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发明公开
适用于反光不均匀物体的扫描结构光中心轮廓提取方法审中-实审

公开(公告)号：CN118670301A

公开(公告)日：2024-09-20

申请号：CN202410670377.1

申请日：2024-05-28

申请人： 上海交通大学

发明人： 蔡艳 , 浦晨阳 , 沐卫东

IPC分类号： G01B11/25 , G01B11/00

摘要： 本发明涉及一种适用于反光不均匀物体的扫描结构光中心轮廓提取方法，方法包括：S1、将彩色相机布置于被测工件上方，并倾斜设置结构激光源，在结构激光源一侧布置相同或近似角度的LED光源；S2、启动结构激光源和LED光源，进行拍摄，获得工件表面的彩色图像；S3、提取所述彩色图像的RGB通道；S4、将图像划分为不同微区，计算LED光图像的平均灰度值，乘以调节系数后作为轮廓提取阈值；S5、基于轮廓提取阈值对结构光图像的各个微区进行中心轮廓提取，将得到的微区轮廓连接并进行形态学处理，得到轮廓提取结果。与现有技术相比，本发明具有兼顾零件轮廓提取的完整性和抗干扰能力等优点。