用于测量核孔膜的物理参数的设备和方法

    公开(公告)号:CN114873340A

    公开(公告)日:2022-08-09

    申请号:CN202210391955.9

    申请日:2022-04-14

    IPC分类号: B65H20/02 B65H23/26 B65H26/00

    摘要: 本发明的实施例涉及核径迹技术领域,尤其涉及一种用于测量核孔膜的物理参数的设备和方法。适用于但不仅限于沿预定方向连续不间断传送的核孔膜的测量,可测量核孔膜的物理参数。设备包括:夹持系统,用于夹持核孔膜以将核孔膜的待测部分稳定地保持在测量位置;测量系统,用于在夹持系统将待测部分稳定地保持在测量位置时,测量核孔膜待测部分的物理参数;传送系统,当待测部分保持在测量位置时,用于使位于设备上游和下游的核孔膜沿原定方向继续传送。设备能够对处于传送状态的核孔膜进行测量,即不影响位于设备上下游的核孔膜的传送,也无需裁剪核孔膜,是一种无损测量设备。

    非对称重离子微孔膜制作方法
    2.
    发明公开

    公开(公告)号:CN115970502A

    公开(公告)日:2023-04-18

    申请号:CN202211620756.7

    申请日:2022-12-16

    IPC分类号: B01D67/00

    摘要: 本发明涉及重离子微孔膜技术领域,尤其涉及非对称重离子微孔膜制作方法。本发明提供一种有效改善重离子微孔膜易堵塞和避免过滤速度衰减快的非对称重离子微孔膜制作方法。非对称重离子微孔膜制作方法,包括有以下步骤:S1、辐照;S2、热处理;S3、蚀刻;S4、清洗;S5、干燥。本发明通过对聚合物薄膜采用双面蚀刻,使得制作出非对称重离子微孔膜,被过滤流体从微孔的小口端进入,从大口端流出,可以减少小颗粒吸附在微孔内所致的阻塞,具有更好的过滤性能,具有更高的截留效率和更大的过滤速度,可以有效改善重离子微孔膜易堵塞的问题,避免过滤速度衰减快。

    具有图案的核孔膜的制造方法

    公开(公告)号:CN111530297A

    公开(公告)日:2020-08-14

    申请号:CN202010380890.9

    申请日:2020-05-08

    IPC分类号: B01D67/00

    摘要: 本发明公开了一种具有图案的核孔膜的制造方法,包括以下步骤:提供高分子材料薄膜;对高分子材料薄膜进行重离子辐照,以便在高分子材料薄膜中形成核径迹;对经过重离子辐照的高分子材料薄膜的至少一部分进行激光照射,以使高分子材料薄膜的至少一部分中的核径迹发生改变;对经过激光照射的高分子材料薄膜进行化学蚀刻,以便通过化学腐蚀使核径迹形成为微孔,同时在高分子材料薄膜的经过激光照射的至少一部分上和在未被激光照射的其余部分上产生不同的蚀刻效果,从而形成具有图案的核孔膜。本发明以简易、低成本且节约时间的方式制造具有图案的核孔膜,同时减少了胶黏剂和覆膜的使用,减少环境污染。