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公开(公告)号：CN104285124B
公开(公告)日：2017-05-24
申请号：CN201380010361.8
申请日：2013-02-04
申请人： 布莱特迈尔测量技术有限责任公司
发明人： U·布莱特迈尔
摘要： 本发明涉及一种测量设备(10.1)，用来测量物体(12)的表面(11)的表面微结构纹理或粗糙度，该测量设备具有销钉状壳体(13.1)，该壳体在其壳体纵轴线(15)的方向上在壳体长度(21)上延伸。在壳体((13.1))中设置有用来检测构成为探针(25)的触碰体在测量方向(26)上的偏转的测量系统(30)，并且设置有用于探针(25)的轴承(24.1)或悬挂装置，该探针在此相对于壳体(13.1)在测量方向(26)上可活动地受到支承。探针(25)平行于壳体纵轴线(15)进行延伸并且具有构成为探测尖部(27)的触碰端部。在探针(25)的范围内在壳体(13.1)的壳体端部(19)的范围内设置有按压和支撑体(35.1)，测量设备(10.1)通过该按压和支撑体可按压和可支撑在表面(11)上。在垂直于壳体纵轴线(15)延伸的假想的横向平面(29)中观察，该壳体(13.1)至少在壳体部段(20)中从所述的壳体端部(19)开始基本上在其整个壳体长度(21)上撑开小于或等于20mm的最大外直径(22)。该探针(25)基本上设置在具有最大外直径(22)的壳体部段(20)的假想的、平行于壳体纵轴线(15)延伸的投影(23)内部。
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公开(公告)号：CN104285124A
公开(公告)日：2015-01-14
申请号：CN201380010361.8
申请日：2013-02-04
申请人： 布莱特迈尔测量技术有限责任公司
发明人： U·布莱特迈尔
摘要： 本发明涉及一种测量设备(10.1)，用来测量物体(12)的表面(11)的表面微结构纹理或粗糙度，该测量设备具有销钉状壳体(13.1)，该壳体在其壳体纵轴线(15)的方向上在壳体长度(21)上延伸。在壳体((13.1))中设置有用来检测构成为探针(25)的触碰体在测量方向(26)上的偏转的测量系统(30)，并且设置有用于探针(25)的轴承(24.1)或悬挂装置，该探针在此相对于壳体(13.1)在测量方向(26)上可活动地受到支承。探针(25)平行于壳体纵轴线(15)进行延伸并且具有构成为探测尖部(27)的触碰端部。在探针(25)的范围内在壳体(13.1)的壳体端部(19)的范围内设置有按压和支撑体(35.1)，测量设备(10.1)通过该按压和支撑体可按压和可支撑在表面(11)上。在垂直于壳体纵轴线(15)延伸的假想的横向平面(29)中观察，该壳体(13.1)至少在壳体部段(20)中从所述的壳体端部(19)开始基本上在其整个壳体长度(21)上撑开小于或等于20mm的最大外直径(22)。该探针(25)基本上设置在具有最大外直径(22)的壳体部段(20)的假想的、平行于壳体纵轴线(15)延伸的投影(23)内部。
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公开(公告)号：CN203732054U
公开(公告)日：2014-07-23
申请号：CN201320778650.X
申请日：2013-11-29
申请人： 布莱特迈尔测量技术有限责任公司
发明人： U·布莱特迈尔
CPC分类号： G01B5/28
摘要： 本实用新型涉及一种表面微结构测量仪器(10)，在该表面微结构测量仪器中所有功能重要的构件都作为可更换的模块(1、2、5、6、12)设置在一个壳体(7)之内。
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公开(公告)号：CN203908492U
公开(公告)日：2014-10-29
申请号：CN201320717649.6
申请日：2013-11-14
申请人： 布莱特迈尔测量技术有限责任公司
发明人： U·布莱特迈尔
IPC分类号： G01B7/34
CPC分类号： G01B7/34
摘要： 本实用新型涉及一种测量设备，用来对测量物体的测量物体表面(12)的粗糙度或表面微结构纹理进行测量，其具有：壳体(6)；测头，该测头包括至少一个弯杆(1)，至少一个表面触碰体(14)固定在该弯杆(1)上，该表面触碰体用来探测测量物体表面(12)的粗糙度或表面微结构纹理；驱动器，它用来使表面触碰体(14)沿着行驶路径在触碰路径长度上移动；测量系统，用来探测表面触碰体(14)相对于测量物体表面(12)的位置，其中该测量系统包括设置在弯杆(1)上的测量电桥，其用来探测弯杆(1)的曲度，并因此探测表面触碰体(14)相对于测量物体表面(12)的位置。弯杆(1)通过可轻易拆卸的连接器与驱动器可拆卸地相连。
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公开(公告)号：CN203479263U
公开(公告)日：2014-03-12
申请号：CN201320400993.2
申请日：2013-07-05
申请人： 布莱特迈尔测量技术有限责任公司
发明人： 乌尔里克·布莱特迈尔
摘要： 本实用新型涉及一种用于测量待测物体的待测物体表面(9)的粗糙度或表面微结构轮廓的测量仪。该测量仪包括：壳体(1)；测量探测器，该测量探测器包括探测杆(4)，在该探测杆上固定有表面探测体(10)，用于检测待测物体表面(9)的粗糙度或表面微结构轮廓；进给装置，用于使表面探测体(10)沿着移动路径在探测路径长度上运动；用于检测表面探测体(10)相对于待测物体表面(9)的位置的测量系统(6)；驱动、数据采集和/或评价电子装置(12)和/或计算机接口；和间距测量系统(3)，用于检测在表面探测体(10)和待测物体表面之间的距离或者用于检测壳体或测量探测器或保护体相对于待测物体表面(9)的空间方位和/或位置。
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公开(公告)号：CN203464909U
公开(公告)日：2014-03-05
申请号：CN201320396791.5
申请日：2013-07-04
申请人： 布莱特迈尔测量技术有限责任公司
发明人： 乌尔里克·布莱特迈尔
CPC分类号： G01B5/28 , G01B21/047
摘要： 本实用新型涉及一种用于测量待测对象的待测对象表面(9)的粗糙度或表面微结构轮廓的测量仪。该测量仪包括：固定在探测杆(4)上的表面探测体(10)，用于检测待测对象表面(9)的粗糙度或表面微结构轮廓；进给装置，用于使表面探测体(10)沿着移动路径在探测路径长度上运动；用于检测表面探测体(10)相对于待测对象表面(9)的位置的测量系统(6)；和驱动、数据采集和/或评价电子装置(12)和/或计算机接口。在探测杆(4)上和/或在用于保护探测杆(4)和/或表面探测体(10)以防被损坏的保护体(2)上安装有至少一个用于采集待测对象表面(9)的图像采集系统(3、11)。
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