搬送装置与电子元件检测设备
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN114367454A

    公开(公告)日:2022-04-19

    申请号:CN202110814130.9

    申请日:2021-07-19

    IPC分类号: B07C5/02 B07C5/344 B07C5/38

    摘要: 本发明提供一种搬送装置与电子元件检测设备;该搬送装置包括:一载盘,周缘布设有多个可承载电子元件的载槽;一载盘驱动机构,驱动该载盘在一搬送台面上进行间歇性旋转;该搬送台面设有一镂空区间,该载盘贴覆于该镂空区间的上方,该载盘驱动机构穿经该镂空区间与该载盘相连;其中,该载盘驱动机构不与该搬送台面接触;借此减少载盘驱动机构所发出的热向外扩散而影响电子元件。

    驱动方法、机构、模块及使用驱动机构、模块的分选机

    公开(公告)号:CN111570301A

    公开(公告)日:2020-08-25

    申请号:CN201911140597.9

    申请日:2019-11-20

    IPC分类号: B07C5/02 G01R31/01

    摘要: 本发明提供一种驱动方法、机构、模块及使用驱动机构、模块的分选机,该驱动方法:提供一微动组件,形成一矩形框体;该框体设有具弹性的簧片;该框体一侧固定,另一侧可进行微动;提供一被驱动件,设于该微动组件的可进行微动的一侧,并与该簧片连动;提供一驱动件,驱动该微动组件可进行微动的一侧,使该簧片连动该被驱动件进行往复位移;借此所形成的驱动机构、模块使用于分选机中,使被驱动件稳固的执行垂直上、下位移可减少晃动或偏转。

    电子元件分类方法及装置

    公开(公告)号:CN106607340A

    公开(公告)日:2017-05-03

    申请号:CN201610471763.3

    申请日:2016-06-24

    发明人: 高铭彬 林铭展

    IPC分类号: B07C5/00 B07C5/38

    摘要: 本发明是一种电子元件分类方法及装置,包括:一检测机构,执行一间歇旋转的电子元件搬运流路并检测电子元件的特性,该检测机构设有一测盘,该测盘周缘等距环列布设有多个容槽供电子元件容置;一第一收集区,该第一收集区设有多个第一类料盒,用以收集检测后料码归类为单数的电子元件;一第二收集区,该第二收集区设有多个第二类料盒,用以收集检测后料码归类为双数的电子元件;一第一分配装置,该第一分配装置与一第一排出管连通,该第一排出管对应该测盘其中一容槽,该第一分配装置设有一分配头,该分配头可选择性的移动对应至一分配座的多个分配管其中之一,该分配管与该第一收集区的该第一类料盒相对应;一第二分配装置,该第二分配装置与一第二排出管连通,该第二排出管对应该测盘其中一容槽,该第二分配装置设有一分配头,该分配头可选择性的移动对应至一分配座的多个分配管其中之一,该分配管与该第二收集区的该第二类料盒相对应。

    搬送装置与电子元件检测设备

    公开(公告)号:CN114367454B

    公开(公告)日:2023-08-22

    申请号:CN202110814130.9

    申请日:2021-07-19

    IPC分类号: B07C5/02 B07C5/344 B07C5/38

    摘要: 本发明提供一种搬送装置与电子元件检测设备;该搬送装置包括:一载盘,周缘布设有多个可承载电子元件的载槽;一载盘驱动机构,驱动该载盘在一搬送台面上进行间歇性旋转;该搬送台面设有一镂空区间,该载盘贴覆于该镂空区间的上方,该载盘驱动机构穿经该镂空区间与该载盘相连;其中,该载盘驱动机构不与该搬送台面接触;借此减少载盘驱动机构所发出的热向外扩散而影响电子元件。

    排料方法及装置
    5.
    发明公开

    公开(公告)号:CN111573252A

    公开(公告)日:2020-08-25

    申请号:CN201911141262.9

    申请日:2019-11-20

    IPC分类号: B65G47/88 B65G43/08

    摘要: 本发明提供一种排料方法及装置,该排料方法使一待搬送物自一载盘周缘环列布设的一载槽经一排出路径排出,并在该排出路径设置一检测单元,在检测该待搬送物已排出该载槽后,以一挡止件挡抵该排出路径;借此排出该载槽的该待搬送物可以避免被转换输入的负压吸回而受运转的该第二载盘卡住,使整个排料过程更为顺畅。

    以单、双数为准据的电子元件分类方法及装置

    公开(公告)号:CN106607340B

    公开(公告)日:2019-08-20

    申请号:CN201610471763.3

    申请日:2016-06-24

    发明人: 高铭彬 林铭展

    IPC分类号: B07C5/00 B07C5/38

    摘要: 本发明是一种以单、双数为准据的电子元件分类方法及装置,包括:一检测机构,执行一间歇旋转的电子元件搬运流路并检测电子元件的特性,该检测机构设有一测盘,该测盘周缘等距环列布设有多个容槽供电子元件容置;一第一收集区,该第一收集区设有多个第一类料盒,用以收集检测后料码归类为单数的电子元件;一第二收集区,该第二收集区设有多个第二类料盒,用以收集检测后料码归类为双数的电子元件;一第一分配装置,该第一分配装置与一第一排出管连通,该第一排出管对应该测盘其中一容槽,该第一分配装置设有一分配头,该分配头可选择性的移动对应至一分配座的多个分配管其中之一,该分配管与该第一收集区的该第一类料盒相对应;一第二分配装置,该第二分配装置与一第二排出管连通,该第二排出管对应该测盘其中一容槽,该第二分配装置设有一分配头,该分配头可选择性的移动对应至一分配座的多个分配管其中之一,该分配管与该第二收集区的该第二类料盒相对应。

    电子元件检测方法及设备
    8.
    发明公开

    公开(公告)号:CN114371352A

    公开(公告)日:2022-04-19

    申请号:CN202110815258.7

    申请日:2021-07-19

    IPC分类号: G01R31/00 G01R1/02

    摘要: 本发明提供一种电子元件检测方法及设备,包括:使一温控装置控制一检测室内的温度保持在一预设温度;使电子元件由一供给机构经一震动送料机构输送至一载盘的载槽中,并受该载盘以间歇性旋转流路搬送至一检测机构进行检测,皆在该检测室内的该预设温度下被执行;借此减少检测结果失准。

    使用载盘的搬送装置及设备

    公开(公告)号:CN111661624B

    公开(公告)日:2022-04-01

    申请号:CN202010000669.6

    申请日:2020-01-02

    IPC分类号: B65G47/82 B65G47/80 B65D19/24

    摘要: 本发明提供一种使用载盘的搬送装置及设备,设有:一载盘,设于一滑座上,可受驱动在该滑座的滑轨上作位移,该载盘在一侧的上表面设有多个长条状的置槽,该置槽中供容设被搬送物料;一拨推机构,以一龙门式的轨架跨架于该载盘上方,该轨架设有一前侧架,以及一后侧架,该前侧架、后侧架间的上方设有一横设的轨座;设有可受驱动作位移的一拨推件,该拨推件可伸入该置槽中;受驱动作位移的该拨推件可推送该置槽中的被搬送物料脱离该载盘;借此以减少被搬送物料受损。

    排料方法及装置
    10.
    发明授权

    公开(公告)号:CN111573252B

    公开(公告)日:2021-10-26

    申请号:CN201911141262.9

    申请日:2019-11-20

    IPC分类号: B65G47/88 B65G43/08

    摘要: 本发明提供一种排料方法及装置,该排料方法使一待搬送物自一载盘周缘环列布设的一载槽经一排出路径排出,并在该排出路径设置一检测单元,在检测该待搬送物已排出该载槽后,以一挡止件挡抵该排出路径;借此排出该载槽的该待搬送物可以避免被转换输入的负压吸回而受运转的该第二载盘卡住,使整个排料过程更为顺畅。