一种多主机并行高速探伤检测装置和检测方法

    公开(公告)号:CN117517210A

    公开(公告)日:2024-02-06

    申请号:CN202311678214.X

    申请日:2023-12-08

    IPC分类号: G01N21/01 G01N21/88

    摘要: 本发明涉及一种多主机并行高速探伤检测装置和检测方法,在检测过程中,配合调位棚带的翻转作用,同一个待检测工件由多个检测头接力进行检测,从而可在一次检测过程中,组合完成对细长工件的周向全面检测,相较于现有技术,工件无需再次重复对不同部分进行检测,大幅度缩短检测时长,提高探伤效率,在此过程中,调位棚带对工件翻面时,可根据调位棚带外表面的颜色变化现象,判断调位棚带与工件表面的接触情况,有效保证调位棚带与工件之间的接触力不易过大或过小,使其根据摩擦力对工件进行稳定翻面,有效保证探伤检测进程的稳定进行。

    平面旋转涡流检测传感器及检测方法

    公开(公告)号:CN109115867A

    公开(公告)日:2019-01-01

    申请号:CN201810792497.3

    申请日:2018-07-18

    IPC分类号: G01N27/90

    摘要: 本发明公开了一种平面旋转涡流检测传感器及方法,其中,传感器包括:多个探头,所述多个探头在同一平面上按同一方向排列设置;线圈,所述线圈位于所述多个探头上;定子;以及转子,所述转子与传感器同轴,且包覆于所述定子内,通过变压器耦合以在所述转子旋转时,产生旋转移动的涡流激励场,并对提离效应进行补偿,以得到检测结果。该传感器具有大幅提升检测效率,对提离效应进行补偿以增加检测灵敏度的优点且使用方便,适用性广。

    周向旋转点式涡流传感器及检测方法

    公开(公告)号:CN109115866A

    公开(公告)日:2019-01-01

    申请号:CN201810792406.6

    申请日:2018-07-18

    IPC分类号: G01N27/90

    摘要: 本发明公开了一种周向旋转点式涡流传感器及检测方法,其中,传感器包括:多个探头,所述多个探头均匀布置在转子的圆面上;线圈,所述线圈位于所述多个探头上;转子和定子,所述转子和定子上设置多个变压器耦合线圈,在所述转子高速旋转时产生高速旋转移动的涡流激励场,通过同心圆相对耦合实现信号传输,并通过调节程控增益实现周向上灵敏度的补偿,以得到检测结果。该传感器具有对纵向缺陷具有较高灵敏度、可以实现旋转偏心校正、提升检测精度及检测速度快的优点,且线圈采取对称绕制以提升抗干扰能力。

    一种埋地管道环焊缝检测装置及检测方法

    公开(公告)号:CN110133097B

    公开(公告)日:2024-06-04

    申请号:CN201910505955.5

    申请日:2019-06-12

    摘要: 本发明涉及一种埋地管道环焊缝检测装置及检测方法,检测装置包括支架、电机、转盘、滑轨和表面探头,支架包括台板,台板的前后端上侧对应架设有与埋地管道轴线垂直的前导轨和后导轨,电机固定在台板上,转盘与电机的输出轴垂直固定连接,滑轨的两端分别固定有第一滑块且使其对应与前导轨和后导轨滑动配合,滑轨上设有第二滑块,第二滑块与转盘之间设有连杆,连杆与转盘或/和第二滑块可相对转动,表面探头固定在第二滑块的上侧,表面探头包括两个相同且间隔分布的检测线圈,两个检测线圈的一端相互连接。检测装置具有结构简单、使用方便、动作灵敏、实用性强的优点。检测方法具有流程简单、实现容易、抗干扰能力强、检测精度高的优点。

    有色金属废料中铁磁性杂质检测设备及检测工艺

    公开(公告)号:CN112882109B

    公开(公告)日:2023-09-08

    申请号:CN202110290343.6

    申请日:2021-03-18

    发明人: 方书成 韩赞东

    IPC分类号: G01V3/11

    摘要: 本发明公开了一种有色金属废料中铁磁性杂质检测设备及检测工艺,属于铁磁性物质定性检测技术领域。该设备包括用于输送废料的输送组件、用于对铁磁性杂质进行磁化的磁化组件、用于检测铁磁性杂质剩磁信号的检测组件和用于处理信号及显示数据的信号处理显示组件,该设备将装填有废料的废料小车首先通过磁化组件进行磁化,然后检测磁化后废料中的铁磁性杂质的剩磁信号,最后将信号经处理后显示于显示器上。该设备和检测方法采用先进的弱磁检测设备和技术,能够对铁磁性杂质在废料中的形状、位置及大小做定性检测,检测质量高,并且能够自动化连续监测,大大提高生产效率。

    穿过式涡流传感器及检测方法

    公开(公告)号:CN110006992B

    公开(公告)日:2023-05-02

    申请号:CN201910241446.6

    申请日:2019-03-28

    IPC分类号: G01N27/90

    摘要: 本发明公开了一种穿过式涡流传感器及检测方法,包括骨架、检测线圈和激励线圈,检测线圈和激励线圈皆缠绕于骨架,且检测线圈位于骨架和激励线圈之间;检测线圈包括依次连接的第一检测线圈、第二检测线圈、第三检测线圈和第四检测线圈,第一检测线圈的缠绕方向和第三检测线圈的缠绕方向相同,第二检测线圈的缠绕方向和第四检测线圈的缠绕方向相同,第一检测线圈的缠绕方向和第二检测线圈的缠绕方向相反。本发明的检测线圈呈现正、反、正、反的方式串联,剔除多类不平衡信号,抗干扰能力强,检测信号将呈现正负相间,此正负相间的信号包含更多的特征信息,将更容易被系统鉴别,大幅降低缺陷的误判和漏判率。

    漏磁检测装置及漏磁检测方法

    公开(公告)号:CN113267559A

    公开(公告)日:2021-08-17

    申请号:CN202110760873.2

    申请日:2021-07-06

    IPC分类号: G01N27/83

    摘要: 本发明公开了一种漏磁检测装置及漏磁检测方法,其中,漏磁检测装置包括励磁组件和传感器组件,励磁组件用于对待测试件进行磁化,包括磁传递件和磁力组件,第一磁传递件内部中空,磁力组件嵌套在第一磁传递件内,磁力组件与第一磁传递件间隔设置,磁力组件的第一上端面和第一磁传递件的第二上端面共面且磁力组件的第一下端面与第一磁传递件的第二下端面共面,两个下端面均配合在待测试件表面,第二磁传递件同时连接第一上端面和第二上端面,传感器组件设置在第一磁传递件和磁力组件之间,传感器组件靠近第一下端面设在磁力组件上,传感器组件用于检测待测试件上的缺陷。本发明实施例的漏磁检测装置,可检测多方向缺陷,且检测能力强、漏检率低。

    有色金属废料中铁磁性杂质检测设备及检测工艺

    公开(公告)号:CN112882109A

    公开(公告)日:2021-06-01

    申请号:CN202110290343.6

    申请日:2021-03-18

    发明人: 方书成 韩赞东

    IPC分类号: G01V3/11

    摘要: 本发明公开了一种有色金属废料中铁磁性杂质检测设备及检测工艺,属于铁磁性物质定性检测技术领域。该设备包括用于输送废料的输送组件、用于对铁磁性杂质进行磁化的磁化组件、用于检测铁磁性杂质剩磁信号的检测组件和用于处理信号及显示数据的信号处理显示组件,该设备将装填有废料的废料小车首先通过磁化组件进行磁化,然后检测磁化后废料中的铁磁性杂质的剩磁信号,最后将信号经处理后显示于显示器上。该设备和检测方法采用先进的弱磁检测设备和技术,能够对铁磁性杂质在废料中的形状、位置及大小做定性检测,检测质量高,并且能够自动化连续监测,大大提高生产效率。

    一种旋转涡流检测设备
    9.
    发明公开

    公开(公告)号:CN118549519A

    公开(公告)日:2024-08-27

    申请号:CN202410830506.9

    申请日:2024-06-25

    IPC分类号: G01N27/90

    摘要: 本申请公开了一种旋转涡流检测设备,涉及无损检测技术领域。本申请的一种旋转涡流检测设备,包括壳体、主轴、驱动组件和探头组件,探头组件包括安装盘、探头和调节环,安装盘中心开设有检测孔,探头两端分别为检测端和调节端,检测端朝向检测孔设置,调节端设有可活动的调节片,调节环内壁设有调节条,调节条的高度沿其自身延伸方向逐渐增大或减小。本申请的旋转涡流检测设备,当调节片处于调节位置时,转动安装盘,调节片能够在安装盘与调节环的相对转动过程中持续抵触于调节条上,其在高度逐渐增大或减小的调节条的作用下带动探头转动,以调节检测端与材料之间的距离,提升了调节精度和调节效率。

    缺陷识别方法和装置
    10.
    发明授权

    公开(公告)号:CN114705750B

    公开(公告)日:2024-08-06

    申请号:CN202210355821.1

    申请日:2022-04-06

    IPC分类号: G01N27/83

    摘要: 本申请涉及一种缺陷识别方法、装置、计算机设备、存储介质和计算机程序产品。所述方法包括:计算设备接收漏磁传感器发送的待测试件的漏磁信号,其中,漏磁信号是待测试件的缺陷产生的漏磁场所对应的信号,并且,计算设备接收磁扰动传感器发送的待测试件的磁扰动信号,其中,磁扰动信号是待测试件的缺陷产生的扰动磁场所对应的信号,进而计算设备根据漏磁信号,确定待测试件是否存在缺陷,若待测试件存在缺陷,则计算设备根据磁扰动信号确定待测试件的缺陷类型,其中,缺陷类型包括表面缺陷和背面缺陷。采用本方法能够识别待测试件是否存在缺陷,并且确定待测试件的缺陷类型。