相比，本发明能够实现真正意义的三维图像检查，图像质量明显好于单源单直线扫描系统。
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公开(公告)号：CN101738630A
公开(公告)日：2010-06-16
申请号：CN200810227000.X
申请日：2008-11-18
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学 , 北京固鸿科技有限公司
Inventor： 李元景 , 陈志强 , 李荐民 , 吴玉成 , 杨光 , 肖永顺 , 孙尚民 , 张克 , 叶梁 , 苏建军 , 陆宏宇 , 叶青 , 雍涛 , 姜海涛 , 李建军 , 万静 , 何正军 , 王东宇 , 陈少锋 , 周立英
IPC: G01T1/20
Abstract: 本发明涉及一种具有核素识别功能的放射性物质监测系统，包括用于对放射性物质进行核素识别的探测器，其特征在于，在该探测器的探测表面上安装有准直栅格，用于降低由天然放射性物质所产生的计数，从而降低由天然放射性物质在低能区引起的康普顿坪区的高度。
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公开(公告)号：CN101738406A
公开(公告)日：2010-06-16
申请号：CN200810227002.9
申请日：2008-11-18
Applicant: 北京固鸿科技有限公司 , 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
Inventor： 李元景 , 陈志强 , 李荐民 , 吴玉成 , 杨光 , 肖永顺 , 孙尚民 , 张克 , 叶梁 , 苏建军 , 陆宏宇 , 叶青 , 雍涛 , 姜海涛 , 李建军 , 万静 , 何正军 , 王东宇 , 陈少锋 , 周立英
Abstract: 射线检测系统以及利用射线进行无损检测物体的方法：该检测系统包括：辐射源，用于发射扫描射线；探测器阵列，沿水平方向与所述辐射源隔开并相对于所述辐射源固定安装，用于接收由所述辐射源发射的射线；轨道，在所述辐射源与所述探测器阵列之间穿过；运载器，用于承载被检测物体，并可在所述轨道上往复运动；和导轨平移装置，与所述轨道配合设置，能够使所述运载器脱离所述轨道来与所述导轨平移装置接合，并且可以按照所需方式调节所述运载器在所述辐射源与所述探测器阵列之间的运动。本发明通过合理设计流程可实现流水作业，从而大大提高检测效率。另外，本发明尤其可以对被检测物体的重点部位进行CT断层扫描，从而对内部缺陷做出准确判断。
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公开(公告)号：CN101738405A
公开(公告)日：2010-06-16
申请号：CN200810227001.4
申请日：2008-11-18
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学 , 北京固鸿科技有限公司
Inventor： 李元景 , 陈志强 , 李荐民 , 吴玉成 , 杨光 , 肖永顺 , 孙尚民 , 张克 , 叶梁 , 苏建军 , 陆宏宇 , 叶青 , 雍涛 , 姜海涛 , 李建军 , 万静 , 何正军 , 王东宇 , 陈少锋 , 周立英
Abstract: 射线检测系统以及利用射线进行无损检测物体的方法：该检测系统包括：辐射源，用于发射扫描射线；探测器阵列，沿竖直方向与辐射源隔开并相对于辐射源固定安装，用于接收由辐射源发射的射线；运载器，用于运载被检测物体；第一平动装置，能够使被检测物体在辐射源与探测器阵列之间沿第一方向水平运动；和第二平动装置，能够使被检测物体在辐射源与探测器阵列之间沿基本垂直于第一方向的第二方向水平运动。第二平动装置设置在第一平动装置上，而运载器设置在第二平动装置上。本发明可以对被检测物体实现任意角度的DR扫描，提高检测的准确性；还可以对被检测物体的重点部位进行二代、三代CT断层扫描，从而对内部缺陷做出准确判断。
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公开(公告)号：CN101726503A
公开(公告)日：2010-06-09
申请号：CN200810224362.3
申请日：2008-10-17
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01N23/083 , G01N23/04
Abstract: 涉及X射线层析相衬成像系统及方法，包括：X射线装置，向被检测物体发射X射线束；光栅子系统，包括第一和第二吸收光栅，位于X射线束方向上，被检测物体折射的X射线经该第一和第二吸收光栅形成强度变化的X射线信号；检测单元，接收强度变化的X射线并转换为电信号；和数据处理单元，处理并提取该电信号中折射角信息，并利用折射角信息计算出像素信息；相对移动装置，用于使得所述被检测的物体相对于所述成像系统相对地移动。在所述成像系统与被检测物体的一定相对移动范围内，在多个位置处，所述成像系统对被检测物体进行相衬成像，由此取得被检测物体的多个图像。所述多个图像经过转换变成同一个重建平面上的图像，并由此进行三维图像重建。
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