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公开(公告)号：CN108680285B
公开(公告)日：2024-06-07
申请号：CN201810924526.7
申请日：2018-08-14
申请人： 上海市计量测试技术研究院
IPC分类号： G01K15/00
摘要： 本发明涉及短支热电偶，属于短支热电偶检测领域。一种短支热电偶温度校验炉，其特征在于：包括中间设置有凹槽的固体的均温块，固体的均温块的中间凹槽为插入待测短支热电偶的检测区，用于测量均温块温度的控温传感器和温度显示器，所述均温块设置在校验炉的炉膛中心，炉膛四壁周围均匀环绕着加热器，使均温块受热均匀，所述加热器分为上下两段，控温传感器也包括两个，分别设置在接近均温块顶端和接近均温块底部，对底部及炉口温度分别进行监测和控制，两个控温传感器均与温度控制器相连，通过温度控制器和驱动电路分别连接上下两段加热器，温度控制器采用双段温度控制为待测短支热电偶提供均匀有效温场。
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公开(公告)号：CN108680285A
公开(公告)日：2018-10-19
申请号：CN201810924526.7
申请日：2018-08-14
申请人： 上海市计量测试技术研究院
IPC分类号： G01K15/00
CPC分类号： G01K15/005
摘要： 本发明涉及短支热电偶，属于短支热电偶检测领域。一种短支热电偶温度校验炉，其特征在于：包括中间设置有凹槽的固体的均温块，固体的均温块的中间凹槽为插入待测短支热电偶的检测区，用于测量均温块温度的控温传感器和温度显示器，所述均温块设置在校验炉的炉膛中心，炉膛四壁周围均匀环绕着加热器，使均温块受热均匀，所述加热器分为上下两段，控温传感器也包括两个，分别设置在接近均温块顶端和接近均温块底部，对底部及炉口温度分别进行监测和控制，两个控温传感器均与温度控制器相连，通过温度控制器和驱动电路分别连接上下两段加热器，温度控制器采用双段温度控制为待测短支热电偶提供均匀有效温场。
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公开(公告)号：CN116818142A
公开(公告)日：2023-09-29
申请号：CN202310784194.8
申请日：2023-06-29
IPC分类号： G01K15/00
摘要： 本发明公开了一种多点测温设备校准方法，所述方法包括将多点测温设备的各传感器触点固定置于等温块内部的测量平面上，等温块密闭后浸没入恒温槽中，用等温块稳态后的所述传感器触点位置温度推算值作为标准值校准多点测温设备，其特征在于，所述等温块沿长度方向上的各截面相同，所述测量平面与等温块长度方向垂直设置，所述等温块长度方向竖直置于恒温槽中；所述传感器触点位置温度推算值采用反距离加权插值法获得。本发明不仅能够明确和控制等温块内部温场不均匀引入的不确定度，有效提高校准测量精度，而且操作简单易行、算法简单可靠、校准效率高。
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公开(公告)号：CN115096477A
公开(公告)日：2022-09-23
申请号：CN202210941223.2
申请日：2022-08-05
申请人： 上海市计量测试技术研究院
IPC分类号： G01K15/00
摘要： 本发明公开了一种毫秒级热电偶上升时间校准装置，涉及热电偶校准技术领域。包括恒温恒速槽、弹射系统、信号处理与采集系统；恒温恒速槽底部设有电磁搅拌器、侧壁设有电加热圈及热电阻温度计；弹射系统包括导轨、滑块、压缩弹簧，滑块安装在导轨上，滑块上设有夹具用以固定被测热电偶，滑块上还设有延伸板，延伸板上固定连接芯轴；滑块移至导轨上部时，芯轴套入压缩弹簧，压缩弹簧受压缩短，定位板由手柄套住使滑块固定不向下运动；移除手柄后，定位块旋转，受压弹簧产生弹力推动滑块高速向下运动，于橡胶缓冲垫片处停止。本发明通过压缩弹簧的弹射力，使被测热电偶快速掷入介质中，减小了温度阶跃时间导致的毫秒级热电偶上升时间校准的误差。
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公开(公告)号：CN110057472A
公开(公告)日：2019-07-26
申请号：CN201910336686.4
申请日：2019-04-25
申请人： 上海市计量测试技术研究院
IPC分类号： G01K15/00
摘要： 本发明公开了一种温度传感器热响应时间测量装置及方法，包括恒温恒速水槽、支撑架、机械臂、记录仪，所述支撑架套装在恒温恒速水槽上方，机械臂安装在支撑架上，所述机械臂底端安装有温度传感器，温度传感器通过引出线与记录仪连接，所述的恒温恒速水槽包括筒体、加热线圈和保温层，加热线圈紧贴筒体外壁，被保温层包裹，所述记录仪的触发通道上设置有第一导线和第二导线，第一导线设置在恒温恒速水槽中，第二导线与被测量温度传感器的测量端连接；本发明中的热响应时间的终止时刻由数据拟合计算得出；本发明能够在较低的记录仪表时间分辨力和较短的温度阶跃时间里，获得精确的温度传感器热响应时间。
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公开(公告)号：CN106768485A
公开(公告)日：2017-05-31
申请号：CN201611089471.X
申请日：2016-12-01
申请人： 上海市计量测试技术研究院
IPC分类号： G01K15/00
CPC分类号： G01K15/005
摘要： 本发明涉及分布式光纤测温的技术领域，公开了一种用于分布式光纤测温系统的校准方法，包括利用双槽恒温槽对空间分辨率进行一次性测量并做出判定。该双槽恒温槽包括具有独立控制系统的第一恒温槽和第二恒温槽，两恒温槽之间通过中空的连接架相连，连接架的中上部开设有隔槽，待测光纤从第一恒温槽穿过隔槽延伸至第二恒温槽；该空间分辨率的一次性测量方法包括：将待测光纤末端的一段放在第一恒温槽里，与之相连的另一段穿过连接架延伸至第二恒温槽里；将第一恒温槽和第二恒温槽分别设定不同的温度，根据空间分辨率的定义测量待测光纤的空间分辨率。本发明借助双槽恒温槽实现对空间分辨率的一次性测量，节省测量时间，保障测量值的可靠性。
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公开(公告)号：CN118730342A
公开(公告)日：2024-10-01
申请号：CN202411086142.4
申请日：2024-08-08
IPC分类号： G01K15/00
摘要： 本发明公开了一种热电偶检定炉管及其使用方法，涉及热电偶校准技术领域，包括外炉管、均温块、测量端定位块、测量段调温块、控温端定位块和控温段调温块，所述均温块放置在外炉管内，所述均温块上设有控温偶孔，所述控温偶孔用于插设控温偶，所述外炉管的两端分别设置有测量端炉口和控温端炉口并分别设置有测量端定位块和控温端定位块；本发明可以在热电偶检定炉长期运行后根据其轴向温度场，灵活配置测量段调温块和控温段调温块的数量，调节外炉管与外界的传热，改善均温块内的温度场，减小热电偶校准结果的不确定度；延长检定炉使用周期，降低维修对校准工作的影响；不使用石棉，改善了检定人员工作环境。
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公开(公告)号：CN116678520A
公开(公告)日：2023-09-01
申请号：CN202310465201.8
申请日：2023-04-27
IPC分类号： G01K15/00
摘要： 本发明公开了一种低温干体式温度校准器，包括液氮杜瓦罐、恒温器；其中，所述恒温器包括圆柱形中空金属外壳、圆柱形等温块、连接组件、金属法兰顶盖、保温盖、加热棒和温控传感器；工作时，所述恒温器悬于液氮杜瓦罐内，其顶部的保温盖过盈套装于液氮杜瓦罐罐口上，液氮杜瓦罐内液氮液面不超过外壳顶面。该校准器使用液氮提供低温环境，采用准绝热式恒温器有效地降低装置本身的漏热，依靠等温块和温控系统精准的控温来保证稳定的恒温环境，从而不仅能够为待检测件提供精确可调的‑190℃～‑80℃低温温度场，而且调节温度场时液氮消耗少，能源效率高。
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公开(公告)号：CN114235214A
公开(公告)日：2022-03-25
申请号：CN202111368819.X
申请日：2021-11-18
申请人： 上海市计量测试技术研究院
IPC分类号： G01K15/00
摘要： 本发明公开了一种用于测量阶跃时间的分段导电绝缘棒，包括恒温恒速水槽，所述恒温恒速水槽内设置有分段导电绝缘棒，所述分段导电绝缘棒固定连接在滑块上，所述滑块滑动连接在导轨内，所述分段导电绝缘棒设置有第一导电套、第一导电帽、第一绝缘棒、第一导线和第二导线，所述第一导线和第二导线分别与数据采集仪的第一通道和第二通道电连接；所述第一通道和第二通道还通过第三导线和第四导线与恒压电源的输出端电连接，所述恒压电源的另一输出端与所述恒温恒速水槽内的介质水电连接；本发明利用电压信号阶跃的时刻差计算阶跃时间，为判断温度传感器动态响应校准结果是否有效，提供了一种简单、适用性广、无干扰的测量装置。
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公开(公告)号：CN110057472B
公开(公告)日：2020-06-09
申请号：CN201910336686.4
申请日：2019-04-25
申请人： 上海市计量测试技术研究院
IPC分类号： G01K15/00
摘要： 本发明公开了一种温度传感器热响应时间测量装置及方法，包括恒温恒速水槽、支撑架、机械臂、记录仪，所述支撑架套装在恒温恒速水槽上方，机械臂安装在支撑架上，所述机械臂底端安装有温度传感器，温度传感器通过引出线与记录仪连接，所述的恒温恒速水槽包括筒体、加热线圈和保温层，加热线圈紧贴筒体外壁，被保温层包裹，所述记录仪的触发通道上设置有第一导线和第二导线，第一导线设置在恒温恒速水槽中，第二导线与被测量温度传感器的测量端连接；本发明中的热响应时间的终止时刻由数据拟合计算得出；本发明能够在较低的记录仪表时间分辨力和较短的温度阶跃时间里，获得精确的温度传感器热响应时间。
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