端面研磨装置及端面研磨方法

    公开(公告)号:CN100513071C

    公开(公告)日:2009-07-15

    申请号:CN200610164586.0

    申请日:2006-12-07

    Abstract: 本发明提供以简单的结构而能够以高精度光滑地研磨棒状透镜阵列端面的端面研磨装置及端面研磨方法。本发明的端面研磨装置(1)是研磨棒状透镜阵列(2)的棒状透镜露出的端面的端面研磨装置,具备将棒状透镜阵列以端面朝向侧方的状态沿路径(P)输送的输送构件(12)和具有为接触沿路径输送的端面而夹着路径并作为相对的一对配置的转动磨具(18)的转动研磨构件,转动磨具的转轴相对于沿路径输送的棒状透镜阵列的输送方向从垂直线倾斜0到45度。

    棒状透镜阵列以及使用了棒状透镜阵列的等倍成像光学装置

    公开(公告)号:CN103885104B

    公开(公告)日:2016-03-02

    申请号:CN201310712274.9

    申请日:2013-12-20

    CPC classification number: G02B1/041 G02B3/0006 G02B3/0087 H04N1/0312 C08L33/10

    Abstract: 提供一种即使在产生了组装误差或随时间发生的变化的情况下也能将光量斑抑制到最低限度的棒状透镜阵列以及等倍成像光学装置。棒状透镜阵列的特征在于:在将R和r0的关系设为R≧r0≧0.8R,并将所述棒状透镜的折射率分布近似为n(r)2=n02{1-(g·r)2}时,用m=X0/2R定义的重叠度m在2.55以上4以下,用n0·g·r0表示的棒状透镜的开口角在0.1以上不到0.22。另外,r是自光轴的距离,n(r)表示自光轴的距离r的位置处的折射率,n0表示棒状透镜的中心折射率,g表示折射率分布常数,X0表示视野半径且X0=-r0/cos(Z0π/P),r0表示棒状透镜的有效半径,Z0表示棒状透镜的长度,P表示棒状透镜的周期长度且P=2π/g。

    棒状透镜阵列检测装置及方法

    公开(公告)号:CN101183080B

    公开(公告)日:2011-07-27

    申请号:CN200710305173.4

    申请日:2007-11-15

    Abstract: 本发明提供的是一种能够以高精度、简便且迅速地检测构成透镜阵列的各棒状透镜端面上有无瑕疵和附着污物等的不规则因素的装置和方法。具有向构成棒状透镜阵列(1)的棒状透镜第一端面,对该端面法线以角度大于棒状透镜阵列的光接收角度照射检测光的第一光源部(2),检测由棒状透镜阵列的第二端面出射光的第一光接收部(3),以及光接收部(3)检测出的光强度在规定阈值以上时,判断该棒状透镜阵列(1)为不良产品的判断部(6)。

    端面研磨装置及端面研磨方法

    公开(公告)号:CN1978132A

    公开(公告)日:2007-06-13

    申请号:CN200610164586.0

    申请日:2006-12-07

    Abstract: 本发明提供以简单的结构而能够以高精度光滑地研磨棒状透镜阵列端面的端面研磨装置及端面研磨方法。本发明的端面研磨装置(1)是研磨棒状透镜阵列(2)的棒状透镜露出的端面的端面研磨装置,具备将棒状透镜阵列以端面朝向侧方的状态沿路径(P)输送的输送构件(12)和具有为接触沿路径输送的端面而夹着路径并作为相对的一对配置的转动磨具(18)的转动研磨构件,转动磨具的转轴相对于沿路径输送的棒状透镜阵列的输送方向从垂直线倾斜0到45度。

    棒状透镜阵列以及使用了棒状透镜阵列的等倍成像光学装置

    公开(公告)号:CN103885104A

    公开(公告)日:2014-06-25

    申请号:CN201310712274.9

    申请日:2013-12-20

    CPC classification number: G02B1/041 G02B3/0006 G02B3/0087 H04N1/0312 C08L33/10

    Abstract: 提供一种即使在产生了组装误差或随时间发生的变化的情况下也能将光量斑抑制到最低限度的棒状透镜阵列以及等倍成像光学装置。棒状透镜阵列的特征在于:在将R和r0的关系设为R≧r0≧0.8R,并将所述棒状透镜的折射率分布近似为n(r)2=n02{1-(g·r)2}时,用m=X0/2R定义的重叠度m在2.55以上4以下,用n0·g·r0表示的棒状透镜的开口角在0.1以上不到0.22。另外,r是自光轴的距离,n(r)表示自光轴的距离r的位置处的折射率,n0表示棒状透镜的中心折射率,g表示折射率分布常数,X0表示视野半径且X0=-r0cos(Z0π/P),r0表示棒状透镜的有效半径,Z0表示棒状透镜的长度,P表示棒状透镜的周期长度且P=2π/g。

    棒状透镜阵列检测装置及方法

    公开(公告)号:CN101183080A

    公开(公告)日:2008-05-21

    申请号:CN200710305173.4

    申请日:2007-11-15

    Abstract: 本发明提供的是一种能够以高精度、简便且迅速地检测构成透镜阵列的各棒状透镜端面上有无瑕疵和附着污物等的不规则因素的装置和方法。具有向构成棒状透镜阵列(1)的棒状透镜第一端面,对该端面法线以角度大于棒状透镜阵列的光接收角度照射检测光的第一光源部(2),检测由棒状透镜阵列的第二端面出射光的第一光接收部(3),以及光接收部(3)检测出的光强度在规定阈值以上时,判断该棒状透镜阵列(1)为不良产品的判断部(6)。

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