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公开(公告)号:CN118480627A
公开(公告)日:2024-08-13
申请号:CN202410712247.X
申请日:2024-06-04
申请人: 海南芯玉科技有限公司
IPC分类号: C12Q1/6895 , C12N15/11
摘要: 本发明提供了一种用于检测SNP位点组合的产品在检测玉米抗锈基因RppK或玉米抗锈性状中的应用,涉及植物分子育种技术领域。本发明提供了用于检测SNP位点组合的产品在检测玉米抗锈基因RppK或者玉米抗锈性状中的应用,其中SNP位点组合包括(A)组或者(A)组的连锁位点。经发明人研究发现,本发明筛选得到的SNP位点组合能够用于鉴定玉米抗锈基因RppK,进而判断玉米的表型,相较于现有技术更加高效、直接,同时避免单标记检测失败带来的误差。在筛选相关的SNP位点后,通过连锁不平衡分析,将抗锈基因RppK的鉴定锚定在了基因芯片上,为以后多基因、多性状的鉴定,以及实现优良基因聚合等提供了很大可能。
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公开(公告)号:CN117327832A
公开(公告)日:2024-01-02
申请号:CN202311515520.1
申请日:2023-11-13
申请人: 武汉双绿源创芯科技研究院有限公司 , 华中农业大学 , 海南芯玉科技有限公司
IPC分类号: C12Q1/6895 , C12Q1/6837 , C40B40/06 , C12N15/11
摘要: 本发明公开了一种玉米高密度全基因组SNP芯片,该芯片命名为Maize 50K,所述芯片的基因分型对象包括定位于玉米参考基因组B73v4上的41,900个SNP位点,这些SNP均匀分布在玉米基因组的10条染色体上,平均密度为每100 Kb有2个SNP,它们在玉米参考基因组B73v4上的位置如说明书表1所示,所述SNP在所有测试品种中均具有丰富的多态性。与现有的玉米SNP芯片相比,Maize 50K芯片的SNP标记来源于507份玉米品种的重测序结果,具有更好的品种代表性,并包含897个功能基因探针和94个玉米品种真实性鉴定探针,能够更有效地用于功能基因鉴定、遗传多样性分析以及品种分析。
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公开(公告)号:CN117327832B
公开(公告)日:2024-10-18
申请号:CN202311515520.1
申请日:2023-11-13
申请人: 武汉双绿源创芯科技研究院有限公司 , 华中农业大学 , 海南芯玉科技有限公司
IPC分类号: C12Q1/6895 , C12Q1/6837 , C40B40/06 , C12N15/11
摘要: 本发明公开了一种玉米高密度全基因组SNP芯片,该芯片命名为Maize 50K,所述芯片的基因分型对象包括定位于玉米参考基因组B73v4上的41,900个SNP位点,这些SNP均匀分布在玉米基因组的10条染色体上,平均密度为每100 Kb有2个SNP,它们在玉米参考基因组B73v4上的位置如说明书表1所示,所述SNP在所有测试品种中均具有丰富的多态性。与现有的玉米SNP芯片相比,Maize 50K芯片的SNP标记来源于507份玉米品种的重测序结果,具有更好的品种代表性,并包含897个功能基因探针和94个玉米品种真实性鉴定探针,能够更有效地用于功能基因鉴定、遗传多样性分析以及品种分析。
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公开(公告)号:CN118547097A
公开(公告)日:2024-08-27
申请号:CN202410707235.8
申请日:2024-06-03
申请人: 海南芯玉科技有限公司
IPC分类号: C12Q1/6895 , A01H1/04
摘要: 本发明提供了用于检测SNP分子标记组合的产品在鉴定玉米花期性状中的应用及鉴定方法,涉及植物分子育种技术领域,本发明依据540份玉米自交系和2.65M个单核苷酸多态性(SNP)位点信息,对玉米开花期基因ZCN8功能位点SNP‑1245进行单倍型分析,发现与ZCN8功能基因型关联的36个SNP位点。随后通过连锁不平衡分析,发现其中23个位点与玉米50K高密度SNP芯片上2个标记连锁。本发明不仅提高了标记鉴定的准确性,而且极大的提高了鉴定效率和降低了成本,为之后的优良性状的多基因检测提供了可能。
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