半导体装置
    1.
    发明公开
    半导体装置 审中-实审

    公开(公告)号:CN115602685A

    公开(公告)日:2023-01-13

    申请号:CN202210429276.6

    申请日:2022-04-22

    Abstract: 公开了半导体装置。所述半导体装置包括:下沟道图案和上沟道图案,沿与基底的顶表面垂直的第一方向堆叠在基底上;下源极/漏极图案,在基底上并在下沟道图案的第一侧和第二侧;上源极/漏极图案,堆叠在下源极/漏极图案上并在上沟道图案的第三侧和第四侧;第一阻挡图案,在下源极/漏极图案与上源极/漏极图案之间;以及第二阻挡图案,在第一阻挡图案与上源极/漏极图案之间。第一阻挡图案包括第一材料,并且第二阻挡图案包括第二材料,其中,第一材料和第二材料不同。

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