公开(公告)号：CN116107798A

公开(公告)日：2023-05-12

申请号：CN202211393645.7

申请日：2022-11-08

申请人： 三星电子株式会社

发明人： 林秀熏 ,  李起准 ,  李明奎 ,  权银喆 ,  金浩渊 ,  李钟旻

IPC分类号： G06F11/10 ,  G11C29/42

摘要： 一种存储器控制器包括纠错码(ECC)引擎和错误管理电路。ECC引擎被配置为：在读取操作期间，对所读取的码字集执行ECC解码，以生成与在所读取的码字集中所包括的用户数据集中的可纠正错误相关联的第一校验子和第二校验子；基于第一校验子和第二校验子来纠正可纠正错误；以及将第二校验子提供给错误管理电路。错误管理电路被配置为：累积与多个可纠正错误相关联的并且通过多个读取操作获得的第二校验子作为多个第二校验子，存储多个第二校验子，将多个第二校验子与错误模式集进行比较，以及基于比较来预测不可纠正错误的发生。

公开(公告)号：CN114443345A

公开(公告)日：2022-05-06

申请号：CN202110892968.X

申请日：2021-08-04

申请人： 三星电子株式会社

发明人： 金成来 ,  李起准 ,  李明奎 ,  金浩渊 ,  林秀熏 ,  赵诚慧

IPC分类号： G06F11/10 ,  G11C29/42 ,  G11C11/4078

摘要： 一种半导体存储器件包括存储单元阵列、纠错码(ECC)引擎电路、行故障检测器电路和控制逻辑电路。所述存储单元阵列包括多个存储单元行。所述控制逻辑电路控制所述ECC引擎电路以对每个所述存储单元行执行多次错误检测操作。所述控制逻辑电路控制所述行故障检测器电路使其通过累积多个缺陷存储单元行中的各个缺陷存储单元行的错误参数，来存储与在其中的每一者中检测到至少一个错误的多个码字中的每个码字相关联的所述错误参数。所述行故障检测器电路基于所述错误参数的改变次数，判定在所述多个缺陷存储单元行中的每个缺陷存储单元行中是否发生行故障。