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公开(公告)号：CN119229578A
公开(公告)日：2024-12-31
申请号：CN202411227188.3
申请日：2024-09-03
Applicant: 深圳思谋信息科技有限公司 , 北京思谋智能科技有限公司
IPC: G08B13/12 , G08B13/196
Abstract: 本申请涉及一种基于电子围栏的监控方法、装置、计算机设备及存储介质。方法包括：确定电子围栏区域；获取待检测对象对应的位置信息，若位置信息满足基于电子围栏区域所设定的电子围栏规则条件，则将待检测对象作为目标对象，并生成目标对象对应的触发事件；获取目标对象对应的影像信息，根据影像信息中目标对象的实体特征，对目标对象进行标记得到目标对象对应的标签信息；生成触发事件对应的报警信息，报警信息携带有目标对象对应的标签信息。采用本申请，能够实现全面地、多维度地对监控对象的监控信息进行评估和判定，从而准确地、高效地基于电子围栏进行监控。
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公开(公告)号：CN119228832A
公开(公告)日：2024-12-31
申请号：CN202411353405.3
申请日：2024-09-26
Applicant: 深圳思谋信息科技有限公司
Abstract: 本申请涉及一种几何查找工具参数自适应方法、装置、设备及存储介质。方法包括：基于用户在样本图像上设置的目标直线与获取的宽度参数组合得到样本所需工具数量，所述宽度参数组合包括工具宽度与滤波宽度；基于所述样本所需工具数量处理所述样本图像得到最近边缘点，并基于所述样本所需工具数量与所述最近边缘点得到目标工具比例；基于所述最近边缘点与所述目标工具比例计算样本最大得分，基于所述样本最大得分确定目标工具宽度与目标滤波宽度；基于所述目标直线、所述目标工具宽度与所述目标滤波宽度计算目标边缘检测阈值、目标拟合误差阈值以及目标工具数量。采用本申请，能够实现降低设置几何查找工具参数的技术门槛与用户培训成本。
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公开(公告)号：CN118808155A
公开(公告)日：2024-10-22
申请号：CN202411055165.9
申请日：2024-08-02
Applicant: 深圳思谋信息科技有限公司 , 北京思谋智能科技有限公司
Abstract: 本申请涉及一种分选装置及检测设备，分选装置包括第一输送组件及剔分组件，第一输送组件包括第一输送部件及第二输送部件，第二输送部件位于第一输送部件的旁侧；剔分组件包括第一架体、传动环件及多个推送件，第一架体间隔架设于第一输送部件，传动环件可周向转动地设于第一架体，多个推送件间隔设于传动环件外周；推送件可运动至第一架体与第一输送部件的间隔内，用于将第一输送部件所输送的工件推入第二输送部件。任一推送件能够运动至上述间隔内，以将工件推入第二输送部件，实现工件的剔分，剔分方式简单且高效。检测设备包括上述分选装置，对剔分方式简单且高效。
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公开(公告)号：CN118799605A
公开(公告)日：2024-10-18
申请号：CN202310413559.6
申请日：2023-04-11
Applicant: 深圳思谋信息科技有限公司
IPC: G06V10/764 , G06V10/25 , G06V10/44 , G06V10/774 , G06T7/00
Abstract: 本申请涉及一种目标对象的缺陷检测方法、装置、计算机设备及存储介质。方法包括：确定目标对象图中目标对象的内部区域和边缘区域；分别对内部区域和边缘区域进行缺陷区域检测，得到内部缺陷区域和边缘缺陷区域；内部缺陷区域是内部区域中存在缺陷的区域；边缘缺陷区域是边缘区域中存在缺陷的区域；根据内部缺陷区域和边缘缺陷区域，确定目标对象图中目标对象的目标缺陷区域；对目标缺陷区域进行缺陷分类，得到目标缺陷区域的缺陷类别。采用本申请，能够提高缺陷检测的准确性。
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公开(公告)号：CN118587241A
公开(公告)日：2024-09-03
申请号：CN202410822530.8
申请日：2024-06-24
Applicant: 深圳思谋信息科技有限公司 , 北京思谋智能科技有限公司
Abstract: 本申请涉及一种运动轨迹处理方法、装置、计算机设备及存储介质，方法包括：若存在目标对象标识的对象键值对，则获取针对目标对象标识的目标拍摄设备标识的拍摄设备键值对，拍摄设备键值对的值为坐标反馈次数；将坐标反馈次数进行更新，得到更新后的坐标反馈次数；基于目标拍摄设备标识和展示拍摄设备标识的匹配结果，及更新后的坐标反馈次数和预设次数的比对结果，从轨迹关联信息中携带的目标拍摄设备标识的位置信息和展示拍摄设备标识对应的历史位置信息中确定目标位置信息；将目标位置信息对应的拍摄设备标识作为更新后的展示拍摄设备标识。采用本申请，能够实现缓解界面显示轨迹时出现持续闪烁的问题。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN118189100A
公开(公告)日：2024-06-14
申请号：CN202410514568.9
申请日：2024-04-26
Applicant: 深圳思谋信息科技有限公司 , 上海思谋科技有限公司
IPC: F21V5/04 , F21V5/08 , F21V5/00 , G03B15/02 , F21Y115/10
Abstract: 本申请涉及一种透镜组件、照明装置及视觉传感器。该透镜组件包括至少两个透镜组，透镜组包括第一透镜组和第二透镜组，第一透镜组包括两个间隔对称设置的第一透镜，第一透镜的第一表面设置有多个并排的第一偏光斜面，第一透镜的第二表面设置为第一聚光曲面，第一透镜用于提供第一角度入射光，第一角度入射光覆盖第一透镜组的高角度光照区域；第二透镜组包括两个间隔对称设置的第二透镜，第二透镜的第一表面设置有多个并排的第二偏光斜面，第二透镜的第二表面设置为第二聚光曲面，第二透镜用于提供第二角度入射光，第二角度入射光覆盖第二透镜组的低角度光照区域。该透镜组件能提供高角度照明入射光和低角度照明入射光，进而细化和加强打光能力。
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公开(公告)号：CN113591025B
公开(公告)日：2024-06-14
申请号：CN202110885650.9
申请日：2021-08-03
Applicant: 深圳思谋信息科技有限公司 , 上海思谋科技有限公司
Abstract: 本申请涉及人工智能技术领域，提供一种特征图的处理方法、装置、卷积神经网络加速器和存储介质。包括：获取多批特征图，将各批特征图依批次输入卷积运算单元进行卷积运算，得到各批特征图的卷积运算结果；将各批特征图的卷积运算结果依批次输入加法器，得到各批特征图的相加运算结果；卷积运算结果为首批特征图的卷积运算结果时，加法器将首批特征图的卷积运算结果与选择器提供的偏置相加得到首批特征图的相加运算结果；卷积运算结果为非首批特征图的卷积运算结果时，加法器将非首批特征图的卷积运算结果与选择器提供的前一批特征图的相加运算结果相加得到非首批特征图的相加运算结果，降低对加法器的控制逻辑复杂度且提高对加法器的利用率。
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公开(公告)号：CN117998080A
公开(公告)日：2024-05-07
申请号：CN202410002735.1
申请日：2024-01-02
Applicant: 深圳思谋信息科技有限公司 , 北京思谋智能科技有限公司
Abstract: 本申请涉及一种液态镜头异常检测方法、设备及计算机可读存储介质。方法包括：对液态镜头设备中的液态控制电路进行状态检测，获取电路状态信息；将电路状态信息写入到寄存器中；按照预设读取频次从寄存器中读取电路状态信息；根据每次读取的电路状态信息对状态记录值进行更新；基于更新后的状态记录值确定液态镜头设备是否出现异常。采用本方法能够提高异常检测效率。
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公开(公告)号：CN117788362A
公开(公告)日：2024-03-29
申请号：CN202211158029.3
申请日：2022-09-22
Applicant: 深圳思谋信息科技有限公司
IPC: G06T7/00 , G06T9/00 , G06V10/764
Abstract: 本申请涉及一种缺陷检测方法、系统、装置、计算机设备和存储介质。该方法包括：响应于检测请求模块的缺陷检测命令，接收待检测产品对应的图像数据，以及图像数据对应的图像特征；根据图像特征，对图像数据所表征的目标初始图像的图像格式进行重构，得到目标初始图像对应的目标检测图像；目标检测图像的图像格式为目标图像格式；利用预设的缺陷检测算法，对目标检测图像进行检测，得到待检测产品的缺陷类型。采用本方法能够通过对待检测产品的目标初始图像的图像格式进行重构，从而可以使得目标初始图像的图像格式能够被预设的缺陷检测算法进行检测，实现智能化地检测产品的缺陷类型，从而可以提高生产产线的缺陷检测效率。
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公开(公告)号：CN117237347B
公开(公告)日：2024-03-29
申请号：CN202311508026.2
申请日：2023-11-14
Applicant: 深圳思谋信息科技有限公司
Abstract: 本申请实施例公开了一种PCB板缺陷检测方法、装置、存储介质及电子设备。该方法包括：确定待检测PCB板的模版图像和实际图像之间的重合区域；其中，重合区域包括金属区域和内部非金属区域，内部非金属区域为处于金属区域内部的非金属区域；分别确定模版图像和实际图像中的金属区域之间的第一对应关系以及模版图像和实际图像中的内部非金属区域之间的第二对应关系；基于第一对应关系和第二对应关系，对重合区域进行修正得到修正区域，以使得基于修正区域对待检测PCB板进行缺陷检测。采用本申请，能够实现提高PCB板缺陷检测的准确性。
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