公开(公告)号：CN111247471A

公开(公告)日：2020-06-05

申请号：CN201880068621.X

申请日：2018-10-18

Applicant: 马克思-德布鲁克-分子医学中心亥姆霍兹联合会柏林联合研究院

Inventor： 保罗·安妮贝尔 ,  马克·巴斯-彼得斯 ,  马丁·洛斯

IPC: G02B21/24 ,  G02B21/36 ,  G02B3/14

Abstract: 一种用于反馈控制显微镜设备(200)的成像系统(220)的焦点位置的显微镜自动聚焦装置(100)，其中所述成像系统(220)包括显微镜物镜(221)，所述显微镜自动聚焦装置(100)包括：监测射束源(110)，其用于产生监测射束(111)；检测器装置(120)，其用于通过感测被引导经过所述成像系统(220)到达样品(1)并被所述样品(1)反射的监测射束(111)来检测所述显微镜物镜(221)和所述样品(1)之间的轴向物距的漂移变化；以及反馈回路装置(130)，其用于依据检测到的所述显微镜物镜(221)的物距变化来控制所述成像系统(220)，其中所述显微镜自动聚焦装置(100)包括电可调透镜(140)，所述电可调透镜(140)被配置为与所述显微镜物镜(221)耦合，并且能够通过改变所述电可调透镜(140)的透镜控制输入来调节所述成像系统(220)的焦点位置，并且所述反馈回路装置(130)被布置用于通过基于变化的设定点值控制所述电可调透镜(140)的透镜控制输入来控制所述成像系统(220)的焦点位置，所述变化的设定点是通过透镜控制输入和所检测的物距变化的实际值、以及通过将检测器装置输出值分配给物距变化值和透镜控制输入值的校准数据来确定的，其中，所述校准数据被存储在与所述反馈回路装置(130)耦合的校准数据存储装置中。此外，描述了包括该显微镜自动聚焦装置(100)的显微镜设备(200)、用于操作该显微镜设备的自动聚焦方法和显微方法。

公开(公告)号：CN111247471B

公开(公告)日：2022-08-23

申请号：CN201880068621.X

申请日：2018-10-18

Applicant: 马克思-德布鲁克-分子医学中心亥姆霍兹联合会柏林联合研究院

Inventor： 保罗·安妮贝尔 ,  马克·巴斯-彼得斯 ,  马丁·洛斯

IPC: G02B21/24 ,  G02B21/36 ,  G02B3/14

Abstract: 本申请公开了显微镜自动聚焦装置、显微镜设备、用于操作显微镜设备的自动聚焦控制方法以及显微方法。显微镜自动聚焦装置用于反馈控制显微镜设备的成像系统的焦点位置，其中成像系统包括显微镜物镜，显微镜自动聚焦装置包括：监测射束源，其用于产生监测射束；检测器装置，其用于通过感测被引导经过成像系统到达样品并被样品反射的监测射束来检测显微镜物镜和样品之间的轴向物距的漂移变化；以及反馈回路装置，其用于依据检测到的显微镜物镜的物距变化来控制成像系统，其中显微镜自动聚焦装置包括电可调透镜，电可调透镜被配置为与显微镜物镜耦合，并且能够通过改变电可调透镜的透镜控制输入来调节成像系统的焦点位置。