公开(公告)号：CN104777381B

公开(公告)日：2018-03-27

申请号：CN201510176725.0

申请日：2015-04-15

申请人： 深圳市巴伦检测技术有限公司

发明人： 魏延全 ,  林幸笋

IPC分类号： G01R31/00

摘要： 本发明涉及电磁干扰测试技术领域，本发明实施例提供了一种双天线的电磁干扰测试方法，包括水平方向极化的天线A、垂直方向极化的天线B、开关矩阵和EMI接收机，所述方法包括：控制所述开关矩阵分别连接其双进端口A和端口B到所述天线A和天线B，分别连接所述开关矩阵的双出端口C和端口D到所述EMI接收机的信号输入端口；控制所述双进开关矩阵，导通所述端口A和端口C，以及端口B和端口D，使得所述EMI接收机上能够分别显示水平方向极化的天线A和垂直方向极化的天线B接收到的信号。本发明实施例利用了两根接收天线来同时测量水平和垂直方向的干扰信号，以及开关矩阵，解决了因为更换天线极化方向造成的双倍测量时间，极大的提高了测量效率。

公开(公告)号：CN104777381A

公开(公告)日：2015-07-15

申请号：CN201510176725.0

申请日：2015-04-15

申请人： 深圳市巴伦检测技术有限公司

发明人： 魏延全 ,  林幸笋

IPC分类号： G01R31/00

摘要： 本发明涉及电磁干扰测试技术领域，本发明实施例提供了一种双天线的电磁干扰测试方法，包括水平方向极化的天线A、垂直方向极化的天线B、开关矩阵和EMI接收机，所述方法包括：控制所述开关矩阵分别连接其双进端口A和端口B到所述天线A和天线B，分别连接所述开关矩阵的双出端口C和端口D到所述EMI接收机的信号输入端口；控制所述双进开关矩阵，导通所述端口A和端口C，以及端口B和端口D，使得所述EMI接收机上能够分别显示水平方向极化的天线A和垂直方向极化的天线B接收到的信号。本发明实施例利用了两根接收天线来同时测量水平和垂直方向的干扰信号，以及开关矩阵，解决了因为更换天线极化方向造成的双倍测量时间，极大的提高了测量效率。

公开(公告)号：CN204556752U

公开(公告)日：2015-08-12

申请号：CN201520225621.X

申请日：2015-04-15

申请人： 深圳市巴伦检测技术有限公司

发明人： 林幸笋 ,  魏延全

IPC分类号： G01R31/00

摘要： 本实用新型涉及电磁干扰测试技术领域，提供了一种双天线的电磁干扰测试装置和系统，其中装置包括水平方向极化的天线A、垂直方向极化的天线B、开关矩阵和EMI接收机，所述装置包括：控制所述开关矩阵分别连接其双进端口A和端口B到所述天线A和天线B，分别连接所述开关矩阵的双出端口C和端口D到所述EMI接收机的信号输入端口；控制所述开关矩阵，导通所述端口A和端口C，以及端口B和端口D，使得所述EMI接收机上能够分别显示水平方向极化的天线A和垂直方向极化的天线B接收到的信号。本实用新型实施例利用了两根接收天线来同时测量水平和垂直方向的干扰信号，以及开关矩阵，解决了因为更换天线极化方向造成的双倍测量时间，极大的提高了测量效率。