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公开(公告)号：CN112713160B
公开(公告)日：2023-08-11
申请号：CN202011560362.8
申请日：2020-12-25
申请人： 上海奕瑞光电子科技股份有限公司
IPC分类号： H01L27/146
摘要： 本发明提供一种X射线平板探测器及其光敏单元阵列，所述光敏单元阵列包括：M×N个光敏单元，M≥2，N≥1，所有所述光敏单元包括至少两种不同灵敏度。通过在所述光敏单元阵列中设置具有至少两种不同灵敏度的光敏单元，当剂量较低时，可选用灵敏度较高的所述光敏单元组成的图像，获得较高的灵敏度；当剂量较高时，可选用灵敏度较低的所述光敏单元组成的图像，获得较宽的动态范围。从而使同一台平板探测器可同时拥有高灵敏度和宽动态范围的特性；另外，还可通过一次曝光同时获得不同灵敏度的图像；最后，基于不同灵敏度的图像，还可通过后续算法处理，进而获得更多的图像细节。
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公开(公告)号：CN116088024A
公开(公告)日：2023-05-09
申请号：CN202310081182.9
申请日：2023-01-17
申请人： 上海奕瑞光电子科技股份有限公司
IPC分类号： G01T1/20 , G01N23/046
摘要： 本发明提供一种探测器模组结构，包括PCB板、第一探测模组、支撑体及承载支架，第一探测模组位于PCB板的上方并与PCB板连接，支撑体位于PCB板的下方以支撑PCB板，承载支架包括相对设置的第一表面及第二表面，承载支架还包括一凹腔，凹腔自第一表面开口并往第二表面的方向延伸，PCB板与第一表面连接，支撑体位于凹腔内且固定于凹腔的底面。本发明的探测器模组结构能够有效避免PCB板在运行过程中较大变形及颤动现象的产生，保证光电二极管和闪烁体的空间位置精度，降低探测器模组性能不稳定而引起的整机图像质量下降的风险，而且能够减小由上述原因引起光电二极管和闪烁体粘接部位的应力变化，降低探测器模组性能丧失的风险。
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公开(公告)号：CN115471528A
公开(公告)日：2022-12-13
申请号：CN202210898626.3
申请日：2022-07-28
申请人： 上海奕瑞光电子科技股份有限公司
摘要： 本发明公开了一种双能探测器上下层图像配准方法及装置、存储介质和终端，其中方法包括：获取待配准双能上下层图像；获取待配准图像中角标记的中心位置坐标，并获取标准图像中角标记的中心位置坐标，计算所述待配准图像的缩放比例；基于缩放比例获取缩放后的待配准图像；获取缩放后的待配准图像中中心标记的中心位置坐标，并获取标准图像中中心标记的中心位置坐标，计算待配准图像的平移距离和旋转角度；基于平移距离和旋转角度对缩放后的待配准图像进行平移旋转。本发明实施简单且精度高，计算速度快，可有效的降低计算复杂度以及减少对计算机内存的需求，可以很好的将双能上下层图像中的上层图像和下层图像进行对应位置的精准重合。
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公开(公告)号：CN114886458A
公开(公告)日：2022-08-12
申请号：CN202210351651.X
申请日：2022-04-02
申请人： 上海奕瑞光电子科技股份有限公司
摘要： 本发明提供一种射线源与探测器的对准方法，包括：磁接收装置接收磁发生装置发出的磁信号并产生电信号；基于所述电信号获取磁接收装置相对于磁发生装置的目标位置坐标和目标姿态数据；基于所述目标位置坐标和所述目标姿态数据获取探测区域内中心点的中心位置坐标及X射线照射点的照射位置坐标，并基于所述中心位置坐标及所述照射位置坐标获取射线源与探测器之间的距离偏离值，以及，基于所述目标姿态数据获取射线源与探测器之间的角度偏离值；根据所述角度偏离值和所述距离偏离值实现射线源与探测器之间的对准。通过本发明提供的对准方法，解决了现有对准方法存在定位精度差、操作受到限制且客户保密性差问题。
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公开(公告)号：CN108567437B
公开(公告)日：2021-05-07
申请号：CN201710131583.5
申请日：2017-03-07
申请人： 上海奕瑞光电子科技股份有限公司
摘要： 本发明提供一种基于SiPM的自动曝光检测装置及方法、平板探测器，其中，所述基于SiPM的自动曝光检测装置应用于平板探测器中，其至少包括：SiPM传感器模块，连接于所述SiPM传感器模块的信号调理电路，连接于所述信号调理电路的迟滞比较电路，连接于所述迟滞比较电路的FPGA电路。本发明的基于SiPM的自动曝光检测装置，使用SiPM作为传感器，SiPM具有单光子检测能力，相比现有AED模块中的传感器，具有更强的光子探测能力，可以更快速的检测到X射线的变化，最大程度上实现T1和T0时刻的同步，减少剂量损失，大幅度减少甚至消除过渡带；SiPM的饱和恢复时间短至ns级，可以更快速精确地检测到曝光结束信号。
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公开(公告)号：CN115998313A
公开(公告)日：2023-04-25
申请号：CN202210802971.2
申请日：2022-07-07
申请人： 上海奕瑞光电子科技股份有限公司
摘要： 本发明提供一种多能谱X射线探测器及自动校准方法，多能谱X射线探测器包括：下盖，依次设置于所述下盖上方的支撑件、过滤层、TFT模组及上盖；所述过滤层为N个，所述TFT模组为N+1个，所述过滤层与所述TFT模组交替叠置；其中，所述下盖的外表面到最底层TFT模组的上表面之间设置有至少两个标记物，或所述上盖的外表面到最顶层TFT模组的下表面之间设置有至少两个标记物；所述标记物的材质密度与相邻物质的材质密度不同；N为等于或大于1的整数。本发明的多能谱X射线探测器不需要额外的治具进行对准校正，减少了系统成本，操作简单便捷；能应用于医疗上的双能剪影，也能应用于其他领域的能谱分辨。
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公开(公告)号：CN107037475B
公开(公告)日：2019-06-21
申请号：CN201710194883.8
申请日：2017-03-28
申请人： 上海奕瑞光电子科技股份有限公司
IPC分类号： G01T1/26
摘要： 本发明提供一种基于光敏电阻的自动曝光检测装置及方法、平板探测器，其中，所述基于光敏电阻的自动曝光检测装置应用于平板探测器中，所述平板探测器至少包括TFT层，其特征在于，所述基于光敏电阻的自动曝光检测装置至少包括：光敏电阻，其设于所述TFT层的下表面；曝光检测电路，连接于所述光敏电阻，用于实时监测所述光敏电阻的阻值，并根据所述光敏电阻的阻值变化情况输出相应的曝光控制信号，从而实现X射线自动曝光检测功能。本发明通过在平板探测器的TFT层下方设置一层光敏电阻薄膜，并通过实时监测光敏电阻薄膜的阻值大小来实现X射线自动曝光检测功能，实现了整个TFT层出光的全方位检测。
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公开(公告)号：CN108567437A
公开(公告)日：2018-09-25
申请号：CN201710131583.5
申请日：2017-03-07
申请人： 上海奕瑞光电子科技股份有限公司
摘要： 本发明提供一种基于SiPM的自动曝光检测装置及方法、平板探测器，其中，所述基于SiPM的自动曝光检测装置应用于平板探测器中，其至少包括：SiPM传感器模块，连接于所述SiPM传感器模块的信号调理电路，连接于所述信号调理电路的迟滞比较电路，连接于所述迟滞比较电路的FPGA电路。本发明的基于SiPM的自动曝光检测装置，使用SiPM作为传感器，SiPM具有单光子检测能力，相比现有AED模块中的传感器，具有更强的光子探测能力，可以更快速的检测到X射线的变化，最大程度上实现T1和T0时刻的同步，减少剂量损失，大幅度减少甚至消除过渡带；SiPM的饱和恢复时间短至ns级，可以更快速精确地检测到曝光结束信号。
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公开(公告)号：CN115856984A
公开(公告)日：2023-03-28
申请号：CN202211502650.7
申请日：2022-11-28
申请人： 上海奕瑞光电子科技股份有限公司
IPC分类号： G01T1/00
摘要： 本发明提供一种双能平板探测器，包括第一传感器、滤过单元及第二传感器，滤过单元包括滤过层及滤过支撑腔体，滤过支撑腔体支撑第一传感器，并设置有开口以放置或替换滤过层，以使客户能够根据应用场景随意更换所述滤过层，甚至客户可以自行设计滤过层，选择性多、灵活性好、不受限于探测器制造商设计，提高探测器的应用范围，节约生产及使用成本。同时根据实际需要调换合适的滤过层，实现在最佳物质分辨能力条件下，采集低能量图像和高能量图像，使图像能够反馈最大的信息量，使探测器的图像对比度更高、清晰度更高，提高检测效率，降低辐射的危害。
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公开(公告)号：CN115084175A
公开(公告)日：2022-09-20
申请号：CN202210518823.8
申请日：2022-05-12
申请人： 上海奕瑞光电子科技股份有限公司
IPC分类号： H01L27/146 , G21K1/10 , G21K3/00 , A61B6/00
摘要： 本发明提供一种多能谱滤过层，所述多能谱滤过层包括若干呈阵列排布的像素块，各所述像素块至少包括第一能谱区及第二能谱区，各能谱区对于X射线具有不同的吸收能量，且所述吸收能量大于等于0。通过本发明提供的一种对于X射线具有不同的吸收能量的多能谱滤过层，实现仅通过单次曝光即可获得不同能谱图像。
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