电池检测装置、方法、电子设备及存储介质

    公开(公告)号:CN115480174A

    公开(公告)日:2022-12-16

    申请号:CN202211245533.7

    申请日:2022-10-12

    Abstract: 本申请提供一种电池检测装置、方法、电子设备及存储介质,该电池检测装置包括:数据分析模块以及具有通道切换子模块和数据采集子模块的测试模块。数据采集子模块与通道切换子模块连接,并用于采集目标电池数据;其中,目标电池数据包括目标电池的交流内阻和开路电压。通道切换子模块的测试通道与目标电池连接,并用于在目标电池数据采集完成后切换至下一测试通道。数据分析模块与数据数据采集子模块连接,并用于根据交流内阻和开路电压判断目标电池是否微短路。通过本申请实施例提供的电池检测装置检测电池是否存在微短路,不但不会损伤电池,还能够以较高的检出率实现微短路检测。

    一种高强度固态电解质膜

    公开(公告)号:CN112768764B

    公开(公告)日:2022-06-24

    申请号:CN202110021502.2

    申请日:2021-01-08

    Abstract: 本发明涉及固态电解质领域,具体涉及一种高强度固态电解质膜,以聚烯烃膜为主体且主体嵌有连续导锂通道。本发明提供的高强度固态电解质膜以聚烯烃为主体框架,将导锂材料弥散在主体各维度空间中以形成连续导锂通道,无需电解液即实现锂离子的传导,强度高,加工性能好,可通过拉伸控制固态电解质膜厚度,有利于根据实际需求制备相应厚度和强度的复合电解质膜。

    多功能复合型低温隔膜以及其制备方法

    公开(公告)号:CN119108758A

    公开(公告)日:2024-12-10

    申请号:CN202411218035.2

    申请日:2024-09-02

    Abstract: 本发明的多功能复合型低温隔膜,包括:一基膜及一混合涂层,混合涂层形成于基膜的至少一侧,且混合涂层包含抗枝晶材料及固态电解质;或包括:一基膜、一第一涂层、以及一第二涂层,第一涂层包含抗枝晶材料,第二涂层包含固态电解质;其中,第一涂层形成于基膜的一侧,第二涂层形成于基膜的另一侧;或第一涂层形成于基膜的一侧,第二涂层形成于第一涂层相对于基膜的一侧;或第二涂层形成于基膜的一侧,第一涂层形成于第二涂层相对于基膜的一侧。于本发明,通过抗枝晶材料及固态电解质间的协同作用,使锂电池低温放电与低温循环均获得进一步的提升。此外,本发明尚提出上述多功能复合型低温隔膜的制备方法。

    隔膜以及制备方法、电池、用电装置

    公开(公告)号:CN118431678A

    公开(公告)日:2024-08-02

    申请号:CN202410489753.7

    申请日:2024-04-23

    Abstract: 本申请涉及电池技术领域,涉及一种隔膜以及制备方法、电池、用电装置。该隔膜包括基膜。基膜具有第一表面和相对的第二表面;第一表面设置有固态电解质层;第二表面设置有胶黏剂层;固态电解质层完全覆盖第一表面;胶黏剂层覆盖第二表面的部分区域。上述方案,固态电解质层完全覆盖第一表面,可以在电池负极(低电位)发生原位固化反应,在电解液和Li原子的作用下和负极界面产生分子层面的粘连,提高电池内的空间利用率,减少电池中电解液的用量。胶黏剂层覆盖第二表面的部分区域,减少了胶黏剂的用量和施胶范围,增加了隔膜同正负极的摩擦力和粘结力,减少了电解液的用量,降低了隔膜透气度,从而能够降低电池的整体内阻,提高电池循环性能。

    测试隔膜热收缩参数的装置与方法

    公开(公告)号:CN117169279A

    公开(公告)日:2023-12-05

    申请号:CN202311125750.7

    申请日:2023-09-01

    Abstract: 本发明有关一种测试隔膜热收缩参数的装置,包含:主体;第一凹槽,是形成于主体的一侧,并与主体间界定有第一容置空间,用以供电解液、以及隔膜容置;压板,是与隔膜相对应地设置,以可选择地与隔膜的一侧连接,并使隔膜的另一侧与第一凹槽接触;至少一下压杆,是枢设于主体上,并与压板相对应地设置,以可选择地对压板加压,并使压板对隔膜施予压力;以及加热装置,是与隔膜相对应地设置,以可选择地对隔膜加热。具体而言,本发明可模拟隔膜于实际电池内部的测试环境,以取得精准的隔膜参数的测试结果。

    一种多孔薄膜闭孔温度的测试计算方法

    公开(公告)号:CN108562608B

    公开(公告)日:2022-09-02

    申请号:CN201810223856.3

    申请日:2018-03-19

    Abstract: 本发明提供一种多孔薄膜闭孔温度的测试计算方法,所述测试计算方法至少包括:首先,提供多孔薄膜,将所述多孔薄膜置于温度升高的环境中,测试升温过程中所述多孔薄膜的长度;然后,将所述长度对温度求一阶导数,再以所述一阶导数为纵轴、所述温度为横轴绘制曲线,所述曲线中沿所述横轴方向出现的第一个峰所对应的温度值为所述多孔薄膜的闭孔温度。利用本发明的测试计算方法可以成功获得多孔薄膜的闭孔温度,而且该方法简单、速度快、结果精确、对环境友好。

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