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公开(公告)号:CN103234990A
公开(公告)日:2013-08-07
申请号:CN201310105079.X
申请日:2013-03-28
申请人: 上海交通大学
IPC分类号: G01N23/18
摘要: 本发明公开了一种焊缝中气孔形态及分布的无损检测新方法,该方法采用新型的Nano-CT断层成像系统对焊件进行检测,采用X射线源对焊接构件进行360°扫描,当X射线穿透焊件时会有一定程度的衰减,而穿过焊缝中气孔的X射线能量衰减会明显低于周围射线,用平板探测器接收到不同程度衰减的透射能量,从而得到多组断层扫描图像,然后对多组断层数据进行三维重构,得到焊缝中气孔缺陷的三维检测图像。本发明检测方法分辨率高、成像直观,且不受焊件材料种类、形状结构等因素的影响,能够得到焊缝中气孔三维形貌、孔径尺寸及空间分布特征等常规方法难以得到的重要信息,对于气孔的分类、缺陷评估等方面具有重要意义。