绝缘体局部放电检测装置
    83.
    发明公开

    公开(公告)号:CN111913085A

    公开(公告)日:2020-11-10

    申请号:CN202010856231.8

    申请日:2020-08-24

    IPC分类号: G01R31/12

    摘要: 本发明的种绝缘体局部放电检测装置包括激光控制器、激光器、第一单模光纤、光纤环行器、传感单元、光电转换器、高速数据采集装置;所述传感单元包括第二单模光纤、石英玻璃套管、若干多层介质反射膜,所述第二单模光纤与石英玻璃套管套设连接,第二单模光纤与石英玻璃套管之间通过紫外胶密封固定,若干多层介质反射膜平行等距离布置在石英玻璃套管中,多层介质反射膜的直径与石英玻璃套管的直径相匹配。第二单模光纤和多层介质反射膜,构成多光束干涉腔,形成多光束干涉。当超声波信号作用在第二单模光纤的端面时,会在光纤的径向和轴向引起位移,从而导致光纤端面镀上的反射膜发生弹性形变。

    GIS设备外壳温度分布量化分析方法

    公开(公告)号:CN108917934B

    公开(公告)日:2020-06-19

    申请号:CN201810580403.6

    申请日:2018-06-07

    IPC分类号: G01J5/00

    摘要: 本发明涉及一种GIS设备外壳温度分布量化分析方法。其特点是,包括如下步骤:(1)对被试GIS设备外壳的温度分布进行测量,得到红外热像图;(2)根据红外热像图计算温度分布,提取距离发热点不同距离、位置的若干个温度值,绘制出等温线;(3)根据等温线绘制距离‑温度梯度曲线,并进行归一化处理;(4)计算归一化后距离‑温度梯度曲线的等效面积百分比;(5)根据得到的等效面积百分比进行温度分布的量化分析,从而判断热源是来自设备内部还是在设备外壳表面。经过试用证明,采用本发明的方法后,可以通过对红外热像图进行进一步量化分析,提炼特征参数,进而准确判断出热源位置,以提高现场检测精度。

    一种电气设备局部放电的定位方法及系统

    公开(公告)号:CN109116201A

    公开(公告)日:2019-01-01

    申请号:CN201811044918.0

    申请日:2018-09-07

    IPC分类号: G01R31/12

    摘要: 本发明涉及一种电气设备局部放电的定位方法及系统,采用声电联合定位方法对异常电气设备中的局部放电源进行定位,得到局部放电源位置关联关系的位置方程组;采用粒子群优化算法解算位置方程组,得到局部放电源的位置;根据多次解算的局部放电源的位置形成位置样本;采用粒子群优化算法对位置样本进行优化,得到局部放电源的优化位置。本发明的定位方法适用于不同类型的电气设备局部放电的定位,且利用粒子群优化算法求解方程组,计算出局部放电源的位置,避免求解方程组时出现无效解情况,降低电气设备采用声电联合定位方法对时延的依赖性,并利用粒子群优化算法将局部放电源的位置做逼近处理,受现场条件影响低,大大提高了定位精度。

    交流滤波器组断路器投切状态合闸电阻检测方法及系统

    公开(公告)号:CN118731603A

    公开(公告)日:2024-10-01

    申请号:CN202410780078.3

    申请日:2024-06-17

    IPC分类号: G01R31/12 G01R27/02

    摘要: 本发明提供一种交流滤波器组断路器合闸电阻投切状态检测方法及系统,属于高压交流断路器技术领域。包括:载入滤波器组断路器投切过程合闸电流录波数据;对断路器合闸电流录波数据进行小波分解,获得各层断路器合闸电流录波数据中的奇异点作为断路器合闸电阻投入过程中各段暂态过程的起点;对每一段暂态过程的录波数据进行TLS‑ESPRIT分解,得到直流模态的幅值和衰减因子,并建立幅值、衰减因子与合闸电阻真实阻值的对应关系;根据对应关系,拟合出两个幅值‑阻值曲线和两个衰减因子‑阻值曲线,及各曲线的曲线函数和反函数;将幅值和衰减因子带入对应直流分量的反函数中计算出阻值,并进一步根据阻值均值计算出闪络电阻片数目,从而了解是否发生闪络故障。