公开(公告)号：CN1981188A

公开(公告)日：2007-06-13

申请号：CN200580014351.7

申请日：2005-05-06

Applicant: 科隆迪亚戈芯片技术有限公司

Inventor： 亚历山大·德沃拉克 ,  托马斯·埃林格尔 ,  尤金·埃曼特劳特 ,  托尔斯滕·舒尔茨 ,  托马斯·乌尔里希 ,  托马斯·凯泽

IPC: G01N21/03 ,  C12Q1/68 ,  B01L3/00

CPC classification number: B01L3/502738 ,  B01L3/50851 ,  B01L7/52 ,  B01L7/525 ,  B01L2300/0636 ,  B01L2300/0654 ,  B01L2300/0816 ,  B01L2300/0819 ,  B01L2300/0864 ,  B01L2300/0877 ,  B01L2300/1827 ,  B01L2300/1838 ,  B01L2400/0481 ,  G01N21/6428 ,  G01N21/6452 ,  G01N2201/024

Abstract: 本发明涉及用于检测靶和探针分子之间的特异性相互作用的装置和方法。具体来说，本发明涉及用于定性和/或定量检测探针和靶分子之间的分子相互作用的装置，包含：a)位于底材上的微阵列，其上探针分子被固定在阵列元件，该微阵列被放置在装置的第一个表面上；以及b)在包含其上安置了的微阵列的第一个表面和第二个表面之间形成的反应室，该微阵列与第二个表面之间的距离是可变的。

公开(公告)号：CN102127595B

公开(公告)日：2013-04-17

申请号：CN201010582529.0

申请日：2005-05-06

Applicant: 科隆迪亚戈芯片技术有限公司

Inventor： 亚力山大·德沃拉克 ,  托马斯·艾林格尔 ,  尤金·埃曼特劳特 ,  托尔斯泰·舒尔茨 ,  托马斯·乌尔里希 ,  托马斯·凯泽

IPC: C12Q1/68 ,  G01N33/53

CPC classification number: B01L3/502738 ,  B01L3/50851 ,  B01L7/52 ,  B01L7/525 ,  B01L2300/0636 ,  B01L2300/0654 ,  B01L2300/0816 ,  B01L2300/0819 ,  B01L2300/0864 ,  B01L2300/0877 ,  B01L2300/1827 ,  B01L2300/1838 ,  B01L2400/0481 ,  G01N21/6428 ,  G01N21/6452 ,  G01N2201/024

Abstract: 本发明提供一用于定性和/或定量检测探针分子和靶分子之间的相互作用的装置，包含：a)底材上的微阵列，探针分子被固定在微阵列的阵列元件上，该微阵列被放置在装置的第一表面上；以及b)在放置了的微阵列的第一表面与装置的第二表面之间形成的反应室，其中，第一表面至少在该微阵列下方的区域中被构建成可以相对于第二表面指导该微阵列，以便可以改变该微阵列与第二表面之间的距离。

公开(公告)号：CN102127595A

公开(公告)日：2011-07-20

申请号：CN201010582529.0

申请日：2005-05-06

Applicant: 科隆迪亚戈芯片技术有限公司

Inventor： 亚力山大·德沃拉克 ,  托马斯·艾林格尔 ,  尤金·埃曼特劳特 ,  托尔斯泰·舒尔茨 ,  托马斯·乌尔里希 ,  托马斯·凯泽

IPC: C12Q1/68 ,  G01N33/53

CPC classification number: B01L3/502738 ,  B01L3/50851 ,  B01L7/52 ,  B01L7/525 ,  B01L2300/0636 ,  B01L2300/0654 ,  B01L2300/0816 ,  B01L2300/0819 ,  B01L2300/0864 ,  B01L2300/0877 ,  B01L2300/1827 ,  B01L2300/1838 ,  B01L2400/0481 ,  G01N21/6428 ,  G01N21/6452 ,  G01N2201/024

Abstract: 本发明提供一用于定性和/或定量检测探针分子和靶分子之间的相互作用的装置，包含：a)底材上的微阵列，探针分子被固定在微阵列的阵列元件上，该微阵列被放置在装置的第一表面上；以及b)在放置了的微阵列的第一表面与装置的第二表面之间形成的反应室，其中，第一表面至少在该微阵列下方的区域中被构建成可以相对于第二表面指导该微阵列，以便可以改变该微阵列与第二表面之间的距离。

公开(公告)号：CN102121054A

公开(公告)日：2011-07-13

申请号：CN201010585557.8

申请日：2005-05-06

Applicant: 科隆迪亚戈芯片技术有限公司

Inventor： 亚力山大·德沃拉克 ,  托马斯·艾林格尔 ,  尤金·埃曼特劳特 ,  托尔斯泰·舒尔茨 ,  托马斯·乌尔里希 ,  托马斯·凯泽

IPC: C12Q1/68

CPC classification number: B01L3/502738 ,  B01L3/50851 ,  B01L7/52 ,  B01L7/525 ,  B01L2300/0636 ,  B01L2300/0654 ,  B01L2300/0816 ,  B01L2300/0819 ,  B01L2300/0864 ,  B01L2300/0877 ,  B01L2300/1827 ,  B01L2300/1838 ,  B01L2400/0481 ,  G01N21/6428 ,  G01N21/6452 ,  G01N2201/024

Abstract: 本发明用于定性和/或定量检测探针分子和样品溶液中靶分子之间的相互作用的系统，包含：用于接收反应室的部件，其中，反应室由第一表面和第二表面之间形成，探针分子被固定在微阵列上的阵列元件上，该微阵列被放置在第一表面上；以及该微阵列与第二表面之间的距离是可变的；检测部件，它被构建成当微阵列与第二表面之间的距离减少时能够进行检测；一种工具，通过该工具可以相对于第二表面指导该微阵列。

公开(公告)号：CN1981188B

公开(公告)日：2011-02-02

申请号：CN200580014351.7

申请日：2005-05-06

Applicant: 科隆迪亚戈芯片技术有限公司

Inventor： 亚历山大·德沃拉克 ,  托马斯·埃林格尔 ,  尤金·埃曼特劳特 ,  托尔斯滕·舒尔茨 ,  托马斯·乌尔里希 ,  托马斯·凯泽 ,  拉尔夫·比克尔

IPC: G01N21/03 ,  C12Q1/68 ,  B01L3/00

CPC classification number: B01L3/502738 ,  B01L3/50851 ,  B01L7/52 ,  B01L7/525 ,  B01L2300/0636 ,  B01L2300/0654 ,  B01L2300/0816 ,  B01L2300/0819 ,  B01L2300/0864 ,  B01L2300/0877 ,  B01L2300/1827 ,  B01L2300/1838 ,  B01L2400/0481 ,  G01N21/6428 ,  G01N21/6452 ,  G01N2201/024

Abstract: 本发明涉及用于检测靶和探针分子之间的特异性相互作用的装置和方法。具体来说，本发明涉及用于定性和/或定量检测探针和靶分子之间的分子相互作用的装置，包含：a)位于底材上的微阵列，其上探针分子被固定在阵列元件，该微阵列被放置在装置的第一个表面上；以及b)在包含其上安置了的微阵列的第一个表面和第二个表面之间形成的反应室，该微阵列与第二个表面之间的距离是可变的。

公开(公告)号：CN102121054B

公开(公告)日：2013-01-30

申请号：CN201010585557.8

申请日：2005-05-06

Applicant: 科隆迪亚戈芯片技术有限公司

Inventor： 亚力山大·德沃拉克 ,  托马斯·艾林格尔 ,  尤金·埃曼特劳特 ,  托尔斯泰·舒尔茨 ,  托马斯·乌尔里希 ,  托马斯·凯泽

IPC: C12Q1/68

CPC classification number: B01L3/502738 ,  B01L3/50851 ,  B01L7/52 ,  B01L7/525 ,  B01L2300/0636 ,  B01L2300/0654 ,  B01L2300/0816 ,  B01L2300/0819 ,  B01L2300/0864 ,  B01L2300/0877 ,  B01L2300/1827 ,  B01L2300/1838 ,  B01L2400/0481 ,  G01N21/6428 ,  G01N21/6452 ,  G01N2201/024

Abstract: 本发明涉用于定性和/或定量检测探针分子和样品溶液中靶分子之间的相互作用的系统，包含：用于接收反应室的部件，其中，反应室由第一表面和第二表面之间形成，探针分子被固定在微阵列上的阵列元件上，该微阵列被放置在第一表面上；以及该微阵列与第二表面之间的距离是可变的；检测部件，它被构建成当微阵列与第二表面之间的距离减少时能够进行检测；一种工具，通过该工具可以相对于第二表面指导该微阵列。