公开(公告)号：CN112262490B

公开(公告)日：2025-01-03

申请号：CN201980039423.5

申请日：2019-07-18

Applicant: 三星SDI株式会社

Inventor： 李孝成 ,  朴振燮 ,  李英准

IPC: H01M10/04 ,  H01M10/0585 ,  G01B15/00 ,  H01M10/42

Abstract: 根据本发明的一个实施例的一种用于检测错位的系统包括：基准夹具，电极组件设置在基准夹具上；射束发生器，用于相对于电极组件和基准夹具的一个拐角以第一角度和第二角度照射X射线；以及计算部，用于计算电极组件的位于基准夹具的拐角处的拐角的位置坐标。

公开(公告)号：CN112262490A

公开(公告)日：2021-01-22

申请号：CN201980039423.5

申请日：2019-07-18

Applicant: 三星SDI株式会社

Inventor： 李孝成 ,  朴振燮 ,  李英准

IPC: H01M10/04 ,  H01M10/0585 ,  G01B15/00 ,  H01M10/42

Abstract: 根据本发明的一个实施例的一种用于检测错位的系统包括：基准夹具，电极组件设置在基准夹具上；射束发生器，用于相对于电极组件和基准夹具的一个拐角以第一角度和第二角度照射X射线；以及计算部，用于计算电极组件的位于基准夹具的拐角处的拐角的位置坐标。