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公开(公告)号：CN106556819B
公开(公告)日：2019-07-19
申请号：CN201610957290.8
申请日：2016-10-27
Applicant: 上海无线电设备研究所
IPC: G01S7/02
Abstract: 本发明公开了一种太赫兹波段低散射目标支架，包含以下步骤：确定初始制作目标支架的材料及形状；通过仿真计算，获取目标支架表面最大加工误差与反射率误差关系模型；根据确定的初始制作目标支架的材料及形状，制作对应的目标支架模型；利用太赫兹时域光谱系统对目标支架模型进行反射率测试，获取目标支架模型的反射率与太赫兹频率关系图；对目标支架模型的反射率与太赫兹频率关系图进行结果分析，确定最终制作目标支架的材料及形状。本发明的制作方法简单，制作的材料在太赫兹波段有较低的反射率，目标支架表面加工粗糙度满足测量要求，目标支架反射很小，解决了太赫兹波波段目标电磁散射测试目标支撑的问题。
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公开(公告)号：CN106199543A
公开(公告)日：2016-12-07
申请号：CN201610475379.0
申请日：2016-06-24
Applicant: 华中科技大学 , 上海无线电设备研究所
IPC: G01S7/41
CPC classification number: G01S7/412
Abstract: 本发明公开了一种雷达散射截面的测量装置。所述测量装置包括电学太赫兹源、第一太赫兹透镜、分束镜、目标支撑底座、第二太赫兹透镜、太赫兹探测器以及数据收集装置；所述电学太赫兹源、第一太赫兹透镜、分束镜以及目标支撑底座依次设置于第一方向上；所述分束镜、第二太赫兹透镜以及太赫兹探测器依次设置于第二方向上，所述太赫兹探测器的输出端连接所述数据收集装置的第一输入端。本发明利用一个分束镜即可实现目标体表面散射的太赫兹波的方向与太赫兹探测器接收方向的完全一致，简化了现有的测量装置的结构，减少了测量误差。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN106501793B
公开(公告)日：2019-03-08
申请号：CN201610948536.5
申请日：2016-10-26
Applicant: 上海无线电设备研究所
IPC: G01S7/497
Abstract: 一种校准平板定标体与太赫兹光束夹角的装置和方法，校准平板定标体与太赫兹光束夹角的装置包含目标支架底座，其包含水平平移台和垂直平移台，转台设置在目标支架底座上，俯仰台设置在转台上，将平板定标体放置在校准平板定标体与太赫兹光束夹角的装置上，移动水平平移台测量平板定标体与太赫兹光束之间的方位角偏差，移动垂直平移台测量平板定标体与太赫兹光束之间的俯仰角偏差，利用转台补偿方位角偏差，利用俯仰台补偿俯仰角偏差，将平板定标体与太赫兹光束的角度校准为正交姿态。本发明通过平移台移动目标以确定参数从而校准平板定标体与太赫兹光束夹角，节省了校准时间，降低了校准成本。
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公开(公告)号：CN106556819A
公开(公告)日：2017-04-05
申请号：CN201610957290.8
申请日：2016-10-27
Applicant: 上海无线电设备研究所
IPC: G01S7/02
Abstract: 本发明公开了一种太赫兹波段低散射目标支架，包含以下步骤：确定初始制作目标支架的材料及形状；通过仿真计算，获取目标支架表面最大加工误差与反射率误差关系模型；根据确定的初始制作目标支架的材料及形状，制作对应的目标支架模型；利用太赫兹时域光谱系统对目标支架模型进行反射率测试，获取目标支架模型的反射率与太赫兹频率关系图；对目标支架模型的反射率与太赫兹频率关系图进行结果分析，确定最终制作目标支架的材料及形状。本发明的制作方法简单，制作的材料在太赫兹波段有较低的反射率，目标支架表面加工粗糙度满足测量要求，目标支架反射很小，解决了太赫兹波波段目标电磁散射测试目标支撑的问题。
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公开(公告)号：CN106501793A
公开(公告)日：2017-03-15
申请号：CN201610948536.5
申请日：2016-10-26
Applicant: 上海无线电设备研究所
IPC: G01S7/497
CPC classification number: G01S7/497
Abstract: 一种校准平板定标体与太赫兹光束夹角的装置和方法，校准平板定标体与太赫兹光束夹角的装置包含目标支架底座，其包含水平平移台和垂直平移台，转台设置在目标支架底座上，俯仰台设置在转台上，将平板定标体放置在校准平板定标体与太赫兹光束夹角的装置上，移动水平平移台测量平板定标体与太赫兹光束之间的方位角偏差，移动垂直平移台测量平板定标体与太赫兹光束之间的俯仰角偏差，利用转台补偿方位角偏差，利用俯仰台补偿俯仰角偏差，将平板定标体与太赫兹光束的角度校准为正交姿态。本发明通过平移台移动目标以确定参数从而校准平板定标体与太赫兹光束夹角，节省了校准时间，降低了校准成本。
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公开(公告)号：CN105390909A
公开(公告)日：2016-03-09
申请号：CN201510739915.9
申请日：2015-11-04
Applicant: 上海无线电设备研究所 , 上海理工大学
IPC: H01S1/02
CPC classification number: H01S1/02
Abstract: 本发明公开了一种基于具有微纳结构的本征半导体层的太赫兹源及制备方法，该太赫兹辐射源是基于肖特基二极管结构的器件，该器件包括由上至下依次设置的：带有一个毫米级大小的窗口的第一金属电极；透明或半透明的肖特基接触层；具有微纳结构的本征半导体层；缓冲层；衬底、欧姆接触层，及，第二金属电极；该本征半导体层为III-V族高电子迁移率的化合物半导体层；该衬底为N型或P型重掺杂的高电子迁移率的半导体层。本发明的器件结构简单，技术成熟，能够使太赫兹辐射在0.5~3.0 THz 范围内辐射强度提高近10 dB；能够为太赫兹时域光谱技术在爆炸物、毒品及细菌病毒检测、生物活体成像及分析等应用领域提供廉价、高效、可室温工作的太赫兹辐射源。
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公开(公告)号：CN206057556U
公开(公告)日：2017-03-29
申请号：CN201620956402.3
申请日：2016-08-26
Applicant: 上海无线电设备研究所
Abstract: 本实用新型公开了一种太赫兹波束单站分束装置，用于对入射线偏振平面太赫兹波束进行分束，以对目标进行单站雷达散射截面测量，该太赫兹波束单站分束装置包含：一太赫兹偏振片及一太赫兹四分之一波片；太赫兹偏振片与入射线偏振平面太赫兹波束的传播方向的夹角为45°；太赫兹四分之一波片与入射线偏振平面太赫兹波束的传播方向垂直；目标放置在被透过太赫兹四分之一波片的太赫兹波束照射的区域内，并且太赫兹四分之一波片位于太赫兹偏振片与目标之间。本实用新型还公开了一种太赫兹波段单站雷达散射截面测量系统。本实用新型中发射端到接收端的传输效率高、传输路径短。
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