下行控制信道盲检方法、装置、设备、芯片及存储介质

    公开(公告)号:CN116743315A

    公开(公告)日:2023-09-12

    申请号:CN202311024168.1

    申请日:2023-08-15

    IPC分类号: H04L1/00 H04L25/02

    摘要: 本发明公开了一种下行控制信道盲检方法、装置、设备、芯片及存储介质,所述方法包括:确定目标搜索空间;基于导频子载波的信道估计值,计算候选下行控制信道对应的导频相关性数据;根据所述目标搜索空间对应的同步参考信号,计算所述同步参考信号对应的相关性参考数据;根据所述导频相关性数据与所述相关性参考数据之间的目标差异数据对所述候选下行控制信道进行排序,得到排序后的候选下行控制信道;基于所述排序后的候选下行控制信道确定通过盲检的目标下行控制信道。由此减少下行控制信道盲检的次数和功耗,有效提高盲检的准确性。